spc質(zhì)量管理教材(文件)
【正文】 (UCL)(CL)=Xi+1 i移動極差測量值為組數(shù)85S P CQualitechLimited.計算過程均值XjKX每子組的單值和過程均值子組數(shù)87S P CQualitechLimited.計算單值圖控制限UCL = X + E MRX 2LCL = X – E MRX 2常數(shù)單值圖控制 上限單值圖控制下限89S P CQualitech=MR4MRLCLDLimited.XMR圖常數(shù)表n 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 Limited.練 習(xí)92S P CQualitechLimited.控制界限的更換篇XChartX R Chart94S P CQualitechConsultancyLimited.使用新的設(shè)備：新設(shè)備的使用可能導(dǎo)致過程位置和分布發(fā)生變化，這種變化可能使原有控制規(guī)格不再適用。 98S P CQualitechConsultancyLimited.分析過程能力篇XChartX R Chart101S P CQualitechLimited.計算穩(wěn)定過程能力指數(shù) CPCP USLLimited.常數(shù)表n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d 2104S P CQualitechLSL USLConsultancyLimited.練 習(xí)107S P CQualitechLimited.109S P CQualitech果 說 Limited.計數(shù)值控制圖用來控制不可以用計量數(shù)據(jù)度量的特性，通常而言，用于合格與不合格，通過與未通過，良品與不良品等。ConsultancyConsultancyConsultancyLimited. 練 習(xí)根據(jù)下列數(shù)據(jù) ,作出 P圖118S P CQualitechLimited.Upper(UCL)CenterConsultancy(LCL)超出控制下限121S P CQualitechLimited.Upper(UCL)CenterConsultancy(LCL)連續(xù)七點下降124S P CQualitechLimited.控制界限的更換篇P，經(jīng)過改善 過程重新受控后，127S P CQualitechChart128S P CQualitechLimited.根據(jù)計算出的過程能力指數(shù)可以直觀評價過程能力，如能達(dá)到 6σ 標(biāo)準(zhǔn) ,則過程不合格率為 PPMP圖的過程能力的度量指數(shù)為 P130S P CQualitechLimited.謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH。Limited.附錄 : 常數(shù)表X R Charts X S ChartsX Chart R Chart X Chart S ChartSubgroupSizeFactorforControlLimitDivisor forEstimateofStandardDeviation Factor forControl LimitFactorforControlLimitDivisor forEstimateofStandardDeviation Factor forControl Limitn A2 d2 D3 D4 A3 c4 B3 B42 3 4 5 6 7 8 9 10 131S P CQualitechLimited.P圖分析過程能力的前提條件：過程受控測量系統(tǒng)可接受129S P CQualitechLimited.分析過程能力篇PConsultancyLimited.數(shù)據(jù)點連續(xù)上升或下降的原因可能有 :測量系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)生變化過程性能已發(fā)生變化125S P CQualitechLine(CL)LowerControlLimitControlLimitLimited.數(shù)據(jù)點超出 P 控制圖上下限的可能原因 :控制界限計算錯誤描點錯誤測量系統(tǒng)變化過程不合格率上升上述原因中，只有最后原因是與過程能力相關(guān)的變化特殊原因 ,其余均為人為錯誤造成122S P CQualitechLine(CL)LowerControlLimitControlLimitLimited.分析 P 控制圖119S P CQualitech(LCL)典型的 P 圖117S P CQualitechConsultancyConsultancyConsultancy明指數(shù)＞ 滿足客戶要求 ,可按控制計劃執(zhí)行生產(chǎn) .≤ 指數(shù) ≤ 目前可接受 ,但仍須改進(jìn).指數(shù)＜ 該過程目前不能滿足客戶要求 , 仍須改進(jìn) .注 :CPK只能用于穩(wěn)定過程110S P CQualitechLimited.對能力分析的解釋 ……結(jié) Limited.108S P CQualitechX3^ σ Ｓ最小值^ σ Ｓ = X∑ i=1n （ Xi ）n12式中106S P CQualitechLimited.計算過程實際能力指數(shù) CPK ，（它考慮了過程輸出平均值的偏移）CPK 3^ σXLSL6^ σ R /d2規(guī)格上限規(guī)格上限常數(shù)103S P CQualitechLimited.分析過程能力的前提：過程必須受控服從正態(tài)分布測量系統(tǒng)可接受102S P CQualitech100S P CQualitechLimited.對過程普通原因進(jìn)行改善后：過程能力的提高是與引起過程變異的普通原因的消除緊密相關(guān)，在對過程能力改善后，過程均值更接近目標(biāo)值，過程變異變小，舊有控制規(guī)格已不再適用。Consultancy96S P CQualitechLimited.控制界限建立以后并非一成不變，因為過程永遠(yuǎn)是處于波動的，因此控制界限需定期檢討，以判斷是否需要更
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