【正文】 ? 控制界限： 區(qū)分正常波動與異常波動 α β UCL LCL ?第 Ⅰ 類錯誤（ α）：虛發(fā)警報 ?第 Ⅱ 類錯誤（ β）：漏發(fā)警報 兩類錯誤 ?兩類錯誤都會造成損失 ?上下控制限間距變大： α減小， β增大 ?上下控制限間距變?。? α增大， β減小 ?間距的設(shè)定尋求二者的均衡點(diǎn)（ 3 σ） 兩類錯誤 控制圖設(shè)計思想 ●先確定 α ，再看 β 按照 3σ方式確定 UCL、 CL、 LCL， α0 =% 通常采用 α =1%， 5%， 10%三級，為了增加使用者的信心，取 α =%。 計量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關(guān)的控制圖 計量單位：（ mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。 使不必要的變差最小 確保過程按預(yù)定的方式運(yùn)行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注： 應(yīng)在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的過程分析。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。 2 計算控制限 3 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個負(fù)值。 ? 對各條線標(biāo)上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗(yàn)控制限。 9 注 2： 因?yàn)樽咏M極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應(yīng)分析 R圖。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個子組更改刪除）。 32 識別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖） a 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個過程操作 分析，從而確定該原因并改進(jìn)，防止再發(fā)生。 修改后的 R 和 X 可用于重新計算均值的試驗(yàn)控制限， X 177。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個 控制限內(nèi) ， 或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等 。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進(jìn)行 過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 動的響應(yīng)）。 36 重新計算控制限（均值圖） 在進(jìn)行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點(diǎn)，然后重新計算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 總結(jié)：過程異常判斷準(zhǔn)則 ? 出現(xiàn)超出控制線的點(diǎn) ? 存在鏈（ Run)： – 連續(xù)七個點(diǎn)全在控制限之上或之下， – 連續(xù)七個點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降 ? 任何其他明顯非隨機(jī)的圖形，例如： – 顯著多于 2/3以上的點(diǎn)落在均值很近之處（ 25組有超過 90%的點(diǎn)落在控制限 1/3區(qū)域） – 顯著少于 2/3以上的點(diǎn)落在均值很近之處（ 25組有等于或少于 40%的點(diǎn)落在控制限 1/3區(qū)域） 以下控制圖理論為選學(xué)內(nèi)容 根據(jù)時間確定 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（ Xs圖） 一般來講 ， 當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時用 S圖代替 R圖： a 數(shù)據(jù)由計算機(jī)按設(shè)定時序記錄和 /或描圖的 ， 因 s的計算程序 容易集成化 。 注： s 圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的 X圖的相同。見下表： 當(dāng)需要計算過程能力時；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。 8 13 將每個子組的單值描在圖中一條垂直線上，圈上子組的中位數(shù)， 9 并連接起來。 4 過程能力的分析 （同 XR） 5 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： 6 δ= R / d2 7 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ的估計值來評價過程 8 能力。 14 54 找出超過極差控制限的點(diǎn) 15 操作者與每個子組的最大標(biāo)記點(diǎn)和最小標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行比較，用窄垂直框圈上超出膠片控制限的子組。 11 移動圖的三中用法： a 單值 b 移動組 c 固定子組 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） 21 在數(shù)據(jù)圖上 ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 24 移動極差圖 （ MR） 的刻度間隔與 X 圖一致 。見下表： 注 ： 只有過程受控，才可直接用 δ的估計值來評價過程能力 。 子組數(shù)量： 收集的時間足夠長 ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。 8114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點(diǎn) ， 連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 3 P ( 1 – P ) / n = P 177。 81311 超出控制限的點(diǎn) a 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計算錯誤或描點(diǎn)時描錯 。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進(jìn)。 b 一般情況，各點(diǎn)與均值的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。 8133 重新計算控制限 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計算控制限。 8222 記錄表上記錄樣本的容量。 832 數(shù)據(jù)的收據(jù) 8321 檢驗(yàn)樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度 等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 C和 n都應(yīng) 記錄在數(shù)據(jù)表中。 833 計算控制限 8331 計算過程不合格數(shù)均值（ C）： C = (C1+C2+…+Ck) / K 式中： C1, C2, … Ck為每個子組內(nèi)的缺陷數(shù) 8331 計算控制限 U/LSLc= C177。 8231 計算上下控制限 USLnp=np + 3 np(1p) LSLnp=np 3 np(1p) p 為過程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 8212 各階段子組的樣本容量相同。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對于 25 子組，如果只有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域）則應(yīng)對下列 情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)計算錯描錯 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量 8132 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)有任何變差時，應(yīng)立即進(jìn)行分析，以便識別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗(yàn)人或新的量具 過程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： 過程性能已改進(jìn) 測量系統(tǒng)的改好 注：當(dāng) np 很小時 （ 5以下 ） ， 出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加 ， 因此有必要用長度為 8點(diǎn)或更多的點(diǎn)的長鏈作為不合格 品率降低的標(biāo)志 。 過程惡化。 (初始研究時 ， 這些被認(rèn)為是試驗(yàn)控制限 。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍 的子組。 812 計算控制限 8121 計算過程平均不合格品率 （ P） P=（ n1p1+n2p2+…+ nkpk） / (n1+n2+…+ nk) 式中： n1p1； nkpk 分別為每個子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1； nk為每個子組的檢驗(yàn)總數(shù) 8122 計算上下控制限（ UCL； LCL） UCLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LCLp = P – 3 P (