【正文】 B、越小 C、不變 D、以上都不正確40. 方形鍛件垂直法探傷時(shí)，熒光屏上出現(xiàn)一個(gè)缺陷回波，其波幅較低，但底波降低很大。該缺陷取向可能是(　　)。 A、平行且靠近探測面 B、與聲速方向平行 C、與探測面成較大角度 D、平行且靠近底面41. 透照厚工件時(shí)要選用較高管電壓的原因是它的波長(　　)，穿透能力強(qiáng)。 A、長 B、短 C、無關(guān) D、以上都不正確42. [題目]“同位素”指的是 (　　)。 A、質(zhì)量數(shù)相同，中子數(shù)不同的元素 B、質(zhì)量數(shù)不同，中子數(shù)相同的元素 C、質(zhì)子數(shù)相同，中子數(shù)不同的元素 D、中子數(shù)相同，質(zhì)子數(shù)不同的元素43. 工業(yè)用X光機(jī)的X射線管多用鎢作靶材料，這首先是因?yàn)殒u的(　　)。 A、來源方便 B、價(jià)格低廉 C、原子序數(shù)大 D、熔點(diǎn)高44. 陽極靶上的焦點(diǎn)在與X射線束軸線垂直面上的投影稱為(　　)。 A、實(shí)際焦點(diǎn) B、靶極面積 C、有效焦點(diǎn) D、陽極45. 不同透照電壓的厚度、寬容度不同，這直接反映在其曝光曲線的(　　)。 A、斜率不同 B、透照電壓不同 C、透照比不同 D、以上都不正確46. 改善幾何不清晰度可利用(　　)。 A、小焦點(diǎn)、大焦點(diǎn) 、膠片與工件緊貼 B、采用細(xì)粒度膠片 C、使用鉛增感考 生 答 題 不 準(zhǔn) 超 過 此 線 地 區(qū)姓 名單 位 名 稱準(zhǔn) 考 證 號 D、以上全不正確47. 高速運(yùn)動(dòng)的電子在與靶金屬的原子核外電場作用時(shí)，發(fā)射出(　　)。 A、溴化銀微粒 B、增感作用 C、連續(xù)X射線 D、加速器中子源48. 電磁波波長的數(shù)學(xué)計(jì)算式為(　　)。 A、λ= ch B、λ= c/ν C、λ= hν D、λ= cν49. 在X射線機(jī)窗口前裝濾光片的目的是吸收軟X射線、(　　)和減少散射線對底片的影響。 A、減小寬容度 B、增大寬容度 C、增大厚度 D、減小厚度50. 某給定物質(zhì)對連續(xù)X射線而言，其線衰減系數(shù)(　　)。 A、是一個(gè)常數(shù) B、是一個(gè)變數(shù) C、隨物質(zhì)厚度的增加而減小 D、A和B51. 放射性比活度通常以每克多少居里數(shù)表示或以每立方厘米多少居里數(shù)表示，它是輻射源濃縮程度的物理量。若材質(zhì)相同、放射強(qiáng)度相同的兩個(gè)不同γ射線源，放射性比活度大的，則其體積(　　)。 A、大 B、小 C、不變 D、無規(guī)律變化52. 高能射線是能量在1 MeV以上的X射線，采用直線加速器產(chǎn)生的高能X射線與一般X射線相比，它具有(　　)等特點(diǎn)。 A、穿透能力強(qiáng) B、焦點(diǎn)小 C、轉(zhuǎn)換效率高 D、A,B和C53. 與鉛箔增感屏相比，熒光增感屏的主要優(yōu)點(diǎn)是(　　)。 A、改善圖像分辨率 B、改善底片灰霧度 C、縮短曝光時(shí)間 D、提高影像清晰度54. 寬束X射線貫穿物體后，在某一點(diǎn)所接收到的射線總強(qiáng)度為Ip=I+Is，則散射比為(　　)。 A、Is/I B、Is/Ip C、I/Is D、Ip/Is55. 產(chǎn)生顯影斑痕的原因是(　　)。 A、顯影液濃度不均勻，膠片上部分藥膜顯影過度 B、顯影溫度不穩(wěn)定，波動(dòng)過大或顯影時(shí)攪拌不均勻 C、顯影液氧化失效 D、A,B和C56. 距離射線源1 106 Sv/s小時(shí)，109 Sv/s的情況下，應(yīng)距射線源(　　)。 A、 m B、50 m C、15 m D、 m57. 一般認(rèn)為，使用中的定影液通透時(shí)間是新定影液通透時(shí)間的(　　)時(shí)，可認(rèn)為該定影液老化失效，需要更換。 A、1倍 B、2倍 C、3倍 D、4倍58. 下列技術(shù)中適于檢驗(yàn)厚度很大物體表面層缺陷的是(　　)。 A、中子射線照相 B、射線CT技術(shù) C、康普頓背散射成像技術(shù) D、A,B和C59. 連續(xù)譜射線穿透一定厚度的物體后，其發(fā)生的變化之一是(　　)。 A、射線束的波長變短 B、射線束的波長變長 C、射線束的平均波長變短 D、射線束的平均波長變長60. 射線通過膠電時(shí)，能在膠片上激發(fā)出自由電子，這些散亂的自由電子也能使膠片感光，形成不清晰度，這種不清晰度稱之為(　　)。 A、固有不清晰度 B、幾何不清晰度 C、平底灰霧度 D、化學(xué)灰霧度61. X射線機(jī)的冷卻方法采用(　　)。 A、氣體對流冷卻 B、傳導(dǎo)散熱冷卻 C、液體強(qiáng)迫冷卻 D、固體冷卻62. 影響X射線設(shè)備工作周期的主要因素是(　　)。 A、設(shè)備額定電壓值 B、試件厚度 C、陽極冷卻速度 D、焦點(diǎn)尺寸63. 磁懸液中的磁粉濃度測量是(　　)。 A、稱磁懸液的質(zhì)量 B、將磁粉吸入苯中 C、使磁粉從磁懸液中沉淀出來 D、測量磁鐵上吸引的磁粉64. 磁粉探傷靈敏度試片的作用是(　　)。 A、選擇最佳磁化規(guī)范 B、鑒定磁粉探傷儀性能是否符合要求 C、鑒定磁懸液或磁粉性能是否符合要求 D、A,B和C65. 直徑25 mm與50 mm的兩個(gè)圓棒，通以相同的軸向電流進(jìn)行磁化，圓棒表面的磁感應(yīng)強(qiáng)度將是(　　)。 A、兩圓棒相同 B、φ50 mm的圓棒較強(qiáng) C、φ25 mm的圓棒較強(qiáng) D、無法比較66. 下列關(guān)于鋼磁特性的敘述正確的為(　　)。 A、一般含碳量越多，矯頑力越小 B、一般經(jīng)淬火的材料矯頑力大 C、含碳量越高的鋼，一般磁導(dǎo)率也越高 D、奧氏體不銹鋼顯示的磁性強(qiáng)67. (　　)剩余磁場最難退磁。 A、縱向 B、周向 C、矢量 D、雙節(jié)點(diǎn)68. 黑光燈的強(qiáng)度應(yīng)用(　　)測量。 A、帶10倍擴(kuò)程器的光度計(jì) B、帶琥珀場濾波器的光度計(jì) C、調(diào)節(jié)到3 4251010 m的光度計(jì) D、額定值為M2的光度計(jì)69. 下列有關(guān)干法的敘述正確的是(　　)。 A、當(dāng)試件在高溫時(shí)，干法比濕法更適用 B、干法是以空氣為媒質(zhì)的施加磁粉的方法 C、在檢出近表面內(nèi)部缺陷的場合，干法比濕法更適用 D、A,B和C70. 在磁粉探傷中對磁粉的性能要求是(　　)。 A、矯頑力高 B、磁導(dǎo)率高考 生 答 題 不 準(zhǔn) 超 過 此 線 地 區(qū)姓 名單 位 名 稱準(zhǔn) 考 證 號 C、與磁粉的粒度大小無關(guān) D、對磁粉的顏色無要求71. 引起不相關(guān)顯示的原因有(　　)。 A、零件截面厚度變化大 B、安培值太高 C、表面附近有鉆孔 D、A,B和C72. 使用熒光磁粉的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是(　　)。 A、需要的設(shè)備少 B、檢驗(yàn)速度快 C、成本低 D、容易被吸附73. 用紫外線源及目視檢查經(jīng)后乳化熒光滲透探傷的工件，發(fā)現(xiàn)其表面熒光背景的