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正文內(nèi)容

電鏡第二期理論知識(shí)培訓(xùn)-wenkub

2023-01-28 04:18:36 本頁面
 

【正文】 來。 2/10/2022 ? Edge effect (secondary electron emission differing with surface condition). 樣品表面凹凸變化大的邊緣區(qū)域,二次電子散射區(qū)域與樣品表面接近的面積增大,結(jié)果使邊緣區(qū)域二次電子發(fā)射異常地增加。 2/10/2022 背散射電子像 如果 A區(qū)的 原子序數(shù)大于 B區(qū)的原子序數(shù) ,則 A區(qū)相對(duì)于圖象上是 亮區(qū) , B區(qū)為 暗區(qū) 。 2/10/2022 掃描線圈 Scanning coils ?掃描線圈作用 使電子束偏轉(zhuǎn),并在樣品表面作有規(guī)則的掃動(dòng)。 二次電子像的分辨率約為 510nm,背反射電子像的分辨率約為 50200nm。 cc Mt gmmtgdF?? ??d0臨界分辨本領(lǐng), 電子束的入射角 c?( 3)景深 2/10/2022 27 掃描電子顯微鏡景深 2/10/2022 四、常規(guī) SEI觀察樣品的制備 樣品樁 導(dǎo)電膠 金屬樣品 粉末樣品 導(dǎo)電膜 雙面膠帶 2/10/2022 樣品制備 ? 一般 玻璃材料 , 纖維材料 , 高分子材料 以及 陶瓷材料 幾乎都是非導(dǎo)電性的物質(zhì)。 ? 鍍層太厚就可能會(huì)蓋住樣品表面的細(xì)微 ,得不到樣品表面的真實(shí)信息。 表面鍍膜最常用的方法有 真空蒸發(fā) 和 離子濺射 兩種方法。 ? 對(duì)于需要進(jìn)行元素組成分析的樣品,一般在表面蒸發(fā)輕元素作為導(dǎo)電層如:金屬鋁和碳薄膜層。 粉末樣品的電鏡試樣的制備。它會(huì)對(duì)圖像產(chǎn)生一系列的影響: ①異常反差。 ③圖像漂移。 2/10/2022 2/10/2022 ? 通過長期、大量的實(shí)驗(yàn),我們發(fā)現(xiàn)減少荷電效應(yīng)的方法: ①導(dǎo)電法。 把加速電壓降低,入射電子數(shù)與二次電子發(fā)射數(shù)相等,就不產(chǎn)生電荷積累,消除荷電效應(yīng)。 以盡快的速度觀測(cè)和拍攝,使荷電效應(yīng)影響不大時(shí)結(jié)束。 2/10/2022 所有試樣檢驗(yàn)前須在超聲波清洗儀里用酒精清洗,清洗完畢后用風(fēng)機(jī)吹干; 處理過的樣品在放入樣品倉前用吸耳球反復(fù)吹掃表面,吸耳球吹不掉的即可放入樣品倉; 試樣高度以 10mm以下為宜,太高的樣品因信號(hào)傳輸受阻影響成像效果; 不能檢測(cè)磁性樣品,磁性樣品對(duì)電子束有影響,無法成像,可實(shí)現(xiàn)對(duì)其消磁 。另外,應(yīng)盡可能使用低倍觀察。但因此會(huì)使分
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