質(zhì)子x射線熒光分析(已修改)
2025-05-26 22:58 本頁面
【正文】 粒子誘發(fā) X射線熒光分析 Particle Induced Xray Emission（ PIXE) Department of Modern Physics in Lanzhou University Lanzhou University 主講： Zhang Xiaodong ： 1. 粒子誘發(fā) x射線熒光分析 （ PIXE） 是粒子束分析的一個重要分支。 Sven A. E. Johansson等人 [1]，于 1970年首次開展這方面的工作，并為人們所重視，且日益廣泛的被大家采用。 [1] Nuclear Instruments and Methods in Physics Research， 84（ 1970） P141 ： 3. PIXE分析具有靈敏、快速、取樣少和無損 分析等特點。 4. 該方法對大多數(shù)元素（ Z≥12） 是很靈敏的 其相對靈敏度為 PPm（ 即百萬分之一）量級， 可檢測的元素含量的下限為 1016g。 . PIXE分析原理 : ? 粒子束與原子相互作用的物理圖像。 K L M Xray (Auger e) 粒子束 Electron 靶原子 . PIXE分析原理 : M L K 1S1/2 2P3/2 2P1/2 2S1/2 3d5/2
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