msa測(cè)量系統(tǒng)分析培訓(xùn)教材(ppt67頁(yè))-wenkub
2023-03-02 18:58:46 本頁(yè)面
【正文】 果下式成立 ,則不能被否定 如果以上假設(shè)為真 ,則測(cè)量系統(tǒng)對(duì)所有的參考值具有相同的偏倚 ,這個(gè)偏倚必須為 0,該線性才可被接受。 結(jié)果分析 — 圖示法 4)計(jì)算每個(gè)零件每次測(cè)量的偏倚 ,以及每個(gè)零件的偏倚平均值。如 :右圖 X 穩(wěn)定性 － R控 制圖 X UCL LCL 0 10 20 UCL= 0 控制圖分析表明 ,測(cè)量過程處于穩(wěn)定狀態(tài) n 平均值 標(biāo)準(zhǔn)差 бr 平均值的標(biāo)準(zhǔn)誤差 бb 測(cè)量值 100 參考值 =,α=,m=5,g=20, =,d2= 統(tǒng)計(jì)的 t值 df 顯著的 t值 （ 2有尾數(shù)的） 偏倚 偏倚 95%置信度區(qū)間 下限 上限 測(cè)量值 分析結(jié)論： ∵ –0 ∴ 該新測(cè)量?jī)x器是可接受的。 若 0落在偏倚附近的 1–α置信區(qū)間內(nèi)，則偏倚在這 α水準(zhǔn)上是可接受的。 減去參考值得到偏倚。 X1+X2+…+X n n = X 式中： X1+X2+… 為子組內(nèi)每個(gè)測(cè)量值； n 為子組容量； Xmax與 Xmin為子組內(nèi)的最大值與最小值 R R1+R2+…+R K K = R X 1+ 2+…+ K K = X XX 式中： K為子組數(shù)量 R1和 1為第一個(gè)子組的極差和均值，以此類推 X R R UCLR=D4 ? ， LCLR=D3 ? R X X R X X UCL = + A2 ? ， LCL = A2 ? X 式中： D 4,D 3,A 2 隨子組容量不同而變化，可查表得到。要求對(duì)每種基準(zhǔn)件單獨(dú)的進(jìn)行測(cè)量和畫控制圖。 d2 * d2 * d2 * d2 * 偏倚 ——范例 一個(gè)新測(cè)量系統(tǒng)，在測(cè)量系統(tǒng)的操作范圍內(nèi)選取一個(gè)零件，通過對(duì)該零 件在計(jì)量室里測(cè)量該零件 n≥10次，計(jì)算這 n個(gè)讀數(shù)的平均值 考值。當(dāng) n30時(shí)，對(duì)任何的解釋或分析，要特別注意 。在計(jì)量實(shí)驗(yàn)室里測(cè)量該 零件 n≥10次，并計(jì)算這 n個(gè)讀值的平均值作為“參考值”。 ? 測(cè)量系統(tǒng)必須是穩(wěn)定的 ,應(yīng)處于受控狀態(tài) ,即測(cè)量系統(tǒng)中的變差只能由普通原因造成。穩(wěn)定性 Б2性能 = Б2能力 + Б2 穩(wěn)定性 + Б2一致性 *測(cè)量量程內(nèi)長(zhǎng)期的一致性和均勻性包含在性能評(píng)價(jià)之中。 ? 重復(fù)性 (設(shè)備變差 ):E,V 一個(gè)評(píng)價(jià)人，同一種儀器，同一零件的某一特性，在固定的和已定義的測(cè)量條件下，連續(xù) (短期內(nèi) )多次測(cè)量中的變差。 為此，我們引伸出如下一些術(shù)語(yǔ)。 R/ d2 * USLLSL 6б 再比如 :當(dāng) RR為 10%時(shí)， CP實(shí) 為 2, CP觀 為 RR為 30%時(shí)， CP實(shí) 為 2, CP觀 為 RR為 60%時(shí)， CP實(shí) 為 2, CP觀 為 可以看出， CP觀 由 量系統(tǒng)的不同所造成。 理想的測(cè)量系統(tǒng) 零偏倚，零變差。 檢驗(yàn)本身就是一個(gè)過程。 本教材簡(jiǎn)單闡述了五個(gè)問題 : 何謂測(cè)量系統(tǒng) ? ? 為何要對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行分析 ? ? 對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行分析要分析什么 ? ? 如何分析測(cè)量系統(tǒng)的 ―五性 ‖? ? 對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行研究分析了怎么辦 ? 一 . 何謂測(cè)量系統(tǒng) 定義 :是對(duì)測(cè)量單元進(jìn)行量化或?qū)Ρ粶y(cè)的特性進(jìn)行評(píng)估，其所使用的儀器或量具，標(biāo)準(zhǔn)，操作，方法，夾具，軟件，人員，環(huán)境及假設(shè)的集合。也就是說，用來獲得測(cè)量結(jié)果的整個(gè)過程。 一般過程 操作 輸出 輸入 測(cè)量 數(shù)值 分析 標(biāo)準(zhǔn) 人員 （評(píng)價(jià)人） 儀器 （量具） 工作件 （零件） 程序 環(huán)境 決定 測(cè)量過程 二 . 為什么要對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行分析 ? 測(cè)量數(shù)據(jù)的質(zhì)量 : 數(shù)據(jù)的質(zhì)量取決于多次測(cè)量的統(tǒng)計(jì)特征：偏倚及變差。 理想的測(cè)量系統(tǒng)不存在，為什么 ? 由于測(cè)量系統(tǒng)變差源：標(biāo)準(zhǔn)，人員 (評(píng)價(jià)人 )。 為此，我們要對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行分析，要識(shí)別測(cè)量系統(tǒng)的普通原因和特殊原因，以便采取決策措施，使測(cè)量系統(tǒng)的變差減小到最小程度，使得測(cè)量系統(tǒng)觀測(cè)到的過程變差值盡可能接近和真實(shí)地反映過程的變差值。 ? 偏倚 :觀測(cè)到的測(cè)量值的平均值與參考值之間的差值。 ? 再現(xiàn)性 (評(píng)價(jià)人變差 ):A,V 不同評(píng)價(jià)人，同一種儀器，同一零件的某一特性的測(cè)量平均值的變差。 位置變差 寬度變差 再現(xiàn)性 ? 統(tǒng)計(jì)特性在預(yù)期的范圍內(nèi)一致 ,并滿足測(cè)量目的 : *為了產(chǎn)品控制 ,測(cè)量系統(tǒng)中的變差必須小于規(guī)范限值 *為了過程控制 ,測(cè)量系統(tǒng)中的變差應(yīng)該能小于制造過程變差 ,并能證明具有有效的解析度。 2).讓一個(gè)評(píng)價(jià)者以正常方式測(cè)量樣件 ≥10次。 結(jié)果分析 ——數(shù)值法 4）計(jì)算 n個(gè)讀值的平均值 X 5）計(jì)算重復(fù)性標(biāo)準(zhǔn)差（ б重復(fù)性 或稱 бr ） 式中： 可從 表中查到，此時(shí)， g=1,m=n 6）計(jì)算偏倚 偏倚 =觀測(cè)到的平均測(cè)量值（ x） – 參考值 7）計(jì)算平均值的標(biāo)準(zhǔn)誤差 бb = n i=1 X Xi/n max(xi) – min(xi) б重復(fù)性 = d2 * d2 * d2 * n бb = бr / 8）確定偏倚的 t統(tǒng)計(jì)值 t = 偏倚 /бb 9）確定置信度，一般要求為 95%（即 α=） 偏倚 –d2[бb(tv,1 – α/2)]/ ≤0≤偏倚 +d2[бb(tv,1 – α/2)]/ 如果 0落在偏倚值附近的 1—α置信度界限內(nèi)，則偏倚在 α水準(zhǔn)上是可 接受的。然后由評(píng)價(jià)人測(cè)量該零件 15次，測(cè)得數(shù)值如下： 測(cè)量次數(shù) 參考值 偏倚 測(cè)量次數(shù) 參考值 偏倚 1 12 + 2 13 + 3 14 4 15 0 5 0 6 + 7 0 8 + 9 + 10 0 11 + 4 3 2 1 0 測(cè)量的數(shù)值 偏倚研究值的直方圖 頻 率 d* 2 n(m) 平均值 標(biāo)準(zhǔn)差 бr 平均值的標(biāo)準(zhǔn)誤差 бb 測(cè)量值 15 參考值 =, α=， g=1， n(m)=15， d*2 =， d2= 統(tǒng)計(jì)的 t值 df 顯著的 t值 （ 2有尾數(shù)的） 偏倚 偏倚 95%置信度區(qū)間 下限 上限 測(cè)量值 2 .206 X 2．確定穩(wěn)定性的指南 1)
環(huán)評(píng)公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1