spc統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制技術(shù)管制(文件)
【正文】 μ+ 3σ 管制圖之演變 8 UCL CL LCL X管制圖 time 8 9 10 11 點(diǎn)出界判異 9 異常原因區(qū)分 ? 偶因 random cause(不影響整體品質(zhì)，不易查明原因 ) ? 異因 assignable cause(可查明原因 ) ? 品質(zhì)因素 可分為 4M1E(人為、機(jī)具、材料、方法、環(huán)境 )等五方面。 → 日常管理 → 判異原則 → 發(fā)現(xiàn)異常 → 查出異因採(cǎi)取措施保證消除不再出現(xiàn)納入標(biāo)準(zhǔn)。 21m inm ax111dRXRmRxxRXmXRDLCLRRCLRRDUCLRRAXxLCLXxCLRAXxUCLmiiiiimii3422?????????????????????※ 範(fàn)例說(shuō)明 ※ 15 XRm管制圖 個(gè)別值移動(dòng)全距管制圖， n=1,N=25組數(shù) 據(jù) UCL,CL,LCL ，對(duì)於超出管制界限者，找出原因改善予以剔除。 Performance Index M T/2 u 17 TL TU TL TU TL TU Cp Cp= Cp 製程能力指數(shù)評(píng)量標(biāo)準(zhǔn) Cp(k) I級(jí) 製程能力過(guò)高 C
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