顯微鏡的stm原理與afm基本原理介紹(文件)
【正文】 同時，表面的毛細(xì)作用也會降低分辨率。 在輕敲模式，微懸臂在其共振頻率附近作受迫振動，振蕩的針尖輕輕的敲擊樣品表面，間斷的和樣品接觸，所以又稱為間歇接觸模式。輕敲模式同非接觸模式相比較的另一優(yōu)點是大而且線性的工作范圍，使得垂直反饋系統(tǒng)高度穩(wěn)定，可重復(fù)進行樣品測量。輕敲模式同樣適合在液體中操作，而且由于液體的阻尼作用，針尖與樣品的剪切力更小，對樣品的損傷也更小，所以在液體中的輕敲模式成像可以對活性生物樣品進行現(xiàn)場檢測、對溶液反應(yīng)進行現(xiàn)場跟蹤等。 側(cè)向力模式 微懸臂的扭轉(zhuǎn)彎曲程度隨表面摩擦特性變化而增減（增加摩擦力導(dǎo)致更大的扭轉(zhuǎn)）。根據(jù)導(dǎo)致微懸臂扭曲的原因不同，通?？梢岳肔FM獲得物質(zhì)表面的組分構(gòu)成像和“邊緣增強像”。通常不僅樣品表面組分不同可以導(dǎo)致微懸臂扭曲，樣品表面形貌的變化也會導(dǎo)致微懸臂的扭曲，如下圖所示。當(dāng)微懸臂在樣品上方掃描時，由于針尖與樣品表面的相互作用，導(dǎo)致懸臂擺動，其形變的方向大致有兩個：垂直與水平方向。輕敲模式AFM在大氣和液體環(huán)境下都可以實現(xiàn)。輕敲模式的針尖在接觸表面時，可以通過提供針尖足夠的振幅來克服針尖和樣品間的粘附力。在非接觸模式中，針尖在樣品表面上方振動，始終不與樣品接觸，探針監(jiān)測器檢測的是范德華力和靜電力等對成像樣品的無破壞的長程作用力。 在接觸模式中，如果掃描軟樣品的時候，樣品表面由于和針尖直接接觸，有可能造成樣品的損傷。 接觸模式 根據(jù)樣品表面不同的結(jié)構(gòu)特征和材料的特性
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