巖石礦物樣品成分分析法-wenkub
2023-07-10 02:33:55 本頁面
【正文】 動(dòng)兩個(gè)能階的能量差，這個(gè)能量差所形成射線，就是X射線。s Law）：有一窄光束以θ角打在結(jié)晶表面，射線與O, P, R處的原子作用而產(chǎn)生散射。根據(jù)粉末繞射光譜，可以鑑定結(jié)晶性物質(zhì)。光譜線的強(qiáng)度，大致與各成分的含量成正比。?以X射線繞射鑑定結(jié)晶化合物?X射線螢光分析：用強(qiáng)度很高的X射線照射樣品，樣品會(huì)因吸收X射線的能量而激發(fā)，放出所含元素本身特有的X射線光譜。其靶極的元素不能是欲分析的樣品中所含的元素。質(zhì)譜分析法的應(yīng)用是根據(jù)各物種經(jīng)游離化所產(chǎn)生的正電粒子，有不同的質(zhì)量分佈。3). 在狹縫A的小負(fù)電位會(huì)將正離子與負(fù)離子分開，且被數(shù)百到數(shù)千伏特的電位加速。P 質(zhì)譜分析法的應(yīng)用：1). 分子量的決定2). 分子式的決定3). 鑑定化合物4). 成分分析5). 元素含量分析6). 同位素含量量測(cè)P 四極質(zhì)譜儀（Quadrupole mass spectrometer，QMS）原理：四極質(zhì)譜儀主要是由四根短而平行的金屬棒，以四方形之對(duì)角線對(duì)稱排列而成。P 感應(yīng)耦合電漿質(zhì)譜儀 (ICPMS)9 / 9。這樣組合的電場(chǎng)不會(huì)使通過的粒子加速，但是卻會(huì)使粒子繞行進(jìn)的中心軸振動(dòng)。4). 進(jìn)入分析管中，壓力保持在大約107 torr，快速移動(dòng)的離子被強(qiáng)烈
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