spc統(tǒng)計制程管制培訓課件-文庫吧
2025-02-10 14:48 本頁面
【正文】 170 173 讀數之和 讀數數量R= 最大值 最小值 2 3 5 3 5 2 4 7 4 4 4 7 3 6 5 3 4 5 4 6 4 3 3 6 4 6 6 6 2應記錄人員、材料、環(huán)境、方法、機器或測量系統(tǒng)的任何變化，當控制圖上出現(xiàn)信號時，這些記錄將有助于采取糾正措施 .日期 / 時間172 173 172 174172 171174 173 174 172173 171 172 174172 172 172 174173A2=D3=D4=172175 172備注日期 / 時間備注174 175 175 173 171 173 174XXCRXXRRX 圖1711721731741751 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1 系列 2R 圖0481 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1RR 1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內的每個測量值。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標分別用于 X 和 R 的測量值。 42 刻度選擇 ： 接上頁 對于 X 圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設置為 X 圖刻度值的 2倍。 （ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否 合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 52 確保所畫的 X 和 R點在縱向是對應的。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 2 計算控制限 3 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 。 4 5 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） 6 R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數量） 7 8 X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 9 22 計算控制限 10 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 11 值和極差的變化和范圍?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 12 映在極差上的子組內的變差的量來決定的。 13 計算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁 注： 式中 A2,D3,D4為常系數，決定于子組樣本容量。其系數值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術上為一個負值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數為 6的子組， 6個“同樣的”測量結果是可能成立的。 23 在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線 ? 平均極差和過程均值用畫成實線。 ? 各控制限畫成虛線。 ? 對各條線標上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應注明試驗控制限。 3 過程控制分析 4 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據。 5 （即其中之一或兩者均不受控）進而采取適當的措施。 6 7 注 1： R 圖和 X 圖應分別分析，但可進行比較，了解影響過程 8 的特殊原因。 9 注 2： 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應分析 R圖。 31 分析極差圖上的數據點 311 超出控制限的點 a 出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要 證據 ， 應分析 。 b
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