材料分析測(cè)試技術(shù)ppt課件-wenkub
2023-05-20 18:53:22 本頁(yè)面
【正文】 ron AES 電子引發(fā)俄歇能譜 EDS energy dispersive spectroscopy 能量色散譜（能譜） EDXFS energy dispersive XFS X射線熒光能譜 EELS electron energy loss spectroscopy 電子能量損失譜 EPMA electron probe mcroanalysis 電子探針顯微分析 ESCA ESCA electron spectroscopy for chemical analysis 化學(xué)分析電子譜（ X射線光電子能譜） ESD electron stimulated desorption 電子受激解吸／脫附 FEM field emission microscope 場(chǎng)發(fā)射顯微鏡 FIM field ion microscope 場(chǎng)離子顯微鏡 FS fluorescence spectrometry （分子）熒光光譜 GC gas chromatrometry 氣相色譜法 HEED high energy electron diffraction 高能電子衍射 INS ion neutralization spectroscopy 離子中和譜 IR infrared absorption spectrum 紅外分子吸收光譜 ISS ion scattering spectroscopy 離子散射譜 LC liquid chromatography 液相色譜法 LEED low enery electron diffraction 低能電子衍射 MS mass spectroscopy 質(zhì)譜 NMR nuclear magic resonance spectroscopy 核磁共振波譜 PS photoelectron spectroscopy 光電子譜 RHEED reflection high energy electron diffraction 反射式高能電子衍射 SAM scanning Auger microprobe 掃描俄歇探針 SEAM scanning acoustic microscope 掃描電子聲學(xué)顯微鏡 SEM scanning electron microscope 掃描電子顯微鏡 SIMS secondary ion mass spectroscopy 二次離子質(zhì)譜 SNMS secondary neutral mass spectroscopy 二次中子離子譜 STM scanning tunneling micro
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