現(xiàn)代分析測試技術te(已修改)
2025-05-25 06:30 本頁面
【正文】 ?透射電鏡 基本結構及主要性能 ?透射電鏡 基本工作方式 ?TEM技術 最新進展 透射電子顯微術 JEM2500SE ?照明系統(tǒng) ： 電子槍、聚光鏡 、束平移偏轉線圈、聚光鏡光闌； ?樣品室：雙傾臺、旋轉臺、拉伸臺、加熱臺、冷卻臺； ?成像系統(tǒng) ： 物鏡、中間鏡、投影鏡 、物鏡光闌、選區(qū)光闌； ?觀察記錄系統(tǒng)： 熒光屏、照相室 、輔助光學顯微鏡； ?供電系統(tǒng) ：透鏡供電、高壓供電、控制操作供電； ?真空系統(tǒng) ：真空泵、閥門、氣體隔離室； 儀器結構及關鍵部件 ?制樣設備： 真空鍍膜儀 、超聲波清洗儀、 切片機 、磨片機、電解雙噴儀、 離子薄化儀 、 超薄切片機 ； ?試樣分類： 復型 樣品、 超顯微顆粒 樣品、 材料薄膜 樣品； 透射電子顯微鏡樣品的制備 加 塑料液 在水面 上擴展成膜 把膜加到專用銅網上 直徑 8～ 10cm 1 將 粉末樣品均勻分散 在 具支持膜的銅網上 直徑 3mm 2 形貌及結構觀察 使用 碳 塑料復合膜 選區(qū)電子衍射分析 使用金 塑料復合膜 電鏡專用銅網 φ3mm 3 超細顆粒制備方法 切片 1 預減薄 沖片 2 電解雙噴 離子薄化 3 可使用樣品區(qū)域 材料薄膜制備過程 煙霧懸浮在空氣中的微粒；粒子真實半徑在 之間；衛(wèi)星滴結構粒子。在碳膜上的廣州大氣粒子。用金鈀合金投影。 重金屬投影 ?變倍放大圖像 分析 ?電子衍射 分析 ?材料薄膜明暗場 分析 ?高分辨電子顯微術 透射電鏡基本工作方式 ?分析樣品：主要用于 粉末、非晶體薄膜 樣品及 復型 樣品觀察； ?高倍數圖像 獲得方法：物鏡成像于中間鏡之上，中間鏡以物鏡像為物，成像于投影鏡之上，投
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