【正文】 for tomorrow’s Challenge 本圖顯示了一張潛在的變差源的因果圖。 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定性 ? 測(cè)量系統(tǒng)必須處于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定狀態(tài)，也就是說(shuō)，測(cè)量系統(tǒng)的 變差不受特殊原因支配 一般說(shuō)來(lái)，當(dāng)沒(méi)有數(shù)值（點(diǎn)）落在特殊原因區(qū)域內(nèi) 時(shí)，測(cè)量系統(tǒng)便處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) 如果沒(méi)有如 SPC手冊(cè)中描述的 數(shù)據(jù)趨勢(shì)或漂移時(shí)，我們也可 以認(rèn)為是統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) 特殊原因區(qū)域 特殊原因區(qū)域 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，即只存在變差的普通原因。 當(dāng)被測(cè)項(xiàng)目變化時(shí)，測(cè)量系統(tǒng)統(tǒng)計(jì)特性的最大變差小于 過(guò)程變差和規(guī)范寬度較小者。 R Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 測(cè)量系統(tǒng)分析（ MSA）計(jì)劃 產(chǎn)品名稱(chēng) 規(guī)格 /型號(hào) 顧客名稱(chēng) 序號(hào) 量具名稱(chēng) 量具編號(hào) 產(chǎn)品特性 分析內(nèi)容和分析方法 分析頻率 預(yù)計(jì)完成時(shí)間/日期 產(chǎn)品特殊特性(符號(hào) ) 備注 偏倚 穩(wěn)定性 線(xiàn)性 重復(fù)性和再現(xiàn)性（ GRamp。偏 倚是在測(cè)量系統(tǒng)操作范圍內(nèi)對(duì)一個(gè)點(diǎn)的評(píng)估和表達(dá)。 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge ■ 造成過(guò)分偏倚的可能原因是： ? 儀器需要校準(zhǔn)； ? 儀器、設(shè)備或夾緊裝置的磨損； ? 磨損或損壞的基準(zhǔn)，基準(zhǔn)出現(xiàn)誤差； ? 校準(zhǔn)不當(dāng)或調(diào)整基準(zhǔn)的使用不當(dāng)； ? 儀器質(zhì)量差 — 設(shè)計(jì)或一致性不好； ? 線(xiàn)性誤差； ? 應(yīng)用錯(cuò)誤的量具； ? 測(cè)量錯(cuò)誤的特性； ?（量具或零件）變形； ? 不同的測(cè)量方法 — 設(shè)置、安裝、夾緊、技術(shù)； ? 環(huán)境 — 溫度、濕度、振動(dòng)、清潔的影響； ? 違背假定，在應(yīng)用常量上出錯(cuò)； ? 應(yīng)用 — 零件尺寸、位置、操作者技能、疲勞，觀察錯(cuò)誤 （易讀性、視差）。 該值包含特定數(shù)量的定義，并為其它已知目的自然被接受，有時(shí)是按慣例被 接受。 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge ? 使用一個(gè)可追溯的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的基準(zhǔn)值，可以提供： — 比較的共同點(diǎn)； — 測(cè)量系統(tǒng)有效性； — 測(cè)量系統(tǒng)準(zhǔn)確性評(píng)價(jià)； — 解決零件間的沖突； — 最直接的驗(yàn)證指導(dǎo)。 — 對(duì)精確數(shù)據(jù)比較分析產(chǎn)生的結(jié)果，用于確定校準(zhǔn) 時(shí)需的調(diào)整。 ■ 根據(jù)測(cè)量系統(tǒng)分析而作出的決定包括： ◆ 使用現(xiàn)有的系統(tǒng)，同時(shí)考慮它的測(cè)量不確定度 ◆ 改進(jìn)系統(tǒng)以控制產(chǎn)生變差的因子。 ◆ 基準(zhǔn)件本身，校準(zhǔn)過(guò)程和環(huán)境以及校驗(yàn)人員也都 對(duì)測(cè)量不確定度有影響。完成此步后，用線(xiàn)性研究分析數(shù)據(jù)。如果沒(méi)有，繼續(xù)分析，對(duì)于 n30時(shí)的解釋或分 析，應(yīng)當(dāng)特別謹(jǐn)慎。 注：所選取的水平依賴(lài)于敏感度水平，而敏感度水 平被用來(lái)評(píng)價(jià) /控制該（生產(chǎn)）過(guò)程的并且與產(chǎn) 品 /（生產(chǎn)）過(guò)程的損失函數(shù)（敏感度曲線(xiàn)）有 關(guān)。在已記錄過(guò)程變 差基礎(chǔ)上從測(cè)量系統(tǒng)操作范圍內(nèi)選擇一個(gè)零件。這在穩(wěn)定性分析可以表現(xiàn)出，建議按計(jì)劃維護(hù)或 修整。 偏倚研究的結(jié)果分析 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 偏倚分析方法練習(xí)題 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge Today’s Learn。 ◆ 如果測(cè)量系統(tǒng)偏倚非 0，應(yīng)該可以通過(guò)硬件、軟件或兩項(xiàng) 同時(shí)調(diào)整再校準(zhǔn)達(dá)到 0，如果偏倚不能調(diào)整到 0，也仍然可 以通過(guò)改變程序（如用偏倚調(diào)整每個(gè)讀數(shù)）使用。而后這 個(gè)零件由領(lǐng)班測(cè)量 15次。 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 偏移－案例講解 1)、一個(gè)制造工程師在評(píng)價(jià)一個(gè)用來(lái)監(jiān)視生產(chǎn)過(guò)程的新 的測(cè)量系統(tǒng)。 X ＝ 5)、計(jì)算可重復(fù)性標(biāo)準(zhǔn)偏差（參考量具研究，極差法，如下）： σ r＝ {max(xi)min(xi)}/d2* 這里 d2* 可以從附錄 C中查到， g=1， m = n 注：如果 GRR研究可用（且有效），重復(fù)性標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算應(yīng)該 以研究結(jié)果為基礎(chǔ)。 3)、結(jié)果分析 — 作圖法： 相對(duì)于基準(zhǔn)值將數(shù)據(jù)畫(huà)出直方圖。 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 偏移范例 ○ 量具 A ? 量具 B ◆ 量具 C ? 量具 A的均值 ? 量具 B的均值 ◇ 量具 C的均值 ? ? 為 A的偏倚 ? ? 為 B的偏倚 ? ◇ 為 C的偏倚 ◆ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ◇ ★ ★ ☆ ◆ ◆ ◆ ◆ ◆ ◆ ◆ ◆ ◆ ●● ●○●● ●●●● Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 偏移分析方法 1)、取樣： 選取一個(gè)樣品并建立其相對(duì)可追溯標(biāo)準(zhǔn)的基準(zhǔn)值，如果沒(méi)有這樣的樣品， 則可從生產(chǎn)線(xiàn)中選取一個(gè)其測(cè)量值落在中心值區(qū)域的零件當(dāng)成標(biāo)準(zhǔn)樣品 來(lái)進(jìn)行偏倚分析；在工具室測(cè)量這個(gè)零件 ≧ 10次，并計(jì)算這 n個(gè)讀數(shù)的均 值，把均值作為該樣品的“基準(zhǔn)值”。 ) 確定測(cè)量不確定度 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge ■ 測(cè)量不確定度與校準(zhǔn)： ◆ 測(cè)量系統(tǒng)的不確定度第一次是通過(guò)校準(zhǔn)過(guò)程而產(chǎn) 生。 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge ■ 測(cè)量不確定度是給組成測(cè)量系統(tǒng)的變量賦值的所有可 能性的總和（百分率）。 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge ? 選擇測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)值： — 校準(zhǔn)時(shí)，可使用 Golden Units，其他內(nèi)部實(shí)驗(yàn) 室內(nèi)驗(yàn)證的零件和 /或相互認(rèn)同的標(biāo)準(zhǔn)。 注：與基準(zhǔn)值同義使用的其它術(shù)語(yǔ)： ◆ 已接受的基準(zhǔn)值 ◆ 已接受值 ◆ 慣用值 ◆ 慣用真值 ◆ 指定值 ◆ 最佳估計(jì)值