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微電子器件測(cè)試與封裝-第四章(已修改)

2025-01-09 04:40 本頁(yè)面
 

【正文】 微電子器件測(cè)試與封裝 第四章 深愛(ài)半導(dǎo)體股份有限公司封裝部 謝文華 器件的分類 Page 2 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件測(cè)試 SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD ? 半導(dǎo)體器件 ? 一、集成電路 ? ASIC ? 存儲(chǔ)器 ? FPGA ? 二、分立器件 ? 雙極晶體管 ——Transistor ? 場(chǎng)效應(yīng)晶體管 ——MOSFET ? 可控硅 —— SCR ? 二極管 —— Diode ? IGBT 2 ? ICEO,ICBO,IEBO ? BVCEO,BVCBO,BVEBO ? VCESAT、 VBESAT ? hFE ? VFBE 、 VFBC 、 VFEC ? 開(kāi)關(guān)時(shí)間: TS、 TF ? 熱阻 雙極晶體管的參數(shù) 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件測(cè)試 Page 4 SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD ? :柵源漏電 ? : 漏源漏電 ? : 漏源反向擊穿電壓 ? : 開(kāi)啟電壓 ? : 導(dǎo)通電阻 ? : 源漏正向電壓 ? : 跨導(dǎo) ? : 夾斷電壓 G D S MOSFET的參數(shù) 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件的測(cè)試 4 IGBT的參數(shù) 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件測(cè)試 ? ICEO,ICBO,IGE ? BVCEO,BVCBO,BVEBO ? VCESAT、 VBESAT ? VTH ? VFBE 、 VFBC 、 VFEC ? GMP: GFS ? 熱阻 ? VF ? VR ? IR 二極管的參數(shù) 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件測(cè)試 Page 7 SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD ? 半導(dǎo)體器件測(cè)試的目的: ? 檢驗(yàn)產(chǎn)品能否符合技術(shù)指標(biāo)的要求 ? 剔除不良品 ? 根據(jù)參數(shù)進(jìn)行分選 ? 可靠性篩選 ? 測(cè)試內(nèi)容: ? 靜態(tài)電參數(shù) ? 動(dòng)態(tài)電參數(shù) ? 熱阻 ? 可靠性測(cè)試 ? 按階段分 ? 芯片測(cè)試(中測(cè)) ? 成品測(cè)試(成測(cè)) 器件的測(cè)試 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件測(cè)試 根據(jù)不同環(huán)境,可分為 : 常溫測(cè)試 高溫測(cè)試 低溫測(cè)試 7 Page 8 SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO.,LTD 器件的符號(hào) 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件測(cè)試 G D S 8 自動(dòng)分選機(jī) 器件的測(cè)試 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件測(cè)試 測(cè)試系統(tǒng) 常規(guī)測(cè)試系統(tǒng) ( JUNO DTS1000) TS測(cè)試系統(tǒng) 氣槍 主顯示器 (顯示參數(shù)、調(diào)用程序) 報(bào)警燈 測(cè)試站(測(cè)頭) 計(jì)數(shù)顯示器 震盤與導(dǎo)軌 自動(dòng)分選機(jī) 靜態(tài)參數(shù)測(cè)試設(shè)備介紹 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件測(cè)試 圖示儀: QT2晶體管特性圖示儀 370B圖示儀 576圖示儀 靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng): DTS1000分立器件測(cè)試系統(tǒng) TESEC 881測(cè)試系統(tǒng) JCT200測(cè)試系統(tǒng) 聯(lián)動(dòng)科技分立器件測(cè)試系統(tǒng) 可靠性測(cè)試設(shè)備介紹 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件測(cè)試 熱阻測(cè)試儀 TESEC KT9614熱阻測(cè)試儀 TESEC KT9414熱阻測(cè)試儀 EAS測(cè)試系統(tǒng) ITC5500 EAS測(cè)試系統(tǒng) TESEC 3702LV測(cè)試系統(tǒng) 覺(jué)龍 T331A EAS測(cè)試系統(tǒng) SOA TESEC SOA測(cè)試儀 其他 DY2993晶體管篩選儀 動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試設(shè)備介紹 內(nèi)容 |半導(dǎo)體器件測(cè)試 雙極晶體管
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