《粉體學(xué)基礎(chǔ)》ppt課件-文庫吧
2024-12-31 06:59 本頁面
【正文】 胡海燕 粉 體學(xué)基礎(chǔ) ? 平均粒子徑 為了求出由不同粒徑組成的粒子群的平均粒徑，首先求出前面所述具有代表性的粒徑，然后求其平均值。求平均值的方法有多種，如下表所示。 制藥行業(yè)中最常用的平均徑為中位徑 (medium diameter)，也叫中值徑。在累積分布中累積值正好為 50%所對應(yīng)的粒子徑，常用 D50表示。 粉體粒子的性質(zhì) 胡海燕 粉 體學(xué)基礎(chǔ) 各種平均粒徑 名 稱 公 式 1 . 算術(shù)平均徑 2 . 幾何平均徑 3 . 調(diào)和平均徑 4. 眾數(shù)徑 頻數(shù)最多的粒子直徑 5. 中位徑 累積中間值（ D50） 6. 長度平均徑 7. 面積平均徑 8. 重量平均徑 9. 平均面積徑 10. 平均體積徑 1 1 . 比表面積徑 nd n/ ??( )/d d dn nnn nn1 211 2? ? ?n n d/ ( / )??? ? ndnd /2nd nd3 2/ ??nd nd4 3/ ??? ?nd n21 2//??? ?nd n31 3//??? ?/ Sw粉體粒子的性質(zhì) 胡海燕 粉 體學(xué)基礎(chǔ) ? 粒子徑的測定方法 不同測定方法與粒徑的測定范圍。 粉體粒子的性質(zhì) 胡海燕 粉 體學(xué)基礎(chǔ) 1） 顯微鏡法 （ microscopic method） 在顯微鏡下，根據(jù)投影像測得粒徑的方法，主要測定 幾何學(xué)粒徑 。光學(xué)顯微鏡可以測定 μm 級粒徑，電子顯微鏡可以測定 nm級粒徑。主要測定以個數(shù)、面積為基準(zhǔn)的粒度分布。 **顯微鏡方法允許直接查看所被討論的顆粒 **可以看到顆粒的形狀 **可以判斷是否達(dá)到良好分散或者是否存在凝聚 **電子顯微鏡需要精心的樣品制備，而且速度慢 德國 ZBAS 2022圖像分析儀 粉體粒子的性質(zhì) 胡海燕 粉 體學(xué)基礎(chǔ) 2） 庫爾特計(jì)數(shù)法 (Coulter counter me thod） 該法的測定原理 :將粒子群混懸在電解質(zhì)溶液中 ， 隔壁上有一細(xì)孔 ， 孔兩側(cè)各有電極 ， 電極間有一定電壓 ， 當(dāng)粒子通過細(xì)孔時 ， 粒子體積排除孔內(nèi)電解質(zhì)而電阻發(fā)生改變 。 利用電阻與粒子的體積成正比的關(guān)系 將電信號換算成粒徑以測定粒度分布 。 獲得 等效電阻徑 。 粉體粒子的性質(zhì) 胡海燕 粉 體學(xué)基礎(chǔ) 3） 沉降法 （ sedimentation method） 利用液相中混懸粒子沉降速度，根據(jù) Stock`s方程求出。 Stock`s方程適用于 100μm以下的粒徑的測定，常用 Andrasen吸管法。這種裝置固定一定沉降高度，將一定量的混懸液在一定時間間隔內(nèi)取出，測得的粒子徑與粒度分布，為重量基準(zhǔn)。 粉體粒子的性質(zhì) 如何測量 ？ 胡海燕 粉 體學(xué)基礎(chǔ) 4） 比表面積法 （ specific surface area method） 粉體的比表面積隨粒徑的減少而迅速增加，因此通過粉體層中比表面積的信息與粒徑的關(guān)系可以求得平均粒徑（測定粒度范圍為 100μm以下），但不能求得粒度分布。可用 吸附法 和透過法測定比表面積。 粉體粒子的性質(zhì) 胡海燕 粉 體學(xué)基礎(chǔ) 5）動態(tài)光散射法：英國馬爾文 (Malvern)公司 一單色相干的激光光束照射粉體 溶劑分散體系中，在某一角度連續(xù)地測量散射光。由于分散顆粒受到液體中分子的撞擊作布朗和 /或熱運(yùn)動，觀察到的散射光強(qiáng)度將不斷地隨時間起伏漲落。分析散射光強(qiáng)度 時間函數(shù)可提供與粒徑相關(guān)信息。
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1