spc基礎理論(文件)
【正文】 u 太佳制程能力太好 ,可酌情縮小規(guī)格 ,或考慮化管理與降低成本 . 2 Cpk≧ Sl Su 合格理想狀態(tài) ,繼續(xù)維持 . 3Cpk≧ Sl Su 警告使制程保持於管制狀態(tài) ,否則產(chǎn)品隨時有發(fā)生不良品的危險 ,需注意 . 4 Cpk≧ Sl Su 不足產(chǎn)品有不良品產(chǎn)生 ,需作全數(shù)遷別 ,制程有妥善管理及改善之必要 . 5 Cpk Sl Su 非常不足應採取緊急措施 ,改善品質(zhì)並追究原因 ,必要時規(guī)格再作檢討 .ssss(一 )建立解析用管制圖 在制程中選擇對產(chǎn)品品質(zhì)特性有重要影響之要因 或重要品質(zhì)特性作為管制項目 . 搜集最近之數(shù)據(jù) 100 個以上 ,對這些數(shù)據(jù)之來源 充分了解 ,並要求以后之制程條件需與搜集數(shù)據(jù)時 相同 .三 . XR 管制圖 ,排列數(shù)據(jù) n 表示每組樣本 ,k為樣本組 ,分組法與層別有關 , 普通按時間順序或測定順序分組 ,使組內(nèi)不含異質(zhì) 數(shù)據(jù) n = 2 ~5 ,全距 ,總平均值 ,全距平均值 ,點圖操作實例 : :中心距 /按時間排列 /分組 : ,全距 ,總平均值 ,全距平均值X 管制圖 CL X = XUCL X = X + A2* RLCL X = X A2* R CL R = RUCL R = D4* RLCL R = D3 *RR 管制圖例 :管制上限 總平均值 管制下限 ,點圖 ,則可用作建 立制程管制用管制圖 ,則應調(diào)查原因 ,並加以消除 , 然后剔除這些點之數(shù)據(jù) ,再用剩余數(shù)據(jù) ,重新計算
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鄂ICP備17016276號-1