spc統(tǒng)計(jì)與spcd工程-wenkub
2023-03-10 23:48:23 本頁(yè)面
【正文】 與 SPCD工程緒論工程緒論 (二二）） 什么是什么是 SPCD?（新概念）（新概念）? SPCD Statistical Process Control and Diagnosis (統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制與診斷）? 含義 利用統(tǒng)計(jì)技術(shù)對(duì)過(guò)程中的各個(gè)階段進(jìn)行監(jiān)控與診斷，從而達(dá)到縮短診斷異常的時(shí)間、以便迅速采取糾正措施、減少損失、降低成本、保證產(chǎn)品質(zhì)量的目的。– 生產(chǎn)控制方式由過(guò)去的 3?控制方式改為 6?控制方式。– 確定各組的頻數(shù)– 作直方圖– 對(duì)直方圖的觀察 : 特點(diǎn)， 中間高、兩頭低、左右對(duì)稱 第二章 控制圖原理（四）基礎(chǔ)知識(shí)(2)、正態(tài)分布 (Normal Distribution) 當(dāng)抽取的數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)趨于無(wú)窮大而區(qū)間寬度趨向于 0時(shí)，外形輪廓的折線就趨向于光滑的曲線，即：概率密度曲線 。 ) = (1/ ? ?2?)exp( (x 181。– 它們之間是互相獨(dú)立。 +3?]范圍內(nèi)的概率為 % 。 +3?一側(cè)的概率為 %/2=% ?1?。 ? 3?(2)、控制圖原理的兩種解釋? 第一種解釋：第一種解釋： “點(diǎn)出界就判異點(diǎn)出界就判異 ” 小概率事件原理：小概率事件實(shí)際上不發(fā)生，若發(fā)生即判異常。 控制限就是區(qū)分必然波動(dòng)與偶然波動(dòng)的科學(xué)界限。– f、 控制圖的重新制定。第二章 控制圖原理（十三）? X1 =(x1+x2+x3+x4+x5)/5? R圖的控制線– UCL= D4 R=* =– CL = R =– LCL = D3R = 0? x圖的控制線– UCL =x + A2R =+* =– CL = – LCL = x A2R =*=第二章 控制圖原理（十四）第二章 控制圖原理（十五）? P圖的控制線第二章 控制圖原理（十六）? DPMO的定義第二章 控制圖原理（十七）? DPMO圖的控制線第二章 控制圖原理（十八）? C圖的控制線第二章 控制圖原理（十九）? U圖的控制線第二章 控制圖原理（二十）? 計(jì)量值控制圖與計(jì)數(shù)值控制圖的比較– 計(jì)量值控制圖的最大的優(yōu)點(diǎn)是靈敏度高 , 往往在真正造成不合格品之前已經(jīng)及時(shí)發(fā)現(xiàn)異常； 所需的樣本容量比計(jì)數(shù)值控制圖小很多；– 在有多種判據(jù)的場(chǎng)合，若有任何一個(gè)判據(jù)不滿足，就認(rèn)為不合格時(shí)，則用計(jì)數(shù)值控制圖處理比較簡(jiǎn)單。第二章 控制圖原理（二十三）? 通用圖法 應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)變換使 N (?i, ?i), 對(duì)所有的 i ?N(0,1) ?在通用圖上統(tǒng)一控制。第四章 質(zhì)量診斷理論（二）b、 選控型 規(guī)則： 上道工序的影響或多或少的始終存在 優(yōu)點(diǎn)： 符合實(shí)際、是更一般的模型。 其特點(diǎn)是反映了該工序的工作質(zhì)量。3 ， 181。第四章 質(zhì)量診斷理論（七）? 過(guò)程能力指數(shù)的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)第四章 質(zhì)量診斷理論（八）? 有偏移情況的過(guò)程能力指數(shù) 定義分布中心 ?與公差中心 M的偏移為： ?=|M?|， 與 M的偏移度 K為： K= ? /（ T/2） =2 ? /T，
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