【正文】 (有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的產(chǎn)品輸出 ) 標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差的關(guān)系 (對于給定的樣本容量 ﹐ 平均極差一越大 ﹐ 標(biāo)準(zhǔn)偏差越大 ) 來自示例 (用均值極差來估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 ) 范圍 范圍 規(guī)范下限 (LSL) 規(guī)范上限 (USL) 規(guī)范下限 (LSL) 規(guī)范上限 (USL) 范圍 范圍 (LSL) (USL) (LSL) (USL) 范圍 范圍 范圍 (USL) (LSL) 500 900 738 x? 14 ◎ 過程能力指數(shù) 短期 :是以從一個操作循環(huán)中獲取的測量為基礎(chǔ)的。 ◎ 過程類別 :可分四類 統(tǒng)計(jì)過程概述 4. 局部措施和對系統(tǒng)採取措施 消除變差的特殊原因 ,通?？杉m正大約 15%的過程問題 直接操作 消除變差的普通原因 ,通?？杉m正大約 85%的過程問題 管理系統(tǒng) 10 為了達(dá)到消費(fèi)者之期望 在圖 25的制程中 ﹐ 平均與變異于生產(chǎn)期間保養(yǎng)不變 ﹐ 此制程可解為穩(wěn)定的 (即在統(tǒng)計(jì)管制下 ) 圖 26說明制程是不是在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下顯示制程遭受某種就變動而影響其平均值 ﹐ 此時制程被稱為是非管制圖狀態(tài)。 ◎?qū)敵鰭袢〈胧? ○僅對輸出進(jìn)行檢驗(yàn)並隨之採取措施不是一種有效的管理方法 ○重點(diǎn)在對過程信息收集和分析上 ,以便對過程本身採取糾正 措施。 性能 : 取決於供方和顧客之間的溝通 ,通常含蓋 , 過程設(shè)計(jì) ,過程 實(shí)施 ,過程運(yùn)作 ,過程管理。 . 如果測量系統(tǒng)缺少統(tǒng)計(jì)控制 ,或變差占過程數(shù)據(jù)總變差中很 大比例 ,就可能作出不當(dāng)?shù)臎Q定 。 6 統(tǒng)計(jì)過程概述 :統(tǒng)計(jì)過程的需要 檢測 :容許浪費(fèi) 通過質(zhì)量控制來檢查最終產(chǎn)品並剔 除 不符合規(guī)範(fàn)的產(chǎn)品 ,管理部門靠檢 查或重新檢查工作來找出錯誤 。 ◎有關(guān)性能的信息 : ○ 通過分析過程輸出可以獲得許多與過程實(shí)際性能有關(guān)的信息。 8 統(tǒng)計(jì)過程概述 :普通原因及特殊原因 變差是如何影響過程輸出 ◎ 理解變差的概念 : ○ 任何過程都存在著許多引起變差的原因 ○ 從要求的角度 ,將變差的問題簡單化 ◎ 變差如何影響過程輸出 ○ 分佈特性區(qū)別 :普通原因和特殊原因 ○ 普通原因 :“處於統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)”或”受統(tǒng)計(jì) 控制”其表現(xiàn)為一個穩(wěn)定系統(tǒng)的 偶然原因 ,其輸出是可預(yù)測的。 圖 25 圖 26 11 圖 27說明制程是不在統(tǒng)計(jì)管制狀態(tài)下 ,顯示制程遭受某種變動 ,而影響其制程的變異以不定的狀態(tài)改變 ,此時制程被稱為是非管制狀態(tài)。 長期 :測量時間較長而能獲得預(yù)計(jì)到的變差的原因。 統(tǒng)計(jì)過程概述 15 ?Cp D ?Cp ≥ C ?Cp ≥ B Cp?2 A Cp 等級 ◎ 過程能力 (Cp)Capability of process(Capability of Precision) ○ 衡量產(chǎn)品分散寬度符合公差的程序 ○ Cp值愈小 ,表示能力差 ,反之表示好 B A 規(guī)格下限 規(guī)格上限 ????36 . 05 . 166756 . 2 64 10438 . 068 . 13628 . 2 64 106? ???? ?????? ?CpbCpalsl uslCpBACp?實(shí) 際 分 散 寬 度規(guī) 格 寬 度4 7 10 ◎ Cp等級評定 16 二、制程精密度 Cp(Capability of Precision) Cp值系在衡量制程之變異寬度與規(guī)格界限範(fàn)圍 (規(guī)格允差 )的情形。 制程精密度 Cp代表規(guī)格界限和實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)差之比。 C級 :表示尚可 ,但需立即找出對策 ,加以改善 ,不要使其品質(zhì)惡化。2mm,每班生產(chǎn)實(shí)際狀 況分別為早班 。 。 Ca值系應(yīng)用在變邊規(guī)格的準(zhǔn)確度分析。所以 Ca值越小表示偏離規(guī)格值越集中，準(zhǔn)確度越良好。 6 849 。 。精確度良好 ,態(tài)太大變異 ,但製程中心不良 ,則不良率也會提高 ,如圖 66中 .x偏 LSL(規(guī)格下限 )﹐ 且變異也大。 CaTxKTKC PK ??????2,6)1( ??????3)(3)())(),(()()1(L S LLC p kU S LuC p kLC p kUC p kM i nC p kCpCaC p k???????﹐或變邊規(guī)格? ?x規(guī)格下限 規(guī)格上限 超過管制 界限的機(jī)率 x?圖 66 Cpk值之意義圖解 母體均數(shù) 24 統(tǒng)計(jì)過程概述 ７ .控制圖 過程控制工具可控制和不可控制的變差 ８ .控制圖的益處 ◎ 控制圖的功能 ○數(shù)據(jù)的收集 ○控制限 :利用數(shù)據(jù)計(jì)算試驗(yàn)控制限 ○分析及改進(jìn) ● 管理措施 ● 對於調(diào)整過程的變差 ,應(yīng)在顧客滿意和經(jīng)濟(jì)性 兩方面進(jìn)行權(quán)衡 ○更高的質(zhì)量。 找出存在特殊原因信號 ,並進(jìn)行調(diào)查。 2均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) ○ 如果均值處於統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ,其變差便與極差圖中的變差有關(guān) ○如果均值沒能受控 ,則存在造成過程位置不穩(wěn)定的特殊原因變差 21超出控制限的點(diǎn) 為特殊原因 ,需立即對操作進(jìn)行分析。 O計(jì)算過程能力 通過過程平均不合格品率 來表示，如需要，還可以用符合規(guī) 範(fàn)的比率（１－ ）來表示。 P36 ?收集數(shù)據(jù) (可參照 P圖 P16) O樣本的容量必需相同 O分組周期應(yīng)按生產(chǎn)間隔或反饋系統(tǒng)而定 ?計(jì)算控制制 (參照 P圖 P16) 不同之處為 np 上下控制限 UCLnp LCLnp ?過程控制解釋 (參照 P圖 P17) ?過程能力解釋 (參照 P圖 P17) :不合格數(shù) 一個檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格的數(shù)量 ,主要應(yīng)用於下列檢驗(yàn) O不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 ,以及可以用不合格的平均率表示的地方 O在單個的產(chǎn)品檢驗(yàn)中 ,可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格。 = nuu3?uLCLuUCLukknnncccu...........2121??