材料現(xiàn)代分析方法練習與答案修改-wenkub
2022-09-01 23:21:27 本頁面
【正文】 nawalt索引；B. Fenk索引；C. Davey索引；D. A或B。5. 影響衍射儀實驗結果的參數(shù)有 、 和 等。測量θ角時，底片上每毫米對應 186。（ ）。，粉末粒度應為（ ）。三、 選擇題（ ）。3. 影響衍射強度的因素除結構因素、晶體形狀外還有 ， ， ， 。（111）晶面族的多重性因素是（ ）。，用鐵靶Kα（λKα=）照射該晶體能產(chǎn)生（ ）衍射線。 3. X射線的本質(zhì)既是 波長極短的電磁波 也是 光子束 ，具有 波粒二象性 性。 B ）；；； 2. M層電子回遷到K層后，多余的能量放出的特征X射線稱（ B ）A. Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。 5. 短波長的X射線稱 ，常用于 ；長波長的X射線稱 ，常用于 。A. 三條； B .四條； C. 五條；D. 六條。A．4；B．8；C．6；D．12。4. 考慮所有因素后的衍射強度公式為 ，對于粉末多晶的相對強度為 。A. 勞厄法；B. 粉末多法；C. 周轉晶體法；D. 德拜法。A. 325目；B. 250目；C. 在250325目之間；D. 任意大小。A. 絲狀粉末多晶；B. 塊狀粉末多晶；C. 塊狀單晶；D. 任意形狀。和 186。五、 選擇題，若采用定量X射線物相分析，常用方法是（ ）。（ ）。，通常取Ψ為（ ）進行測量。兩點；D. 0186。四點。8. 第一類應力導致X射線衍射線 ；第二類應力導致衍射線 ；第三類應力導致衍射線 。A. 1000；B. 10000；C. 40000；。A. 第二聚光鏡光欄；B. 物鏡光欄；C. 選區(qū)光欄；D. 其它光欄。A. 物鏡的物平面；B. 物鏡的像平面C. 物鏡的背焦面；D. 物鏡的前焦面。14. TEM的主要組成部分是 照明系統(tǒng) 、 成像系統(tǒng) 和 觀察記錄系統(tǒng) ；輔助部分由 真空系統(tǒng) 、 循環(huán)冷卻系統(tǒng) 和、控制系統(tǒng) 組成。2. 薄片狀晶體的倒易點形狀是（ ）。4. 能幫助消除180186。A. 估計樣品的厚度；B. 確定180186。十、 填空題16. 電子衍射和X射線衍射的不同之處在于 不同、 不同，以及 不同。20. 二次衍射可以使密排六方、金剛石結構的花樣中在 產(chǎn)生衍射花樣，但體心立方和面心立方結構的花樣中 。=0；B. Ig0；C. Ig0；D. Ig=Imax。A. 小于真實粒子大小；B. 是應變場大小；C. 與真實粒子一樣大小；D. 遠遠大于真實粒子。24. 一般情況下，孿晶與層錯的襯度像都是平行 ，但孿晶的平行線 ，而層錯的平行線是 的。2. 在掃描電子顯微鏡中，下列二次電子像襯度最亮的區(qū)域是（ ）。的表面。A. 波譜儀；B. 能譜儀；C. 俄歇電子譜儀；D. 特征電子能量損失譜。27. 掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)是 的掃描寬度與 的掃描寬度的比值。30. 掃描電子顯微鏡可以替代 進行材料 觀察，也可以對 進行分析觀察。或二次熒光。即K層的一個空位被L層的兩個空位所替代，這種現(xiàn)象稱俄歇效應。 對食鹽進行化學分析，只可得出組成物質(zhì)的元素種類（Na,Cl等）及其含量，卻不能說明其存在狀態(tài)，亦即不能說明其是何種晶體結構，同種元素雖然成分不發(fā)生變化，但可以不同晶體狀態(tài)存在，對化合物更是如此。放大倍數(shù)超出有效放大倍數(shù)的部分對提高分辨率沒有貢獻，僅僅是讓人觀察得更舒服而已，所以放大倍數(shù)意義不大。電子束在軸對稱的非均勻電場或磁場的作用下，而發(fā)生折射，從而產(chǎn)生電子束的會聚與發(fā)散，以達到成像的目的！透鏡的放大倍數(shù)一般最高在1000～1500之間遠遠高于光學顯微鏡的放大倍數(shù)，其分辨本
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