統(tǒng)計過程控制管理程序-wenkub
2023-04-27 08:13:00 本頁面
【正文】 UCLX= X ＋A2R LCLX= X —A2R式中：D D3 、A2為常數，參見下表：n2345678910D4D3A2B．3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線將平均極差和過程均值畫成水平實線，各控制限畫成水平虛線，把線標上記號。對于R圖，刻度值應從最低值為0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差的2倍。A．3計算每個子組的均值（X）和極差（R）畫在控制圖上的特性量是每個子組的樣本均值（X）和樣本極差（R），合在一起后它們分別反映整個過程的均值及其極差。數據值以及極差和均值點應縱向對齊。b． 子組頻率：應當在適當的時間收集足夠的子組，一般對正在生產的產品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班兩次、每小時一次或其他可行的頻率。b） 計量型數據；采用X—R控制圖，計算Ppk和Cpk。范圍適用于公司SPC。術語 引用SPC手冊中附錄G的術語及符號。5．1．1X—R控制圖的繪制和使用A、收集數據數據是以樣本容量恒定的小子組的形式報出的，這種子組通常包括25件連續(xù)的產品，并周期性的抽取子組（例如：每15分鐘抽樣一次，每班抽取兩次等）。c． 子組數的大?。阂话闱闆r下，包含100或更多單值讀數的25或更多個子組數可以很好的用來檢驗穩(wěn)定性。數據欄應包括每個讀數的空間。對于每個子組，計算： X1+X2+…+Xn X= n R=X最大值—X最小值式中：X1+X2+…+Xn為子組內的每個測量值。A．5將均值和極差畫在控制圖上 將均值和極差分別畫在其各自的圖上將各點用直線連接起來從而得到可見的圖形和趨勢。C．過程控制解釋C．1分析極差圖上的數據點a．超出界限的點：出現一個或多個點超出任何一個控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據。有一點位于控制限之下（對于樣本容量大小等于7的情況），說明存在下列的一種或幾種情況：1） 控制限或描點錯誤；2） 分布的寬度變?。醋兒茫?） 測量系統(tǒng)已改變（包括數據編輯或變換）。低于平均極差的鏈，或下降鏈表明存在下列情況之一或全部：1） 輸出值分布寬度減小，這常常是一個好狀態(tài)，應研究以便推廣應用和改進過程；2） 測量系統(tǒng)改變，這樣會掩蓋過程真實性能的變化。如果顯著多于2/3以上的描點落在離極差均值很近之處，則應對下列情況的一種或更多進行調查：1） 控制限計算錯誤或描點時描錯；2） 過程或取樣方法被分層；每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（例如從幾組軸中每組抽一根測取數據）；3） 數據已經被編輯；如果顯著少于2/3以下的描點落在離極差均值很近的區(qū)域，則應對下列情況的一種或兩種進行調查：1） 控制限計算錯誤或描點時描錯；2） 過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個或多個具有明顯不同的變化性的過程流的測量值（例如：輸入材料批次混淆）。由于特殊原因而從極差圖中去掉的子組，也應從均值圖中去掉。在控制圖上標注這樣的數據點。c．明顯的非隨機圖形：如明顯的趨勢（盡管它們不屬于鏈的情況），周期性，數據點的分布在整個控制限內，或子組內數據間有規(guī)律的關系等。另外，存在大約1/150的點落在控制限之外，但可認為是受控穩(wěn)定系統(tǒng)合理的一部分——就是說，%的點位于控制限之內。C．6重新計算控制限（均值圖）排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因影響的任何失控的點，然后重新計算并描畫過程均值和控制限。D．3評價過程能力根據是否符合顧客的要求來評價過程能力。必須將注意力直接集中在系統(tǒng)中，即造成過程變異性的根本因素上，例如：機器性能、輸入材料的一致性、過程操作的基本方法、培訓方法或工作環(huán)境。D．5對修改的過程繪制控制圖并分析對過程已采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應在控制圖上表現出來。在變化時期的所
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