spc統(tǒng)計(jì)程序控制講義(文件)
【正文】 以縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時(shí)間間隔； 5. 用計(jì)量型數(shù)據(jù)，可以分析一個(gè)過程的性能，可以量化所作的改進(jìn)，即使每個(gè)單值都在規(guī)范限界之內(nèi)。 選擇控制圖的刻度 對于 X 圖： 坐標(biāo)上的刻度的最大值與最小值之差至少為子組均值的最大值與最小值的 2 倍。 SL：規(guī)范界限 當(dāng) Cp 1 能力不合格； 當(dāng) Cp 1 能力合格； Statistical Process control NO:LLCts05 11 ＾ ＾ CPU=（ USL – X） /（ 3σ R/d2） CPL=（ X LSL） /（ 3σ R/d2） Cpk =Zmin/3=CPU 或 CPL的最小值 評價(jià)過程能力 基本目標(biāo)：對過程的性能進(jìn)行持續(xù)改進(jìn)，首先應(yīng) 考慮的是哪些過程應(yīng)優(yōu)先獲得注意。 分析用控制圖與控制用控制圖異同點(diǎn)： 分析用 控制用 計(jì)算控制界限 需 無 收集樣本 至少 25 件 1件樣本 分析時(shí)間 25 件以后 每件以后 目 的 了解狀態(tài)是否受控； 能力能否滿足 保持狀態(tài) END 。 提高過程能力 必須重視減少普通原因。 將均值和極差畫到控制圖上 Statistical Process control NO:LLCts05 9 B. 計(jì)算控制限 計(jì)算 R 及 X = R1 + R2+ … +RK R K = X1 + X2 + … + XK X K 計(jì)算控制限 UCLR=D4R LCLR=D3R UCLX=X ＋ A2R LCLX=X － A2R 在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線 Ｃ . 過程控制解釋 Ｃ .1 分析用控制圖受控狀態(tài)的判斷準(zhǔn)則： ┈ 連續(xù) 25 個(gè)點(diǎn)都在控制界限內(nèi)，或 ┈ 連續(xù) 35 個(gè)點(diǎn)中，在控制界限外的點(diǎn)不超過 1個(gè)點(diǎn)，或 ┈ 連續(xù) 100 個(gè)點(diǎn)中，在控制界限外的點(diǎn)不超過 2個(gè)點(diǎn)，且 ┈ 點(diǎn)子無非隨機(jī)排列。 建立控制圖及記錄原始數(shù)
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