cqsaaa第4章-基于缺陷模式的軟件測(cè)試(已修改)
2025-08-05 09:21 本頁(yè)面
【正文】 基于缺陷模式的軟件測(cè)試 基于缺陷模式的軟件測(cè)試 ? 基于缺陷模式的軟件測(cè)試概述 ? 基于缺陷模式的軟件測(cè)試指標(biāo)分析 ? 缺陷模式 基于缺陷模式的軟件測(cè)試概述 ? 缺陷模式必須滿足下列幾個(gè)條件： 1. 該模式下的缺陷是符合實(shí)際的。 2. 基于該模式的缺陷數(shù)目是可以容忍的。 3. 該模式下的缺陷是可以測(cè)試的。 基于缺陷模式的軟件測(cè)試概述 ? 基于模式的軟件測(cè)試技術(shù)具有如下特點(diǎn)： 1. 針對(duì)性強(qiáng)：如果說(shuō)某種模式的缺陷是經(jīng)常發(fā)生的，并且在被測(cè)軟件中是存在的，則面向缺陷的測(cè)試可以檢測(cè)出此類缺陷。 2. 基于缺陷模式的軟件測(cè)試技術(shù)往往能發(fā)現(xiàn)其他測(cè)試技術(shù)難以發(fā)現(xiàn)的故障，如內(nèi)存泄漏缺陷，空指針引用缺陷。 3. 工具自動(dòng)化程度高以及測(cè)試效率高。 4. 缺陷定位準(zhǔn)確：對(duì)測(cè)試所發(fā)現(xiàn)的缺陷能夠準(zhǔn)確定位。 5. 易學(xué)、易使用 ? 基于缺陷模式的軟件測(cè)試概述 ? 基于缺陷模式的軟件測(cè)試指標(biāo)分析 ? 缺陷模式 ? 基于缺陷模式的軟件測(cè)試系統(tǒng)（ DTS） 基于缺陷模式的軟件測(cè)試 基于缺陷模式的軟件測(cè)試指標(biāo)分析 ? 設(shè) P是待測(cè)程序，將缺陷模式 M分成類M={M1， M2， …Mn} ，每類分成種Mi={Mi1， Mi2， … ， MiL},從 P中計(jì)算出和 M相匹配的檢查點(diǎn)的集合IP={IP1,IP2,…,IPm}, 可以定義如下技術(shù)指標(biāo)： 1. 漏報(bào)率 (ER)：設(shè) P是程序， M是缺陷模式， A是算法， IP（ M， A， P）是 IP總的數(shù)目，考慮到測(cè)試算法實(shí)現(xiàn)過(guò)程中的不同假設(shè)，會(huì)導(dǎo)致 IP（ M， A， P）不同。漏報(bào)率定義為： 基于缺陷模式的軟件測(cè)試指標(biāo)分析 |),(||),(),(|PMIPPMIPPAMIPE r r o r R a t i o ??2. 準(zhǔn)確率 (CR)： 3. 誤報(bào)率 (DR)： 基于缺陷模式的軟件測(cè)試指標(biāo)分析 ),(),(),(PAMIPPAMIPPAMIPioC o r r ec t R a t UY ??),(),(PAMIPPAMIPioD i s t o r t R a t N?4. 缺陷檢測(cè)率 (DDR)： 5. 自動(dòng)缺陷檢測(cè)率 (ADR)：
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