品質(zhì)管理部檢驗(yàn)教程a-243a3(已修改)
2025-01-18 00:20 本頁面
【正文】 品質(zhì)管理部檢驗(yàn)教程 硅的化學(xué)符號為 Si,元素周期表中，第三周期，第 Ⅳ A族元素，原子序數(shù) 14，原子量 28，化合價為 ﹢ 4價和 ﹢ 2價。 晶體結(jié)構(gòu)：金剛石結(jié)構(gòu)（正四面體），原子間以 共價鍵結(jié)合。 按晶體結(jié)構(gòu)分：單晶硅、多晶硅 單晶硅：在晶體中，組成的原子按一定規(guī)則呈 周期性排列。 多晶硅：由許多不同方位的單晶組成。 按導(dǎo)電類型劃分： N型、 P型 按硅的形狀劃分：粉狀、粒狀、塊狀、棒狀、片狀等。 按應(yīng)用領(lǐng)域劃分：太陽能級、電子級、航天級 硅的基礎(chǔ)知識 在自然界中沒有游離態(tài)的單質(zhì)硅，硅以化合物的形態(tài)存在。在地殼中硅含量很大，氧約占地殼的二分之一，硅約占四分之一（ %）。硅中主要非金屬雜質(zhì)有 O、 C、 P、 B等，主要金屬雜質(zhì)有 Fe、Cu等，含量一般為百萬分之一、十億分之一、千億分之一。硅中沒有雜質(zhì)，一般是沒有用途的，但對雜質(zhì)含量有一定的要求。例如：①重金屬使反向電流增加，壽命下降。②氧的存在，好像引入了一定量的施主，叫熱施主。嚴(yán)重影響少子壽命，會經(jīng)常造成假壽命，因?yàn)檠跖c重金屬結(jié)合，在熱處理時，降低壽命。另外，也影響微晶、電阻率等重要指標(biāo)。③ P、 B決定材料的導(dǎo)電類型。 ? 一個企業(yè)的生產(chǎn)技術(shù)是企業(yè)的生命，而質(zhì)量同樣也是企業(yè)的生命。一個企業(yè)的好壞不單是企業(yè)利潤的多少，嚴(yán)格的質(zhì)量把關(guān)才是最關(guān)鍵的！試想，我們的產(chǎn)品投放市場后由于質(zhì)量問題無人問津，產(chǎn)品銷量上不去，你想這樣的企業(yè)還能生存下去多長時間呢？質(zhì)量管理不嚴(yán)，生產(chǎn)過程中有多少半成品由于質(zhì)量問題而報廢或者返修？質(zhì)量的把關(guān)是靠所有參與產(chǎn)品生產(chǎn)的員工及其管理生產(chǎn)和管理質(zhì)量的企業(yè)領(lǐng)導(dǎo)共同做到。 ? 很多企業(yè)由于對質(zhì)量管理的理解不深，將質(zhì)量管理等同于質(zhì)量檢驗(yàn)，認(rèn)為質(zhì)量管理就是對已經(jīng)生產(chǎn)出來的產(chǎn)品進(jìn)行簡單的“質(zhì)量把關(guān)”及“不良品處理”。而忽視了質(zhì)量的事前控制與事中的過程控制，進(jìn)而使質(zhì)量管理人員疲于奔命，東邊“著火”就趕到東邊“救火”、“西邊洪水泛濫”就趕到西邊“抗洪”，哪里出現(xiàn)問題就哪里“搶險”，最終偏離了質(zhì)量“管理”的方向。 質(zhì)量管理的重要性 一、硅錠檢驗(yàn) 規(guī)格： 840 840 （ 255304） mm 測量方法： 核對硅錠的編號與記錄表單是否一致 看硅錠的外觀是否光滑 是否有粘鍋 是否有缺陷 用皮尺測量它的長、寬（不常測），用直尺測量它的高。單位為毫米，讀取數(shù)據(jù)為小數(shù)點(diǎn)后保留一位小數(shù)。 用地秤測量它的重量。單位為千克，讀取數(shù)據(jù)小數(shù)點(diǎn)后保留一位小數(shù)。 。 測量工具：皮尺、地秤、直尺 記錄： 把測量好的數(shù)據(jù)填寫在相應(yīng)的檢驗(yàn)記錄表單上，記錄數(shù)據(jù)一定要書寫清楚。相應(yīng)的記錄表單為《硅錠檢驗(yàn)記錄表》。 硅錠的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)： 外觀標(biāo)準(zhǔn)：硅錠光滑無粘鍋、無崩邊、無裂紋等。 硅錠的外觀標(biāo)準(zhǔn)尺寸是 840 840（255304） mm. 目的是檢驗(yàn)鑄錠和切方過程中存在的工藝問題和操作 的不規(guī)范對硅塊造成的內(nèi)部缺陷，滿足后序工藝的要求。 測量工具：游標(biāo)卡尺、萬能角度尺、電子稱、紅外晶錠探傷儀、硅棒載流子壽命測試系統(tǒng)、金屬四探頭電阻率方阻測試儀、 P/N導(dǎo)電類型鑒別儀 (硅料綜合測試儀 )。 測量方法： ①取料后先進(jìn)行編號的核對，要保證物、單一致。 ②外觀檢驗(yàn)：與送檢人員一起看硅塊的外觀是否有裂痕、缺角、崩邊等缺陷。如有使用游標(biāo)卡尺測量缺陷長度。 二、硅塊檢驗(yàn) 缺陷測量 缺陷記錄：例如：實(shí)際長度為 257mm,崩邊長度為 5mm,則合格長度應(yīng)為 252mm。（或記為 2575 mm） ③ 硅塊邊長的測量 用游標(biāo)卡尺測量硅塊的長度、四個邊的尺寸和對角線的尺寸，用萬能角度尺測量四個側(cè)面的直角度，用電子秤稱硅塊的重量。 數(shù)據(jù)記錄：游標(biāo)卡尺（精度 ）測量硅棒的長度， 四個切面均測得一組數(shù)據(jù)，取最小值，單位為
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