【正文】 哈特的控制理論和控制圖已成為世界標(biāo)準(zhǔn)。 1931年，他出版《制造業(yè)產(chǎn)品品質(zhì)的經(jīng)濟(jì)控制》。Laboratories)[現(xiàn)為朗訊科技（ Lucent1967年 3月 11卒于新澤西州特諾伊山AndrewSPC品保培訓(xùn)資料一、統(tǒng)計(jì)制程管理概述二、 SPC基礎(chǔ)－統(tǒng)計(jì)基本知識(shí)三、統(tǒng)計(jì)過程管理　?。?、控制圖原理 、 制作與分析　?。薄⒅狈綀D和過程能力的分析與研究　?。础?QC七大手法四、總結(jié)　　２、現(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)管制流程與數(shù)據(jù)的采集一、統(tǒng)計(jì)制程管理概述質(zhì)量檢驗(yàn)SPCTQMShewhart）休哈特主要的職業(yè)生涯在貝爾電話實(shí)驗(yàn)室（ BellTechnologies） ]渡過。 1947年，美國質(zhì)量控制協(xié)會(huì)（ ASQC） 才認(rèn)識(shí)到休哈特的重要貢獻(xiàn)。統(tǒng)計(jì)控制概述 預(yù)防與檢測(cè) 2 檢測(cè) —— 容忍浪費(fèi)167。我們工作的分布寬度 統(tǒng)計(jì)控制概述之三變差的普通及特殊原因 － 2如果僅存在變差的普通原因隨著時(shí)間推移，過程輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測(cè)范圍范圍預(yù)測(cè)時(shí)間時(shí)間如果僅存在變差的特殊原因，隨著時(shí)間推移，過程輸出不穩(wěn)定統(tǒng)計(jì)控制概述之四局部措施和系統(tǒng)措施局部措施和系統(tǒng)措施局部措施85本過程應(yīng)做些什么？?確定能力維護(hù)過程?措施改進(jìn)過程?更好地理解普減少普通原因UCL中線 Mothernature： 無論人類社會(huì)如何進(jìn)步發(fā)展，產(chǎn)品質(zhì)量不可能保持絕對(duì)恒定，一定具有變異性。溫度 氣體狀態(tài)167。統(tǒng)計(jì)規(guī)律：在一定條件下事件可能發(fā)生也可能不發(fā)生的現(xiàn)象。 distribution）。SPC基礎(chǔ)直方圖（ histogram）： 在橫軸上以樣本數(shù)據(jù)每組對(duì)應(yīng)的組距等距離線段為底，縱軸表示樣本數(shù)據(jù)落入相應(yīng)直方組的頻數(shù)的 n個(gè)矩形所組成的圖形。這條光滑的曲線就形成正態(tài)分布曲線，其特點(diǎn)是中間高，兩頭低，左右對(duì)稱并延伸至無窮。 正態(tài)分布是一條曲線，討論起來不方便，故用其兩個(gè)參數(shù)描述其特征： 說明：（ 1）平方是為了避免正負(fù)抵消sigma小寫符號(hào) –Deviation） 統(tǒng)計(jì)學(xué)中，標(biāo)準(zhǔn)偏差意指任何一組 事項(xiàng) 或 流程 所產(chǎn)出的 變異或 不一致 的度量值。 Ts=21+/2 0C的溫度控制器 Ta=1329 0C 不合格，變異 =8 也就是說標(biāo)準(zhǔn)差就象是一把尺，用來評(píng)估流程結(jié)果的好壞。 規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)差讀做 Sigma SpecSPC基礎(chǔ)σa— 制程標(biāo)準(zhǔn)差讀做 Sigma Actual注： 樣本數(shù) X1=9%%% 75%%250%% % xy = = =SPC基礎(chǔ)正態(tài)分布平均值與標(biāo)準(zhǔn)差的關(guān)系167。；無論標(biāo)準(zhǔn)差如何變化，也不會(huì)影響數(shù)據(jù)的對(duì)稱中心，即平均值 181。和 值的歷史。 不論 181。則產(chǎn)品質(zhì)量特征值落在 下限 上限3+3167。：為便于計(jì)算平均數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差 ,組距常取 10 的倍數(shù)。直方圖直方圖實(shí)例演練直方圖? n = 100 k = 10? Ex: （ 第一組下界）?求出各組的中心值 次數(shù)次數(shù) 第一組次數(shù) 1次 第二組次數(shù) 1次 第三組次數(shù) 7次 第四組次數(shù) 10次 第五組次數(shù) 13次 第六組次數(shù) 23次 第七組次數(shù) 25次 第八組次數(shù) 9次 第九組次數(shù) 9次 第十組次數(shù) 2次 7.它指過程的加工質(zhì)量滿足技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的能力，是衡量過程加工內(nèi)在一致性的標(biāo)準(zhǔn)。capability過程能力 值：反應(yīng)過程變異程度CPK值：反映過程的平均值和變異程度DPPM值：反應(yīng)過程不合格品比值過程能力相同，但品質(zhì)水準(zhǔn)大不相同。過程能力指數(shù)：雙側(cè)規(guī)格TL為下規(guī)格限分子： ??因?yàn)殡p側(cè) 6 T值為常數(shù)，當(dāng) =T時(shí)， 的大小正好使其的 6倍等于技術(shù)要求或客戶要求的范圍（ T）， 在這種情況下，過程的合格率為%，不合格率為 %，或 DPPM為2700。值相等，但品質(zhì)水準(zhǔn)大不相同。 TuTL2? 3 ?? 5 ? 6 ?因?yàn)?T值是一定的，一旦計(jì)算出 ?值后，我們便知道 T值與 ?值之間的關(guān)系，進(jìn)而可以計(jì)算出 CP值與 DPPM的值。 若只有下限要求，無上限要求，則：過程能力過程能力指數(shù) CP評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)過程能力xTL ε T/2 TuM181。偏移情況的過程能力指數(shù) Cpk一旦過程質(zhì)量特性值的均值 181?？梢韵蛏舷奁?，也可以向下限偏移，則：實(shí)際偏移值（絕對(duì)值） 偏移度 （ ε 只占單側(cè)規(guī)格的比例。和 CPLб CPK=則： 已偏移到單側(cè)的 3б 合格率為 P==所謂過程控制網(wǎng)圖即在圖中按工藝流程順序?qū)⒚康拦ば虻年P(guān)鍵變量列出。 控制因素 過程標(biāo)準(zhǔn) 控制 圖 批準(zhǔn)者批準(zhǔn)日期 審核者 如美國 LTV公司共編了 600本上述手冊(cè)。狀態(tài) Ⅱ : 統(tǒng)計(jì)穩(wěn)態(tài)未達(dá)到 ,技術(shù)穩(wěn)態(tài)達(dá)到。狀態(tài) IV:　 統(tǒng)計(jì)穩(wěn)態(tài)與技術(shù)穩(wěn)態(tài)均未達(dá)到。、 6： 群體標(biāo)準(zhǔn)差 ?x： 樣本標(biāo)準(zhǔn)差N： 母體數(shù) (批量數(shù) ) ?aCaSL　　　 CLLSL　　 LCL?sCp?xNR　 計(jì)量值：均值極差圖?s規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)差圖直方圖計(jì)數(shù)值：P不良率圖C缺點(diǎn)數(shù)圖柏拉圖 　SIGMA 　　　　　　　　　　 直方圖趨近光常用統(tǒng)計(jì)量　　 將各組的頻數(shù)用數(shù)據(jù)總和 N=100除，就得到各組的頻率，它表示機(jī)螺絲直徑屬于各組的可能性大小。在極限情況下得到的光滑曲線即為分布曲線，它反映了產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)規(guī)律，如分布曲線圖所示 常用統(tǒng)計(jì)量正態(tài)分布中，任一點(diǎn)出現(xiàn)在μ σ 內(nèi)的概率為 P(μ σ X μ +σ ) = % μ 2σ 內(nèi)的概率為 P(μ 2σ X μ +2σ ) = % μ 3σ 內(nèi)的概率為 P(μ 3σ X μ +3σ ) = %常用統(tǒng)計(jì)量不同的常態(tài)分配常用統(tǒng)計(jì)量不同的常態(tài)分配常用統(tǒng)計(jì)量不同的常態(tài)分配Xμμ 1(b)μ ≠ μ ， σ σ1 2 1 2常用統(tǒng)計(jì)量藍(lán)色代表規(guī)格分布形態(tài)紅色代表實(shí)際制程分布形態(tài)常用統(tǒng)計(jì)量舉例說明：初三學(xué)生體育測(cè)試 : 跳遠(yuǎn) : (男生組 ) 95%達(dá)標(biāo)率 (女生組 ) 95%達(dá)標(biāo)率 東西方身體素質(zhì)差異 身高 : 東方成年男性 168cm 西方成年男性 175cm 體重 : 東方成年男性 65kg 西方成年男性 75kg常用統(tǒng)計(jì)量一、統(tǒng)計(jì)制程管理概述二、 SPC基礎(chǔ)－統(tǒng)計(jì)基本知識(shí)三、統(tǒng)計(jì)過程管理　?。?、現(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)管制流程與數(shù)據(jù)的采集　?。薄⒅狈綀D和過程能力的分析與研究建立企業(yè)的數(shù)據(jù)收集規(guī)劃計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)收集計(jì)量值數(shù)據(jù)收集品質(zhì)變異原因品質(zhì)變異的規(guī)律現(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)管制流程與數(shù)據(jù)的采集在此 ,作者建議計(jì)數(shù)值也說量做到連續(xù)抽取 ,這樣可以預(yù)知下一批的檢驗(yàn)時(shí)間 ,也可根據(jù)圖形預(yù)測(cè)下步的品質(zhì)狀態(tài) ,更符合 SPC的預(yù)測(cè)功能。通常連續(xù)生產(chǎn) ~2天以上時(shí) ,最少抽 5至 7次 。 3. 計(jì)數(shù)值抽樣中的允收計(jì)劃 通常可根據(jù) AQL要求來判定是停止生產(chǎn)還是繼續(xù)生 ,也可根據(jù)公司制定的目標(biāo)各段工序不良率或缺失率目標(biāo)來判定。 為了規(guī)范缺點(diǎn)代碼 ,一般都需要充缺點(diǎn)類別 ,還可以對(duì)缺點(diǎn)代碼設(shè)立一個(gè)嚴(yán)重權(quán)數(shù)。產(chǎn)品項(xiàng)目其實(shí)包含了產(chǎn)品編碼及產(chǎn)品類別等 ,應(yīng)可以選擇某個(gè)產(chǎn)品或某幾個(gè)產(chǎn)品合并到一起處理 ,或者某一類產(chǎn)品所有的數(shù)據(jù)合并處理。 現(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)管制流程與數(shù)據(jù)的采集 在計(jì)量值數(shù)據(jù)收集過程中 ,除了第一節(jié)講到的基本步驟外 ,要特別注意的是抽樣計(jì)劃 ,然后進(jìn)行量測(cè) ,再將量測(cè)值做處理。 現(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)管制流程與數(shù)據(jù)的采集計(jì)量值的抽樣計(jì)劃目前常用的標(biāo)準(zhǔn) MILSTD414和國內(nèi)的 GB6378。 抽樣頻率在初始階段相對(duì)高一點(diǎn)，在過程中如發(fā)現(xiàn)經(jīng)管制不斷監(jiān)控輿改善，達(dá)到了穩(wěn)定階段，可視情況酌情減少抽樣頻率，甚至放棄該點(diǎn)的計(jì)量監(jiān)控。如電阻的電阻值，塑料面板的尺寸，彈簧的最大值?，F(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)管制流程與數(shù)據(jù)的采集計(jì)量值抽樣檢驗(yàn)評(píng)判 通常有 3個(gè)級(jí)別來品質(zhì)判定：一是是否超出相應(yīng)的管制界限或出現(xiàn)管制圖判讀的異常，如若超出表示有異常發(fā)生；二是是否超規(guī)格界限，如若超出，則表示有不合格拼發(fā)生，制程問題較為嚴(yán)重，甚至要求停止生產(chǎn)；三是該數(shù)據(jù)區(qū)的 cpk品質(zhì)指針是否達(dá)到 。一個(gè)產(chǎn)品可能有多個(gè)管制特性，一個(gè)塑料件可能有長度、寬度、厚度等?，F(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)管制流程與數(shù)據(jù)的采集量測(cè)精度： 是指對(duì)該項(xiàng)管制特性量測(cè)值的小數(shù)字確認(rèn)，也是在工程設(shè)計(jì)產(chǎn)品之時(shí)就確定好的，同時(shí)還要根據(jù)量測(cè)儀器來確定?，F(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)管制流程與數(shù)據(jù)的采集 主要是指各項(xiàng)層別條件，如檢驗(yàn)人員、機(jī)臺(tái)別、班別、客戶別等項(xiàng)目，這些在第一節(jié)已經(jīng)介紹過，主要是根據(jù)自身需要適當(dāng)加入一個(gè)條件，以便于某一產(chǎn)品產(chǎn)量很多時(shí)，對(duì)各項(xiàng)層條件的內(nèi)容做逐個(gè)的分析。? 各項(xiàng)層別條件現(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)管制流程與數(shù)據(jù)的采集品質(zhì)變異來源的分類“4 M1E”, 即 :人 (Man) 如 : 熟練程度、習(xí)慣、體力與情緒等機(jī) (Machine) 如 :切割機(jī)器刀具鋒利度、沖壓機(jī)沖程的變動(dòng)等料 (Material) 如 :供貨商更換、材料 (部件 )變動(dòng)等法 (Method) 如 :流程的變更、作業(yè)方法的變更等環(huán)境 (Environment) 如 :電源穩(wěn)定度、溫度、濕度、空氣粉塵等現(xiàn)場(chǎng)品質(zhì)管制流程與數(shù)據(jù)的采集品質(zhì)變異性質(zhì)的分類品質(zhì)變異性質(zhì)的分類 : 普通原因普通原因 和 特殊原因特殊原因普通原因普通原因 (chance causes): 非人為原因、共同原因、偶然原因、一般原非人為原因、共同原因、偶然原因、一般原 因、機(jī)遇原因。ProcessSPC的特點(diǎn)是 :(3)圖上有中心線 (CL)、 上控制界限 (UCL)和下控制界限 (LCL)， 并有按時(shí)間順序抽取的樣本統(tǒng)計(jì)量數(shù)值的描點(diǎn)序列，參見控制圖標(biāo)例圖。 3σ 之外的概率為 100%一 %= %，而超過一側(cè)，即大于 μ 3σ 或小于 μ +3σ 的概率為 %/2=%≈1 ‰ ，如正態(tài)分布曲線圖?！　　?虛發(fā)警報(bào)的錯(cuò)誤 ,也稱第 I類錯(cuò)誤。如果抽到這樣的產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)并在控制圖中描點(diǎn) ,這時(shí)