【正文】 –individualtheequation“Term(PpkCpk值 (製程能力指數 )表示之3/16/2023圖示法制程能力的初步判定圖示法制程能力的初步判定中心值位置 分散寬度 分佈形狀大小 → 大小 → 大小 →由製程中收集 100個以上的數據，做成次數分配圖或直方圖，由圖形的 中心值位置 、 分散寬度 、 分佈形狀 可簡單判定製程能力3/16/2023數值法制程能力分析數值法制程能力分析? 製程準確度 Ca(CapabilityXuCa=*100%=規(guī)格上限 規(guī)格下限集中趨勢集中趨勢3/16/2023Ca值的等級判定值的等級判定Ca值是負值 實績平均值較規(guī)格中心值偏低Precision)衡量自產品中所獲得產品資料的 6個估計 實績標準差 (σ),與規(guī)格公差 (T)其間 相差的程度 ,是期望製程中生產的每個產品以規(guī)格中心值為目標，其 變異寬度 愈小愈好，換言之，即在衡量 規(guī)格公差範圍與製程變異寬度 兩者間相差程度(1)Cp之計算方式如下：規(guī)格公差6個估計實績標準差 =T6σCp=3/16/2023 132Cp值的等級判定)愈多，CpB Cpσ級6σ級6σ級規(guī)格中心值 規(guī)格上限規(guī)格下限CpCpCp10=σ3/16/2023 134制程能力指數制程能力指數 = │CaCa=值計之集中趨勢集中趨勢 離散趨勢離散趨勢3/16/2023(3)CpkCa)6σ級6σ級6CpkCpk T=σT6 T： ：估計標準差：估計標準差制程能力指數制程能力指數 .d2規(guī)格上限 LSL：制程總平均值 ? Ppk量試階段的『能力指數』、量試階段的『能力指數』、 某一產品長期監(jiān)控下的『能力指數』某一產品長期監(jiān)控下的『能力指數』 ofusingsquares值 169。=或3. =5. Xσ3/16/2023USLLSL{Z若若 則表示制程總平均值落在規(guī)格界限外，則表示制程總平均值落在規(guī)格界限外值可用於估計制程超出規(guī)格界限之不良率，參〈附錄〉 σXZ= USL= XσShortTerm3/16/2023 1452./=169。與顧客需求作比較●Z如：機器性能、輸入材料的一致性、制程操作認改善的效益3/16/2023某公司希望能預測其產品厚度之範圍，試問應如何下手？及考慮那些因素？ 52　 46　 50　 51　 49參考此數據若在 sFMEA3/16/2023 154謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH。實例演練實例演練3/16/2023 149實例演練實例演練3/16/2023 1503/16/2023 1513/16/2023 1523/16/2023 153謝謝 !THANKS！PDCA 的質量目標，請問該公司工程部對成品的規(guī)格公差如何訂定？X51　 50　 50　 48　 5253　 ●分析與繪圖以控制改善『後制程』分析與繪圖以控制改善『後制程』●制程能力改善制程能力改善訂定制程能力改善目標 3.=雙邊規(guī)格： USL3Z或值計算制程能力指數 TermShortLSLX表計算超出規(guī)格的機率X USL3/16/2023 143ZBenchZBench是上、下界實際缺點預測數目的計算 .利用計算 ZLSL,經查表可得相對應的缺點機率 .同樣的 ZUSL也是一樣 .兩者相加即是缺點機率的總合 .利用查 Z表 ,即可得到相對應的缺點機率總合的 Z值 ,此 Z值就是 ZLSL─}USLmin─USLZ單邊規(guī)格： ZShort).3/16/2023 138群體群體 平均值平均值樣本平均值樣本平均值群體群體 標準偏差標準偏差樣本標準偏差樣本標準偏差X3/16/2023 139Normal Distribution List?T USLLSLP(d)Z3/16/20231. 計算 】】 ,【【 rootstandardsample(性能指數性能指數─σX規(guī)格下限n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 ^^3/16/2023USL：全距 (全距 )的平均值RProcessCpk： 12σCpk=10CpkCpk級規(guī)格中心值 規(guī)格上限規(guī)格下限Cpkσ級6σ級6σ0(即以 0) *1Cpk(6σT= TCpCp級6σ級6σ3/16/2023 133(3)Cp等級之說明6Cp依 Cp值大小一般分為五級：等級 CpCp值愈大 規(guī)格公差 (T)大於估計實績標準差 ((雙邊規(guī)格)(單邊規(guī)格 )或離散趨勢離散趨勢規(guī)格上限 實績平均值3個估計實績標準差 =USLX3必要時停止生產3/16/2023 131? 製程精密度 Cp(CapabilityCa值愈小 ,品質愈佳。Ca值是正值 實績平均值較規(guī)格中心值偏高規(guī)格公差 /2*100%Accuracy)衡量自產品中所獲得產品資料的 實績平均值 (X),與 規(guī)格中心值 (u)其間 偏差的程度 ,是期望製程中生產的每個產品的實際值能與規(guī)格中心值一致 TermCpk(“meandeviationdataallc4d2–“meanthesample(basedestimateindex.)? Ppkor(basedestimatestablecapability3/16/2023 1225.)C4全距圖 ─以此來作為『下一階段』的監(jiān)控和持續(xù)改善。『人、機、料、法』已達相當穩(wěn)定之狀況『人、機、料、法』已達相當穩(wěn)定之狀況，』』』的點，落在中心線為中心的『』的點，落在中心線為中心的『 若有『若有『 並改善。3/各點與 ◎ ─◎ 連續(xù) ◎ ─–X==)，制程平均值 R3/16/2023 113平均值與全距管制圖平均值與全距管制圖 標記道管制圖上3/16/2023 112X將 和全距 計算每個子組的『平均值 建立管制圖及記錄原始資料選擇『子組大小、頻率和資料』收集資料X●●●●監(jiān)控是否超出『管制上、下限』 →收集資料並畫在圖上：制程控制的工具制程控制的工具 ：分析不滿足提升製程能力Z→─XX或 PP管制圖使用 只在生產完成后 ,才抽取樣本 ,將區(qū)分為良品與不良品 ,所需數據能以簡單方法獲得之 .＊ ＊ ＊ S–=n3/16/2023X3UCU U UC CC C C13pnpnnp np np–?/13A3S XA2RR D4R D3RXR X X(每單位缺點數 )~管制圖的種類管制圖的種類3/16/2023 102管制圖之管制上 C─R(平均值與標準差 )X管制圖的運用管制圖的運用? 管制圖是 1924年由蕭華特博士()，在研究產品品質特性之次數分配時所發(fā)現。ControlProduct/決定管制項目決定管制項目? 管制項目的定義Cpk管制圖的運用六 決定管制項目三 減少『機遇原因』造成變異的發(fā)生3/16/2023 90六、建立 充分理解『機遇原因』造成的變異使制程穩(wěn)定，並以維持制程的能力指數查出『非機遇原因』的變異，並採取有效的措施：監(jiān)控制程的能力指數σ 181。 X大分布圖形分布圖形LSL T USLLSL T USL3/16/2023? →小小? 『 2』類 ：受控制程，但存在 『機遇原因』 造成過大的變異，必須減少『全距』的變異。 規(guī)格上限)』 ，來評定 『制程能力』 ，以使顧客滿意，這就是持續(xù)改善的基礎。3Time→位置 一般分佈有下列之不同情形：制程中的許多 『全距』『全距』 的原因。允允許將時間和材料投入到生產不一定有用許將時間和材料投入到生產不一定有用的產品或服務中的產品或服務中? 預防預防 3/16/2023制程控制的需要制程控制的需要? 檢測檢測 的思考的思考w 步驟三：建立制程控制方法→(果 )制程參數 的思考的思考? 步驟一：深入掌握因果模式)w 品質變異的大小，也才是決定產品優(yōu)劣的關鍵→((w SQC：強調 Q的最大不同點，就是由)w→這些制程參數與產品品質之間，有因果關係可循嗎？─Parameter)，就是 ？3/16/2023 62SPCPpk─/？ Ppk──(這是產品品質 SPCSPC ? SPC─無用武之地 → 經驗取勝 興起的背景興起的背景? SPC的思考? 的迷思? )Getting to Six SigmaHow far can inspection get us ?3/16/2023 53BreakthroughStrategyCharacterizationPhase 1:MeasurePhase 2:AnalyzeOptimization3 4 5 6 71,000,000100,00010,0001,0001001012Sigma Scale of MeasurePPMAverageCompanyBestinClassThe Breakthrough MethodologyDefine the problem...DMAIC to the Rescue!The Basic ObjectivePhase 3:Improve Phase 4: Control3/16/2023 54問題的本性問題的本性Six Sigma 的方法可以辨識製程是偏離目標和 /或者是高度變異 ,以修訂製程及降低變異偏離目標偏離目標 變異大變異大正中目標正中目標修訂製程修訂製程 降低變異降低變異X XXXXXXXXXXX XXXXXXXXXXX