【正文】 湖北省建設(shè)工程質(zhì)量檢測(cè)人員培訓(xùn)教材 建筑材料檢測(cè)（建筑裝飾材料） 華中科技大學(xué) 武漢華中科大土木工程檢測(cè)中心 李繼能 75354427 第十二章 建筑裝飾材料 知識(shí) 掌 握要求 陶瓷磚定義和分類(lèi) 陶瓷磚性能指標(biāo) 陶瓷磚試驗(yàn)方法 天然飾面石材定義和分類(lèi) 天然飾面石材技術(shù)要求 天然飾面石材檢測(cè)依據(jù)與試驗(yàn)方法 檢驗(yàn)規(guī)則 第十二章 建筑裝飾材料 飾面磚粘結(jié)強(qiáng)度檢測(cè) 飾面磚粘結(jié)強(qiáng)度檢測(cè)依據(jù) 飾面磚粘結(jié)強(qiáng)度檢測(cè)設(shè)備與環(huán)境 飾面磚粘結(jié)強(qiáng)度檢測(cè)方法與數(shù)據(jù)處理 飾面磚粘結(jié)強(qiáng)度檢驗(yàn)評(píng)定 知識(shí) 掌 握要求 ? 了解陶瓷磚分類(lèi)，熟悉檢測(cè)依據(jù)，掌握常規(guī)試驗(yàn)內(nèi)容與檢測(cè)方法。 ? 了解飾面石材分類(lèi)，熟悉檢測(cè)依據(jù)，掌握常規(guī)試驗(yàn)內(nèi)容與檢測(cè)方法。 ? 了解飾面磚檢測(cè)要求，熟悉檢測(cè)依據(jù)，掌握檢測(cè)方法與評(píng)價(jià)。 陶瓷磚定義和分類(lèi) ? 定義： 由 黏土 或其他無(wú)機(jī)非金屬原料，經(jīng)成型燒結(jié)等工藝處理，用于裝飾與保護(hù)建筑物、構(gòu)筑物、墻面及地面的板狀或塊狀陶瓷制品。 ? 分類(lèi)： ? 按成型方法分為：擠壓成型陶瓷磚和干壓成型陶瓷磚、其他方法成型的磚。 ? 按吸水率分為低吸水率磚（ I類(lèi)， E≤3% ）、中吸水率磚（ Ⅱ 類(lèi)， 3%＜E≤10% ）、高吸水率磚（ Ⅲ 類(lèi)， E＞ 10%）。 ? 干壓陶瓷磚按吸水率的不同 ,可分為瓷質(zhì)磚（ E≤% ）、炻瓷磚（ %＜ E≤3% ）、細(xì)炻磚（ 3%＜ E≤6% ）、炻質(zhì)磚（ 6%＜ E≤10% ）和陶質(zhì)磚（ E＞ 10%）五類(lèi)。 ? 炻：介于陶和瓷之間的一種陶瓷制品。 ? 陶瓷磚根據(jù)有無(wú)釉面分為有釉磚（ GL）和無(wú)釉磚 (UGL)。 ? 使用部位分為墻磚和地磚。 陶瓷磚性能指標(biāo) 不同產(chǎn)品陶瓷磚產(chǎn)品性能要求 以上要求來(lái)自于標(biāo)準(zhǔn) GB/T 41002023 陶瓷磚 陶瓷磚試驗(yàn)方法 檢測(cè)依據(jù)： ? 《陶瓷磚》 GB/T 4100— 2023； ? 《陶瓷磚試驗(yàn)方法 》 GB/T ～ 16 ? 《建筑飾面材料鏡向光澤度測(cè)定方法》 GB/T 13891— 2023 ? 《 外墻飾面磚工程施工及驗(yàn)收規(guī)范 》 JGJ1262023 ? 《住宅裝飾裝修工程施工規(guī)范》 GB 50327— 2023 ? 《 建筑裝飾裝修工程質(zhì)量驗(yàn)收規(guī)范 》 GB502102023 ? 《 建筑工程飾面磚粘結(jié)強(qiáng)度檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 》 JGJ1102023 陶瓷磚試驗(yàn)方法 ? 常規(guī)試驗(yàn) ： 尺寸、表面質(zhì)量、吸水率、破壞強(qiáng)度、斷裂模數(shù) 、無(wú)釉磚耐磨深度、有釉磚表面耐磨性、線性熱膨脹、抗熱震性、有釉磚抗釉裂性、 抗凍性 、磨擦系數(shù)、濕膨脹、小色差、抗沖擊性、 拋光磚光澤度 、耐污染性、耐化學(xué)腐蝕性、有釉磚鉛和鎘的溶出量等。 陶瓷磚試驗(yàn)方法 技術(shù)指標(biāo) : ? 表面質(zhì)量：至少 95%的磚主要區(qū)域無(wú)明顯缺陷。 ? 抗熱震性：經(jīng)試驗(yàn)應(yīng)無(wú)裂紋。 ? 有釉磚抗釉裂性：經(jīng)試驗(yàn)應(yīng)無(wú)釉裂。 ? 拋光磚光澤度： ≥ 55(適用于有鏡面效果的磚，不包括半拋光磚和局部拋光的磚）。 ? 抗凍性：經(jīng)循環(huán)試驗(yàn)后應(yīng)無(wú)裂紋或剝落。 ? 吸水率： BⅠa 類(lèi)（瓷質(zhì)磚）： 平均值 ≤ %，單個(gè)值 ≤ % BⅠb 類(lèi)（ 炻瓷磚 ）： %E≤3% ，單個(gè)最大值≤ % BⅡa 類(lèi)（細(xì)炻磚 ）： 3%E≤6% ，單個(gè)最大值 ≤ % BⅡb 類(lèi)（炻質(zhì)磚 ）： 6%E≤10% ，單個(gè)最大值 ≤ 11% BⅢ 類(lèi)（陶質(zhì)磚）： 平均值 10%，單個(gè)最小值 9% 破壞強(qiáng)度 ： ? BⅠa 類(lèi)： ≥ 1300（厚度 ≥ ）， ≥ 700(厚度 ) ? BⅠb 類(lèi)： ≥ 1100（厚度 ≥ ）， ≥ 700(厚度 ) ? BⅡa 類(lèi)： ≥ 1000（厚度 ≥ ）， ≥ 600(厚度 ) ? BⅡb 類(lèi)： ≥ 800（厚度 ≥ ）， ≥ 600(厚度 ) ? BⅢ 類(lèi)： ≥ 600（厚度 ≥ ）， ≥ 350(厚度 ) ? 斷裂模數(shù)： BⅠa 類(lèi)：平均值 ≥ 35，單值 ≥ 32 BⅠb 類(lèi)：平均值 ≥ 30，單個(gè)最小值 ≥ 27 BⅡa 類(lèi)：平均值 ≥ 22，單個(gè)最小值 ≥ 20 BⅡb 類(lèi)：平均值 ≥ 18，單個(gè)最小值 ≥ 16 BⅢ 類(lèi)：平均值 ≥ 15，單個(gè)最小值 ≥ 12 ? 尺寸和表面質(zhì)量試驗(yàn) ? ? （ 1）陶瓷磚變形綜合測(cè)定儀：能安放定位銷(xiāo)和百分表； ? （ 2）測(cè)厚儀：測(cè)頭直徑為 5mm～ 10mm的螺旋測(cè)微器或千分尺； ? （ 3）游標(biāo)卡尺：精度 ； ? （ 4）百分表：精度 ； ? （ 5）金屬直尺； ? （ 6）塞尺、標(biāo)準(zhǔn)板； ? （ 7）熒光燈： (照度為 300lx)及照度計(jì)。 ? （ 8）測(cè)量邊直度、直角度和平整度的儀器見(jiàn) 圖 瓷磚綜合測(cè)度 儀器 、測(cè)厚儀 S B S A S C I A I B I C 磚 D A D B D C D D D E D F ? （ 1）長(zhǎng)度、寬度和厚度測(cè)量 每種類(lèi)型取 10塊 整磚進(jìn)行尺寸測(cè)量； （ 2）邊直度、直角度、平整度（彎曲度和翹曲度）的測(cè)量 每種類(lèi)型取 10塊 整磚進(jìn)行尺寸測(cè)量； （ 3）表面質(zhì)量的測(cè)量 對(duì)于 邊長(zhǎng)小于 600mm的磚，每種類(lèi)型 至少取 30塊 整磚進(jìn)行檢驗(yàn)，且面積不小于 1m2；對(duì)于邊長(zhǎng) 不小于 600mm的磚 ，每種類(lèi)型至少取10塊 整磚進(jìn)行檢驗(yàn)，且面積不小于 1m2。 （ 1）長(zhǎng)度與寬度測(cè)量 1)在 離磚角 5mm處量測(cè)磚的每條邊，測(cè)量值精確到 。 2)正方形磚的 平均尺寸是四條邊測(cè)量值的平均值 。 試樣的平均尺寸是 40次 測(cè)量值的 平均值 。長(zhǎng)方形磚尺寸以對(duì)邊兩次測(cè)量值的平均值作為相應(yīng)的平均尺寸，試樣長(zhǎng)度和寬度的平均尺寸分別是 20次測(cè)量值的平均值。 （ 2）厚度測(cè)量 1)對(duì)表面平整的磚，在磚面上畫(huà)兩條對(duì)角線，測(cè)量四條線段上最厚的點(diǎn)，每塊試樣測(cè)量 4點(diǎn)，測(cè)量值精確到 。 2)對(duì)表面不平整的磚，垂直于一邊在磚面上畫(huà)四條直線，四條直線距磚邊的距離分別為邊長(zhǎng)的 ； ； ；和 ，在每條直線上的最厚處測(cè)量厚度。 3)對(duì)每塊磚以 4次測(cè)量值的平均值作為單塊磚的平均厚度。試樣的平均厚度是 40次測(cè)量值的平均值。 （ 3）邊直度測(cè)量 1） 在磚的平面內(nèi)，邊的中央偏離直線的偏差稱(chēng)為邊直度。 2） 當(dāng)磚放在儀器的支承銷(xiāo) (SA、 SB、 SC)上時(shí)，使定位銷(xiāo)(IA、 IB、 IC)離被測(cè)邊每一角點(diǎn)的距離為 5 mm(見(jiàn)圖 121)。將合適的標(biāo)準(zhǔn)板準(zhǔn)確地置于儀器的測(cè)量位置上，調(diào)整分度表的讀數(shù)至合適的初始值。取出標(biāo)準(zhǔn)板，將磚的正面恰當(dāng)?shù)姆旁趦x器的定位銷(xiāo)上，記錄邊中央處的分度表讀數(shù)。如果是正方形磚，轉(zhuǎn)動(dòng)磚的位置得到 4次測(cè)量值。每塊磚都重復(fù)上述步驟。如果是長(zhǎng)方形磚，分別使用合適尺寸的儀器來(lái)測(cè)量其長(zhǎng)邊和寬邊的邊直度。測(cè)量值精確到 。 （ 2）直角度測(cè)量 1） 將磚的一個(gè)角緊靠著放在用標(biāo)準(zhǔn)版校正過(guò)的直角上 (見(jiàn)圖 122)，該角與標(biāo)準(zhǔn)直角的偏差。直角度用百分比表示。 圖 122 直角度 2） 選擇尺寸合適的儀器，當(dāng)磚放在儀器的支承銷(xiāo) (SA、SB、 SC)是時(shí)，使定位銷(xiāo) (IA、 IB、 IC)離被測(cè)邊每一角點(diǎn)的距離為 5 mm(見(jiàn)圖 121)。 將合適的標(biāo)準(zhǔn)板準(zhǔn)確地置于儀器的測(cè)量位置上，調(diào)整分度表的讀數(shù)至合適的初始值。 取出標(biāo)準(zhǔn)板，將磚的正面恰當(dāng)?shù)姆旁趦x器的定位銷(xiāo)上，記錄離角點(diǎn) 5mm處分度表讀數(shù)。如果是正方形磚，轉(zhuǎn)動(dòng)磚的位置得到 4次測(cè)量值。每塊磚都重復(fù)上述步驟。如果是長(zhǎng)方形磚，分別使用合適尺寸的儀器來(lái)測(cè)量其長(zhǎng)邊和寬邊的邊直度。測(cè)量值精確到 。 （ 3）平整度測(cè)量 表面平整度：由磚的表面上 3點(diǎn)的測(cè)量值來(lái)定義。有凸紋浮雕的磚，如果表面無(wú)法測(cè)量，可能時(shí)應(yīng)在其背面測(cè)量。 邊彎曲度：磚一條邊的中點(diǎn)偏離由 4個(gè)角點(diǎn)中的三點(diǎn)所確定的平面的距離（如圖 122所示）。以百分比表示。 選擇尺寸合適的儀器，將相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)板準(zhǔn)確的放在 3個(gè)定位支承銷(xiāo) (SA、 SB、 SC)上，每個(gè)支撐銷(xiāo)的中心到磚邊的距離為 10mm，外部的兩個(gè)分度表 (DE、 DC)到磚邊的距離也為 10mm。 調(diào)節(jié) 3個(gè)分度表（ DD、 DE、 DC)的讀數(shù)至合適的初始值（見(jiàn)圖 121）。 使定位銷(xiāo) (IA、 IB、 IC)離被測(cè)邊每一角點(diǎn)的距離為5mm(見(jiàn)圖 121)。 取出標(biāo)準(zhǔn)板，將磚的釉面或合適的正面朝下置于儀器上，記錄 3個(gè)分度表的讀數(shù)。如果是正方形磚，轉(zhuǎn)動(dòng)試樣，每塊試樣得到 4次測(cè)量值。每塊磚都重復(fù)上述步驟。如果是長(zhǎng)方形磚，分別使用合適尺寸的儀器來(lái)測(cè)量。記錄每塊磚最大的中心彎曲度（ DD)，邊彎曲度（ DE)和翹曲度（ DC)，測(cè)量值精確到 。 （ 4） 表面質(zhì)量： 將磚的正面表面用照度為 300lx(lx:光照度，就是 L