【正文】 劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設(shè)置警告標志。 應(yīng)用：（ 1）技術(shù)負責人要確認是否確實存在“結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面的限制” （ 2）技術(shù)負責人一般應(yīng)在專用工藝或工藝卡批準欄中簽字。對重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭，可采用 B級技術(shù)進行檢測。 應(yīng)用：（ 1）射線檢測工藝卡中應(yīng)明確檢測時機（ 2）當?shù)灼洗嬖诓挥绊懺u定的偽缺陷時應(yīng)在底片評定原始記錄中注明。有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊接完成 24h后進行射線檢測。即鐵（ Fe）像質(zhì)計可以用于鎳（ Ni）、銅（ Cu）材料的照相，但不能用于鈦（ Ti）、鋁（ AI）材料的照相。 像質(zhì)計的材料、材料代號和不同材料的像質(zhì)計適用的工件材料范圍應(yīng)符合表 2的規(guī)定。 應(yīng)用：（ 1）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同（ 2）如采用 Se75和 Ir192射線照相， AB級或 B級檢測技術(shù)，前屏和后屏的厚度均不能小于 。 注意：校準黑度計用的標準黑度片必須在有效期內(nèi)，并通過計量部門的鑒定 (2年）新購置的標準黑度片只要在有效期內(nèi)也允許。 黑度計至少每 6個月校驗一次。 觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評片的要求。 應(yīng)用：選擇的原則（ 1） A級和 AB級檢測技術(shù)不得低于 T3類、 B級檢測技術(shù)不得低于 T2類（ 2）采用 γ射線允許采用 T3類膠片，但靈敏度應(yīng)滿足要求。 采用 γ射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測時 ,應(yīng)采用 T2類或更高類別的膠片。膠片制造商應(yīng)對所生產(chǎn)的膠片進行系統(tǒng)性能測試并提供類別和參數(shù)。 理解：取《放射工作人員證》的對象 應(yīng)用：（ 1）對已取得國家質(zhì)檢總局或要取得國家質(zhì)檢總局所頒發(fā)的無損檢測資質(zhì)單位的射線檢測人員均應(yīng)有《放射工作人員證》（ 2）對其他單位（制造、安裝和檢驗）現(xiàn)場操作人員應(yīng)有《放射工作人員證》 注意：從事評片人員每年的視力檢查情況應(yīng)存檔。 3 一般要求 射線檢測的一般要求除應(yīng)符合JB/，還應(yīng)符合下列規(guī)定。 應(yīng)用：（ 1）除 JB/T4730外，以上 10個標準也是我們編制檢測通用工藝和管理規(guī)定的主要依據(jù)。然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。 T型焊縫、角焊縫、堆焊層一般也不宜采用。 本部分規(guī)定的射線檢測技術(shù)分為三級： A級 —— 低靈敏度技術(shù)； AB級 —— 中靈敏度技術(shù)； B級 ——高靈敏度技術(shù)。承壓設(shè)備無損檢測 第 2部分：射線檢測 1 范圍 JB/T4730的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備金屬材料板和管的熔化焊對接接頭的 X射線和 γ射線檢測技術(shù)和質(zhì)量分級要求。 承壓設(shè)備的有關(guān)支承件和結(jié)構(gòu)件的對接焊接接頭的射線檢測，也可參照使用。（使用原則 ） 3 、注意：如承壓設(shè)備的支承件或結(jié)構(gòu)件也采用該標準時應(yīng)在檢測報告中注明《參照》同時應(yīng)有委托方的確認。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。（ 2）如果這些文件有新的版本鼓勵采用，但雙方要達成一致意見。 射線檢測人員 從事射線檢測人員上崗前應(yīng)進行輻射安全知識的培訓(xùn)，并取得放射工作人員證。 射線膠片 膠片系統(tǒng)按照 GB/T ，即 T TT3和 T4類。膠片處理方法、設(shè)備和化學(xué)藥劑可按照 GB/T 規(guī)定，用膠片制造商提供的預(yù)先曝光膠片測試片進行測試和控制。 理解：（ 1）按膠片系統(tǒng)進行分類，不是按膠片的感光速度分類。 注意：（ 1）當對公稱厚度或透照厚度較薄的工件進行 γ射線照相時應(yīng)采用高類別的膠片。 理解：（ 1）觀片燈的主要性能指標除了亮度以外還包括 :亮度的均勻性、外殼溫度、 噪聲、絕緣程度等（ 2）觀片燈亮度和照度的關(guān)系，即140000lx—— 45000cd/m2 應(yīng)用：當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度 ≤，觀片燈的亮度不應(yīng)低于 9400 cd/m 當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度 ＜ D≤4時觀片燈的亮度不應(yīng)低于 100000 cd/m2 注意：生產(chǎn)觀片燈的廠家所提供的亮度指標應(yīng)用 cd/m2表示。校驗方法可參照附錄 B（資料性附錄）的規(guī)定進行。 增感屏 射線檢測一般應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感屏。 注意： AB級或 B級檢測技術(shù)使用前屏 ≤包裝膠片時，另有規(guī)定。 理解：（ 1）取消了象質(zhì)指數(shù)“ Z”的概念，用線徑或線號表示底片的靈敏度。 表面要求和射線檢測時機 在射線檢測之前，對接焊接接頭的表面應(yīng)經(jīng)外觀檢測并合格。 理解：（ 1）焊縫的外觀檢查一般由焊工檢查員進行。 注意：所謂適當修整是指打磨或較淺補焊。 由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制，檢測的某些條件不能滿足 AB級（或 B級）射線檢測技術(shù)的要求時 , 經(jīng)檢測方技術(shù)負責人批準，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計靈敏度達到了 AB級（或 B級）射線檢測技術(shù)的規(guī)定 ,則可認為按 AB級（或 B級）射線檢測技術(shù)進行了檢測。 注意：底片靈敏度必須達到相應(yīng)技術(shù)級別的規(guī)定。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。（ 2）在兩個標準都提出了輻射照射量的新名詞《比釋動能》和《空氣比釋動能率》，比釋動能是指不帶電粒子與物質(zhì)相互作用，在單位質(zhì)量的物質(zhì)中釋放出來的所有帶電粒子的初始動能的總和。在可以實施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式 ,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。 不同級別射線檢測技術(shù)和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表 3的規(guī)定。（ 3）一次透照長度與檢測技術(shù)級別有關(guān)。 不滿足上述條件或橢圓成像有困難時可采用垂直透照方式重疊成像?；?0176。透照 3次。60 5mm）（ 2）橢圓成像有困難一般是指焦距不滿足要求。 對截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖 1規(guī)定的Ｘ射線管電壓。 Ｘ 射線適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表 4的規(guī)定。如最小透照厚度小于10mm時，即使合同各方同意也不能實施。如最小透照厚度小于 5mm時，即使合同各方同意也不能實施。 注意：（ 1）最小透照厚度以公稱厚度計算。b 2/3 － B 級射線檢測技術(shù)： f ≥ 15d 采用源在內(nèi)單壁透照方式時，只要得到的底片質(zhì)量符合 ， f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%。減少透照厚度，有利與檢驗缺陷；減少照射角，有利裂紋檢出。min。min、當焦距大于 700mm時，曝光量應(yīng)大于 15mA 制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應(yīng)達到的靈敏度、黑度等參數(shù)均應(yīng)符合本部分的規(guī)定。 注意：曝光曲線的校驗日期（至少每年一次） 無用射線和散射線屏蔽 應(yīng)采用金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等適當 措施，屏蔽散射線和無用射線，限制照射場范圍。若底片上不出現(xiàn) “ B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“ B”字影像，則說明背散射防護符合要求。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計放置在膠片側(cè)。對比試驗方法是在射源側(cè)和膠片側(cè)各放一個像質(zhì)計，用與工件相同的條件透照，測定出像質(zhì)計放置在源側(cè)和膠片側(cè)的靈敏度差異，以此修正像質(zhì)指數(shù)規(guī)定，以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。 b) 球罐對接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時，至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置 3個像質(zhì)計，在南、北極的極板拼縫上各放置 1個像質(zhì)計 。專用像質(zhì)計至少應(yīng)能識別兩根金屬絲。（ 4）當焊縫寬度較大時應(yīng)加長金屬絲的長度，或適當移動像質(zhì)計的位置。返修后的透照還應(yīng)有返修標記 ,擴大檢測比例的透照應(yīng)有擴大檢測標記。 標記一般應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少5mm以外的部位，搭接標記放置的部位還應(yīng)符合附錄 G（規(guī)范性附錄）的規(guī)定。 應(yīng)用：（ 1）應(yīng)在工藝文件中對返修標記、擴大檢測標記以及搭接標記的符號作出明確規(guī)定。20mm以下小徑管除外） 注意：不是 100％透照的焊接接頭也要放置搭接標記。 應(yīng)用：在工藝文件中要明確膠片處理的方式和處理的條件。 評片人員在評片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗適應(yīng)時間。 理解：增加 評片暗適應(yīng)過程規(guī)定的目的是光強的突然變化會使人的視覺靈敏度下降從而造成評片時的漏檢 應(yīng)用：（ 1）評片室不能全黑，一般要等于或略低于透過底片光的亮度。 底片評定范圍內(nèi)的黑度 D應(yīng)符合下列規(guī)定 : A 級： ≤D≤； AB級： ≤D≤ ； B 級： ≤D≤。 對評定范圍內(nèi)的黑度 D＞ ，如有計量檢定報告證明底片評定范圍內(nèi)的亮度能夠滿足 ，允許進行評定。 底片的像質(zhì)計靈敏度 單壁透照、像質(zhì)計置于源側(cè)時應(yīng)符合表 5的規(guī)定；雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于源側(cè)時應(yīng)符合表 6的規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于膠片側(cè)時應(yīng)符合表 7的規(guī)定。 注意：（ 1）當對接接頭兩邊的公稱厚度不等時以較薄為準。厚度 2 mm～ 400mm、 2 mm～ 80mm。 質(zhì)量分級依據(jù) 根據(jù)對接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度，其質(zhì)量等級可劃分為 Ⅰ 、 Ⅱ 、 Ⅲ 、Ⅳ 級。 當各類缺陷評定的質(zhì)量級別不同時，以質(zhì)量最差的級別作為對接焊接接頭的質(zhì)量級別。將評定區(qū)內(nèi)的缺陷按表 9的規(guī)定換算為點數(shù)，按