spc統(tǒng)計制程管制與基本概念(已修改)
2024-10-24 22:16 本頁面
【正文】 統(tǒng)計制程管制SPC,一. 基 礎(chǔ) 篇,SPC基本概念,SPC(Statistical Process Control) 統(tǒng)計制程管制 是由制程調(diào)查來改進(jìn)制程能力,不斷降低產(chǎn)品品質(zhì)的變異性,而達(dá)到提升產(chǎn)品品質(zhì)的一種方法,其主要工具為管制圖. 是一套將制程中所收集的資料,透過制程能力分析與標(biāo)準(zhǔn)化,去發(fā)掘制程異常,立即實施改善措施,使制程恢復(fù)正常運(yùn)作的統(tǒng)計手法. S (Statistical) : 統(tǒng)計 P (Process) : 制程 C (Control) : 管制,SPC管制目的,分辯共同原因與特殊原因,并分別加以改善 局部問題改善: 通常會牽涉到消除變異產(chǎn)生的特殊原因 可以直接由該制程人員直接加以改善 大約能夠解決15%的制程上的問題 系統(tǒng)改善: 通常必須要改善造成變異的共同原因 經(jīng)常需要管理階的努力與對策 大約有85%的問題是屬于此類系統(tǒng)改善,SPC起源與發(fā)展背景,管制圖于1924年由 W.A Shewhart 發(fā)明,并于1931年發(fā)表了,英美及日本都將管制圖制定方法定為國家標(biāo)準(zhǔn).,SPC的功能,SPC可以確保現(xiàn)場作業(yè)人員的知識和自尊. SPC可以解決 X理論(提高生產(chǎn)力與品質(zhì)) 與Y理論(工作人性化)的衝突. SPC可以迅速反映制程調(diào)整的效果,指出 制程中最需要解決的問題.還可徹底消除 問題,預(yù)防問題再度發(fā)生.,SPC的觀念,沒有任何兩件事.人.產(chǎn)品是一模一樣的. 變異原因是可以衡量的. 事情的改變通常都依據(jù)一個明確的模式. 宇宙萬物和工業(yè)產(chǎn)品大部份都呈現(xiàn) 常態(tài)分配.,統(tǒng)計數(shù)據(jù)類型:計量。計數(shù) 計量性的 例如: 長度, 溫度,重量,電流值等. 計數(shù)性的 例如: 一個人, 一張床, 一條魚等 品質(zhì)變異之一般統(tǒng)計規(guī)律:,3σ,2σ,1σ,μ,+1σ,+2σ,+3σ,0.135%,0.135%,99.73%,95.45%,68.27%,常態(tài)分配:,常態(tài)分布兩個重要參數(shù): 平均值 μ:描述品質(zhì)特性值之集中位置 標(biāo)準(zhǔn)差σ : 描述品質(zhì)特性值之分散程度 請看以下幾個例子: 第一組數(shù)據(jù): 10.10 10.20 10.30 第二組數(shù)據(jù): 10.10 10.25 10.40 第三組數(shù)據(jù): 10.20 10.25 10.30 第四組數(shù)據(jù): 10.05 10.25 10.45 問題一:它們的平均值相等嗎? 問題二:若SPEC定在10.25177。0.15,它們合格嗎? 問題三:哪一組數(shù)據(jù)比較好?,常態(tài)分配是SPC管制圖的基本理論,品質(zhì)變異的原因,1.機(jī)遇原因(Chance cause) 隨機(jī)因素,偶因,過程固有的,始終存在,不可避免的原因、非人為的原因、共同原因、偶然原因、一般原因,是屬於管制狀態(tài)的變異. 機(jī)遇原因(偶然性,不易識別,不易消除, 大量的.) 如:同批材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的不均勻性表現(xiàn)的微小差異, 設(shè)備的微小振動,刀具的正常磨損,以及操作者細(xì)微 的不穩(wěn)定等. 其對品質(zhì)變異起著細(xì)微的作用,但難以排除.,品質(zhì)變異的原因,2.非機(jī)遇原因( Assignable cause可查明因素) 系統(tǒng)因素,異因,非過程固有,有時存在,有時不存在,可避免的原因、人為原因、特殊原因、異常原因、局部原因等.此種原因,應(yīng)采取行動,使制程恢復(fù)正常,進(jìn)入管制狀態(tài). 非機(jī)遇原因(系統(tǒng)性,易識別,可以消除, ) 如:使用了不合規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的原材料,設(shè)備的不正確調(diào)整, 刀具的嚴(yán)重磨損,操作者偏離操作規(guī)程等. 其對品質(zhì)變異影響程度大,生產(chǎn)失控,為異常原因, 但不難排除. 管制圖上的控制界限就是區(qū)分偶波與異波的科學(xué) 界限,計量值管制圖(Control Charts For Variables): a.平均值與全距管制圖( XR Chart ) b.中位值與全距管制圖( XR Chart ) c.個別值與移動全距管制圖( XRm Chart ) d.平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖( Xσ Chart ),管制圖的種類(性質(zhì)分類),~,計數(shù)值管制圖(Control Charts For Attributes) a.不良率管制圖 ( P Chart ) b.不良數(shù)管制圖 ( Pn Chart or d Chart ) c.缺點數(shù)管制圖 ( C Chart ) d.單位缺點數(shù)管制圖 ( U Chart ),管制圖的種類(用途分類),解析用管制圖 先有數(shù)據(jù),后才有管制界限 A.決定方針用. B.制程解析用. C.制程能力
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