【正文】 m 圖 XR 圖 XR 圖 Xs 圖 計(jì)數(shù)值 計(jì)量值 “n”=1 n≧ 1 中位數(shù) 平均值 “ n”=2~5 缺陷數(shù) 不良數(shù) 不一定 一定 一定 不一定 控制圖的選擇 10 搜集數(shù)據(jù) 繪解析用控制圖 是否穩(wěn)定 繪直方圖 是否滿足規(guī)格 控制用控制圖 尋找異常原因 檢討機(jī)械、設(shè)備 提升製程能力 控制圖的繪製流程 11 控制圖種類 (依用途來分 ) ? 解析用控制圖 ? 決定方針用 ? 製程解析用 ? 製程能力研究用 ? 製程管制準(zhǔn)備用 ? 管制用控制圖 ? 追查不正常原因 ? 迅速消除此項(xiàng)原因 ? 並且研究採取防止此項(xiàng)原因重複發(fā)生之措施。 ? 就控制圖在工廠中實(shí)施來說，英國比美國為早。統(tǒng)計(jì)製程管制 (SPC) 課程內(nèi)容 ? 控制圖歷史說明 ? 控制圖說明 ? 控制圖原理說明 ? 控制圖種類及選擇說明 ? 正態(tài)分佈說明 ? α,β 風(fēng)險說明 ? 普通原因、特殊原因說明 ? 使用控制圖注意事項(xiàng) ? XR,XS,XR,XRm控制圖 ? P, np, c, u控制圖 ? Ca, Cp, Cpk, Pp, Ppk, Cmk指數(shù)說明 ? 什麼是 MOTOROLA的 6σ ? 控制圖的判讀 ? Case study 2 控制圖的歷史 ? 控制圖是 1924年由美國品管大師 . Shewhart博士發(fā)明。 ? 日本在 1950年由 . Deming博士引到日本。 解析用 穩(wěn)定 控制用 12 計(jì)量值的分佈表達(dá) 位置：中心值 形狀：峰態(tài) 分佈寬度 13 控制圖原理說明 群體 平均值 =μ 標(biāo)準(zhǔn)差 =σ μ μ+k σ μ k σ 抽樣 21 222)(????????eexkk?????? ??14 控制圖原理 μ177。 % % μ177。 ? 管制界限：應(yīng)用於一群單位產(chǎn)品集體之量度，這種量度是從一群中各個單位產(chǎn)品所得之觀測值所計(jì)算出來者。2σ % 177。2σ % 177。 平均值和個別值檢出力的說明 29 CASE STUDY ? 今有一製程，如今已知其製程中心已偏了2σ， 請問如果用單值時其檢出力為多少 ? ? 請問如果用 n=4時其檢出力為多少 ? ? 註：檢出力 =1β 30 普通原因、特殊原因 ? 普通原因指的是造成隨著時間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因，我們稱之為：“處於統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)”、“受統(tǒng)計(jì)控制”，或有時簡稱“受控”，普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因，隨時間的推移，過程的輸出將不穩(wěn)定。 UCL CL LCL 56 控制圖的觀察分析 ? 作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于“ 控制狀態(tài) ” . 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產(chǎn)過程或工作過程僅受偶然因素的影響 , 產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) . ? 控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為二條 : ? 第一條 , 控制圖上點(diǎn)不超過控制界限 。 ? 當(dāng)出現(xiàn) 6點(diǎn)鏈時 , 應(yīng)開始調(diào)查原因 。 ? 連續(xù)的 20點(diǎn)中至少有 16點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時 . 59 控制圖的觀察分析 ? 傾向 : 若干點(diǎn)連續(xù)上升或下降的情況稱為傾向 , 其判別準(zhǔn)則如下 : ? 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 5點(diǎn)不斷上升或下降趨向時 , 要注意該工序的操作方法 。 ? 連續(xù) 10點(diǎn)中有 4點(diǎn) (該 4點(diǎn)可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) . 61 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 ? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ? 計(jì)算新的控制限 2?dR?? newxnewxnewRnewRnewRAxLCLRAxUCLRDLCLRDUCLdR22342???????? ?62 Case study 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 72 2 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 79 3 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 80 4 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 78 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 1 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 73 2 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 72 3 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 74 4 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76 63 Case study ? 請計(jì)算出上表的 XR控制圖的控制限？ ? 請判定過程是否穩(wěn)定？ ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ ? 如果製程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時，那麼其新控制限為何？ 64 Ｄ過程能力解釋 D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 D2計(jì)算過程能力 D3評價過程能力 D4提高過程能力 D5對修改的過程繪制控制圖並分析 建立 XR圖的步驟 D 65 aC製程能力指標(biāo)2?)()2/(dRTXCa?????雙邊規(guī)格66 pC製程能力指標(biāo) 內(nèi)變差只考慮到固定變差或組單邊規(guī)格下規(guī)格界限單邊規(guī)格上規(guī)格界限雙邊規(guī)格2?)(?3)(?3)(?6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCppp???????????67 pkC製程能力指標(biāo) 2??3?3),min(dRSxCxSCCCClplupuplpupk?????????68 及組間變差都考慮進(jìn)去內(nèi)變差製程績效所表達(dá)的是組1)(??3?3),min(12??????????nxxSxPxSPPPPniilplupuplpupk???製程績效指標(biāo) 69 群體 平均值 =μ 標(biāo)準(zhǔn)差 =σ 對 σ的估計(jì) 1)(????12142????????nxxcSdRSnnnx????群體標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì) 70 10 14 18 T 12 16 μ Cp CPL CPU CPK Cpm 13 2 T 10 14 18 12 16 10 14 18 T 12 16 μ Cp CPL CPU CPK Cpm 14 2 μ Cp CPL CPU CPK Cpm 15 2 指數(shù)差異說明 71 Case study ? 請依照上個 case study的數(shù)據(jù)，計(jì)算其下列的各項(xiàng)指標(biāo)結(jié)果，假設(shè)其規(guī)格為： 75177。 ? 最差情形，可以允許製程中心，偏差177。 ? 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時要非常小心。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。由於這個原因，在解釋趨勢時要特別注意。 ? 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的週期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。 劃圖區(qū)域 105 A4將不合格品率描繪在控制圖上 ? 描繪每個子組的 p值，將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助於發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。 ? 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。由於特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對操作進(jìn)行分析，並且希望操作者或現(xiàn)場檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因並糾正。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了後，就對照它來評價。 ? 當(dāng)正式研究過程能力時，應(yīng)使用新的數(shù)據(jù)，最好是 25個或更多時期子組，且所有的點(diǎn)都受統(tǒng)計(jì)控制。必須對系統(tǒng)本身直接採取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。 ? 對過程進(jìn)行改變時，應(yīng)小心地監(jiān)視控制?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。 ? 各階段子組的樣本容量相同。 ? 記錄並描繪每個子組內(nèi)的不合格品數(shù) (np)。 ? 主要不同之處如下： 132 A收集數(shù)據(jù) ? 檢驗(yàn)樣本的容量 (零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度等 )要求相等，這樣描繪的 c值將反映質(zhì)量性能的變化 (缺陷的發(fā)生率 )而不是外觀的變化 (樣本容量 n)， 在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量； ? 記錄並描繪每個子組內(nèi)的缺陷數(shù) (c) 133 CCCLCLCCUCLkCCCLkcccccccck?????????????33.....21B計(jì)算控制限 134 過程控制解釋、過程能力解釋 ? 過程