spc制程管制基礎教育-wenkub
2023-03-09 14:21:54 本頁面
【正文】 級 評價 對應措施Cpk A+ 工序能力過高 ,粗活精作 ,不經濟 . . .3. 改用成本低的設備等 .Cpk ≧ A工序能力足夠 ,當 Cpk=時為理想狀態(tài) . . .Cpk≧ 1 B 工序能力尚可 ,但會有不良發(fā)生 . 須用控制圖 (如 XR管制圖 ),加強管理 .1Cpk≧ C 工序能力不足 . ,采取對策 ,縮小標 準差 . ,放大 公差 .Cpk D 工序能力差 . ,必須改善工藝 .Cpk公式總結項目 5月 15日 5月 16日 5月 17日 5月 18日 5月 19日 5月 20日 5月 21日 5月 22日 5月 23日 5月 24日規(guī)格上限 USL 規(guī)格下限 LSL MAX MIN AVE(X) DIV/0! DIV/0!1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 規(guī)格中心值 C 規(guī)格公差值 T 標準偏差 δ _ _Ca _ _ Cp _ _Cpk _ _6511 G1厚度實例Cpk和制程良率換算目錄SPC制程管理意義及方法1SPC管制管理中誤區(qū)4CPK計算及管理2XR管制圖的做法3計算 XR管制圖的管制限? 基本概念 X:每組樣本數的平均值 R:每組樣本數的全距 (R=XmaxXmin) X:所有樣本數的總平均值 R:所有組樣本的全距平均值 . (備注 :每組樣本數 ≦ 10個較好 .) 中心線 :CL=X 管制上限 :UCL=X+A2R 管制下限 :LCL=XA2R 中心線 :CL=R 管制上限 :UCL=D4R 管制下限 :LCL=D3R 管制線計算參數N 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 * * * * * A2 01 0204 03首先要對工序進行分析，收集生產條件（包括人、機、料、法、環(huán)、測）比較穩(wěn)定和有代表性情況的一批數據（＞ 50個， 5或 6的倍數）XR管制圖的作法每 5或 6個數據一組計算其平均值 X，極差 R（一組數據中最大值和最小值之差） 計算 X值的平均值 X作為 X圖中心線（ CL）以及極差 R的平均值 R作為R圖中心線，對 X圖取上控制線（ UCL） = CL值+A2R,下控制線（ LCL） = CL值 A2R對 R圖，取上控制線（ UCL） = D4R計算制程標準度 Ca值 ,制程精密度Cp值和制程能力指數 Cpk值 ，進行制程能力檢討XR管制 圖實例管制圖判斷? 管制狀態(tài)判斷 : . .
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