【正文】 7 . 2 0L C L = 6 4 . 6 22 52 01 51 0507 57 06 5S a m p l e N u m b e rSample MeanX B a r C h a r t f o r P r o c e s s AX = 7 0 . 9 1U C L = 7 7 . 2 0L C L = 6 4 . 6 22 52 01 51 0508 07 06 05 0S a m p l e N u m b e rSample MeanX B a r C h a r t f o r P r o c e s s BX = 7 0 . 9 8U C L = 7 7 . 2 7L C L = 6 4 . 7 0非機(jī)遇 原因 過程 A 顯示受控散布 過程 B 顯示不受控散布 因?yàn)樯a(chǎn)制程中 每一件成品都不同 ，因此如果製程很穩(wěn)定 ，則生產(chǎn)產(chǎn)品的品質(zhì)特性的分布將形成一種固定形狀，稱為 分佈。一般分佈有下列之不同情形： 位置 分佈寬度 形狀 大小 → 大小 → 大小 → ……. 或是以上這些的不同組合 如果制程中， 只有 機(jī)遇原因 的變異存在， 則其成品將形成依各很穩(wěn)定的分佈，而且是 可以預(yù)測的 如果制程中， 有非機(jī)遇原因 的變異存在， 則其成品將為不穩(wěn)定的分佈，而且 無法預(yù)測的 範(fàn)圍 → 可預(yù)測 範(fàn)圍 → 無法預(yù)測 ? 大量之微小原因所引起 ? 原料在一定範(fàn)圍內(nèi)之微小變異 ? 機(jī)械之微小振動 ? 儀器測定時(shí)，不十分精確之做法 ? 依據(jù)作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行作業(yè)的變化 ? 實(shí)際上，要除去制程上之機(jī)遇原因，是件非常不經(jīng)濟(jì)之處置 ? 一個(gè)或少數(shù)幾個(gè)較大原因所引起 ? 使用規(guī)格外的原物料 ? 新手之操作人員 ? 不完全之機(jī)械調(diào)整 ? 未依據(jù)作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行作業(yè) ? 所制訂之作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)不合理 ? 非機(jī)遇原因之變異，不但可以找出其原因，並且除去這些原因之處置，在經(jīng)濟(jì)觀點(diǎn)上來說，是正確的 機(jī)遇原因 非機(jī)遇原因 非機(jī)遇原因的變異 簡單的統(tǒng)計(jì)分 析可發(fā)現(xiàn) 如管制圖 直接負(fù)責(zé)制程的人員去改善 局部措施改善對策 局部措施 → 改善非機(jī)遇原因 ? 牽涉到消除產(chǎn)生變異的非機(jī)遇原因 ? 可由製程人員直接加以改善 ? 大約可以解決 15%之制程上的問題 系統(tǒng)措施 → 改善機(jī)遇原因 共同原因的變異 製程能力分析 可發(fā)現(xiàn) 如 Ca， Cp，Cpk， 及管制圖上點(diǎn)的變化 管理當(dāng)局參與及製程人員合作去改善 系統(tǒng)改善對策 ?必須改善造成變異的機(jī)遇原因 ?經(jīng)常需要管理階層的努力與對策 ?大約可以解決 85%之制程上的問題 Time 1 Time 2 Time 3 Time 4 ? 稱為 ? 漂移 (平均值漂移了多遠(yuǎn)的真正 sigma 測量 ) ? 顯示過程控制 ? 重要的少數(shù) ? 稱為 ? 短期 (?st) ? 我們的潛在能力 能做得最好的情況 ? 所有 6 sigma公司用 ? 報(bào)告 ? 價(jià)值不高的多數(shù) 顯示散佈原因 組內(nèi)變異 (Within) 組間變異 (Between) ST + shift = LT ? ? ? 能力對實(shí)績 5 04 03 02 01 01 41 31 21 11 0I n d e xCO2ShrtC O 2 L e v e l s f o r 5 5 T i m e P o i n t s過程實(shí)績 : 全部散布包括 Shifts 和 Short Term (Pp Ppk) 能力 : 只有隨機(jī)的或 短期的散布 (Cp Cpk) 制程控制與制程能力 ? 首先應(yīng)通過 『檢查』 ，消除 『全距』 所產(chǎn)生之非機(jī)遇原因，使制程處於 『受控』 的狀態(tài) ? 接下來，就可依顧客的 『要求 ( 規(guī)格 )』 ，來評定 『制程能力』 ，以使顧客滿意，這就是持續(xù)改善的基礎(chǔ)。 在管制規(guī)格內(nèi) Cpk 範(fàn)圍 → 受控 (消除了非機(jī)遇原因 ) 範(fàn)圍 → 制程控制 不受控 (存在了非機(jī)遇原因 ) 受控，能力符合要求 (機(jī)遇原因造成的變異已減少 ) 制程能力 ← 規(guī)格上限 規(guī)格下限 → 範(fàn)圍 → 受控，能力不符合要求 (機(jī)遇原因造成的變異太大 ) 制程改善循環(huán) P D A C P D A C P D A C ： 本制程應(yīng)該做什麼？ ● 會出現(xiàn)什麼問題？ ─本制程會有哪些變化？ ─我們已經(jīng)知道本制程的什麼全距 (全距 )？ ─哪些參數(shù)受全距 (全距 )的影響最大？ ● 本制程正在做些什麼？ ─本制程是否在生產(chǎn)廢品及需要返工的產(chǎn)品？ ─本制程生產(chǎn)的產(chǎn)品是否處於受控狀態(tài)？ ─本制程是否有能力？ ─本制程是否可靠？ (控制 )制程： ● 制程是動態(tài)的，並且會隨時(shí)間而變化。 ● 監(jiān)控制程的能力指數(shù) ● 查出『非機(jī)遇原因』的變異，並採取有效的措施 ： ● 使制程穩(wěn)定，並以維持制程的能力指數(shù) ● 充分理解『機(jī)遇原因』造成的變異 ● 減少『機(jī)遇原因』造成變異的發(fā)生 第二章 : 基本統(tǒng)計(jì)概念 N 母體數(shù) (批量數(shù) ) USL 規(guī)格上限 n 樣本數(shù) (抽樣數(shù) ) SL 規(guī)格中心限 (u=規(guī)格中心值 ) X 平均數(shù) LSL 規(guī)格下限 R 全距 Ca 準(zhǔn)確度 (偏移度 ) σ (s ) 方差 Cp 精密度 (離散度 ) σ (S) 標(biāo)準(zhǔn)差 (S=母體標(biāo)準(zhǔn)差 , s=樣本標(biāo)準(zhǔn)差 ) Cpk 制程能力指數(shù) P 不良率 σ 估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差 NP 不良數(shù) T 規(guī)格公差 T=USLLSL C 缺點(diǎn)數(shù) 其他 U 每單位缺點(diǎn) XUCL 平均數(shù)管制上限 DPPM 百萬分之不良 Xbar (X) 平均數(shù)中心限 UCL 控制上限 XLCL 平均數(shù)管制下限 CL 控制中心限 RUCL 全距管制上限 LCL 控制下限 Rbar (R) 全距中心限 M (X)中位數(shù) RLCL 全距管制下限 2 2 ^ 1. N=母體數(shù) (批量數(shù) ): 指母體 (批量 )數(shù)多少的個(gè)數(shù) .(例 : 共了 50個(gè)數(shù) ,N=50) 2. n=樣本數(shù) (抽樣數(shù) ): 指樣本 (抽樣 )多少的個(gè)數(shù) .(例 : 抽了 7個(gè)樣品 ,n=7) 3. X=平均數(shù) : 所有數(shù)的平均值 ,計(jì)算公式 : X=(X1+X2+……Xn) / n n= 樣本數(shù) , X1,X2….. 表示各個(gè)數(shù)值 例有數(shù)值 : X=(++++) / 5= 4. R=全距 : 該組最大值 最小值的得數(shù) ,計(jì)算公式 : R=MAX(該組最大值 )MIN(該組最小值 ) 例 有數(shù)值 : R== 2 5. 方差 σ =s = 6. 標(biāo)準(zhǔn)差 σ=S= σ=s= ?(XiX) n ?(XiX) 2 n1 部份計(jì)算公式 ?(XiX) n1 2 2 2 7. 中位數(shù) M,該組數(shù)據(jù)數(shù)值大小的中間一位 ,若該組數(shù)是偶數(shù) ,取中間兩個(gè)數(shù)的合進(jìn)行平均 ,例如 A: 1 3 4 5 8 M=X=4 B: 2 3 4 7 M=X=(3+4) / 2= 8. XbarR常數(shù)表 N 2 3 4 5 6 7 8 9 10 A2 d2 D3 D4 σ = R / d2 ^ 9. 制程中心沒有偏移 σ良品率表 σ 水平 良品率 % 1 % 2 % 3 % 4 % 5 % 6 % 10. 制程中心偏移 σ 水平 良品率 % 1 % 2 % 3 % 4 % 5 % 6 % % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 正態(tài)分佈概率 第三章 : 管制圖類別 1. 計(jì)量型數(shù)據(jù) 所謂計(jì)量型數(shù)據(jù) ,就是均由量具實(shí)際量測出來的數(shù)據(jù) ,如長度 .重量 .電流值 .尺寸等具有連續(xù)性的數(shù)據(jù) . 2. 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) 所謂計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) ,就是均屬於以單位個(gè)數(shù)或次數(shù)來計(jì)算的數(shù)據(jù) ,如不良數(shù) .不良率 .缺點(diǎn)數(shù) .缺點(diǎn)率等 . 3. SPC管制圖種類 計(jì)量型 計(jì)數(shù)型 XR chart 平均值與全距管制圖 Pchart 不良率管制圖 X σ chart 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 NPchart 不良數(shù)管制圖 XRm chart 個(gè)別值與移動全距管制圖 Cchart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 XR chart 中位值與全距管制圖 Uchart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 直方圖 推移圖 ,柏拉圖 計(jì)量值管制圖之優(yōu)缺點(diǎn) ? 優(yōu)點(diǎn) : ＊ 用于制程之管制 ,甚靈敏 ,很容易調(diào)查事故發(fā)生的原因 ,因此可以預(yù)測將發(fā)生之不