缺水脅迫對(duì)小鼠記憶行為的影響-文庫(kù)吧
2025-05-01 07:09 本頁(yè)面
【正文】 為學(xué)測(cè)試過(guò)程中應(yīng)注意保持光線柔和，房間安靜，各參照物位置不變。為了避免小鼠嗅覺(jué)對(duì)測(cè)試的影響，做每個(gè)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目前都要對(duì)迷宮進(jìn)行清潔[13,14]。（2）避暗法小鼠避暗反應(yīng)箱由控制器和活動(dòng)箱兩部分組成，明暗兩個(gè)實(shí)驗(yàn)箱之間有一小門供動(dòng)物進(jìn)出，當(dāng)動(dòng)物進(jìn)入暗室被電擊時(shí)，它可自動(dòng)記錄小鼠第一次從明室進(jìn)入暗室的潛伏期和受到電擊的次數(shù)，還可通過(guò)按鍵靈活地選擇刺激電壓和設(shè)置實(shí)驗(yàn)時(shí)間。首先將小鼠頭朝室壁放入明室，兩室之間的門洞敞開(kāi)，讓其在3分鐘內(nèi)熟悉環(huán)境，然后取出小鼠放回飼養(yǎng)籠。讓其休息5分鐘后，將其放入明室，保持兩室之間的門洞敞開(kāi)，同時(shí)啟動(dòng)暗室內(nèi)的電刺激器。小鼠很快鉆入暗室，受電擊后逃出暗室，記錄小鼠300秒內(nèi)進(jìn)入暗室的次數(shù)E1。4小時(shí)后，再次對(duì)小鼠進(jìn)行該項(xiàng)測(cè)試，并記錄300秒內(nèi)小鼠進(jìn)入暗室的次數(shù)E2，錯(cuò)誤逃避減少次數(shù)β（E1E2的值）用于計(jì)算記憶成績(jī)[15,16]。 數(shù)據(jù)處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)采用X177。SD表示，差異顯著以P[17,18]。2 結(jié)果與分析 由表1結(jié)果可知，從A組至D組，隨著缺水程度的加重，小鼠第一次通過(guò)迷宮的時(shí)間T1依次增加，這表明小鼠的學(xué)習(xí)能力在缺水脅迫加重的情況下有所減弱。而且，隨著缺水程度的加重，小鼠通過(guò)迷宮縮短的時(shí)間α越來(lái)越小，這表明小鼠的記憶力在缺水脅迫加重的情況下有下降的趨勢(shì)。B組小鼠通過(guò)迷宮縮短的時(shí)間α與A組小鼠通過(guò)迷宮縮短的時(shí)間α相比差異不顯著（P），即小鼠在輕度缺水脅迫下的記憶成績(jī)與正常情況下的記憶成績(jī)相比差別不大；C組中小鼠通過(guò)迷宮縮短的時(shí)間α與A組小鼠通過(guò)迷宮縮短的時(shí)間α相比具顯著差異（P），即小鼠在中度缺水情況下的記憶成績(jī)要比正常情況下的記憶成績(jī)差；D組中小鼠通過(guò)迷宮縮短的時(shí)間α與A組小鼠通過(guò)迷宮縮短的時(shí)間α相比具極顯著差異（P），即在所有情況中，重度缺水情況下小鼠的記憶成績(jī)最差。表1 迷宮法實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)組別nT1(s)T2(s)α(s)PA10177。177。177?！狟10177。177。177。C10177。177。177。D10177。177。 177。注：A組為對(duì)照組，B組為輕度缺水脅迫組，C組為中度缺水脅迫組，D組為重度缺水脅迫組。n為重復(fù)次數(shù)，T1為小鼠第一次通過(guò)迷宮時(shí)間。T2為小鼠第二次通過(guò)迷宮時(shí)間。α為T1T2的值，即小鼠通過(guò)迷宮縮短的時(shí)間，也即記憶成績(jī)。圖1 避暗法中各組小鼠的平均錯(cuò)誤逃避次數(shù)結(jié)果注：A組為對(duì)照組，B組為輕度缺水脅迫組，C組為中度缺水脅迫組，D組為重度缺水脅迫組，下同。E1為小鼠第一次錯(cuò)誤逃避次數(shù)，E2為小鼠第二次錯(cuò)誤逃避次數(shù)。圖2 避暗法中各組小鼠錯(cuò)誤逃避減少次數(shù)結(jié)果由圖1和圖2結(jié)果可見(jiàn)，從A組至D組，隨著缺水程度的加重，小鼠在避暗法中的錯(cuò)誤逃避減少次數(shù)β越來(lái)越少，即小鼠在正常情況下犯的錯(cuò)誤是最少的。隨著缺水程度的加重，小鼠犯的錯(cuò)誤越來(lái)越多，這表明小鼠的學(xué)習(xí)記憶能力在缺水脅迫加重的情況下有減弱的趨勢(shì)。
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