【總結(jié)】含水率與非飽和土抗剪強(qiáng)度的關(guān)系地質(zhì)XXX第X組小組成員:XXX,XXX,XXX,XXX土體強(qiáng)度是土體工程性質(zhì)最直觀的體現(xiàn),人們關(guān)心土體工程性質(zhì)在很大程度上體現(xiàn)在對(duì)土體強(qiáng)度的考慮上。含水率與土體強(qiáng)度的關(guān)系很早以前就引起了巖土工程界的關(guān)注,現(xiàn)有實(shí)驗(yàn)結(jié)果初步表明,含水率與非飽和土的強(qiáng)度絕不是簡(jiǎn)單的線性關(guān)系或此消彼漲的關(guān)系。如何從
2025-05-14 22:26
【總結(jié)】第四部分其它顯微分析方法主要內(nèi)容?俄歇電子能譜儀(AES)?場(chǎng)離子顯微鏡(FIM)?掃描隧道顯微鏡(STM)?X射線光電子能譜分析(XPS)1俄歇電子能譜儀(AES)?能級(jí)躍遷,使空位層的外層電子發(fā)射出去?俄歇電子能量具有特征值?近表面性質(zhì)?能量很低基本特點(diǎn)俄歇
2025-07-25 00:32
【總結(jié)】在18900倍下對(duì)PVC糊樹(shù)脂近行觀測(cè)應(yīng)用實(shí)例在26000倍下觀測(cè)碳酸鈣粉末掃描電鏡ScanningElectronMicroanalyzer掃描電鏡(SEM)SEM的基本原理★焦深大,圖像富有立體感,特別適合于表面形貌的研究★放大倍數(shù)范圍廣,從十幾倍到2萬(wàn)倍,幾乎覆蓋
2025-05-12 18:43
【總結(jié)】電子顯微像的特點(diǎn)?通?!跋瘛睉?yīng)該和真實(shí)的物相像,用可見(jiàn)光照明時(shí),玻璃透鏡成的像與物的表面完全相似。成像過(guò)程:通過(guò)物表面對(duì)光的折射和反射,直接成像。?電子顯微像比較復(fù)雜,入射到樣品中的電子束受到原子的散射在樣品下表面的出射電子波中除透射束外,還有受晶體結(jié)構(gòu)調(diào)制的各級(jí)衍射束,它們的振幅和相位都發(fā)生了變化。依照選取成像信息(用透射束或衍射束成像)的不同,所獲
2024-10-09 15:28
【總結(jié)】土的抗剪強(qiáng)度試驗(yàn)方法【中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(武漢)工程學(xué)院】抗剪強(qiáng)度指標(biāo)c、φ值,是土體的重要力學(xué)性質(zhì)指標(biāo),正確地測(cè)定和選擇土的抗剪強(qiáng)度指標(biāo)是土工計(jì)算中十分重要的問(wèn)題。?土體的抗剪強(qiáng)度指標(biāo)是通過(guò)土工試驗(yàn)確定的。室內(nèi)試驗(yàn)常用的方法有直接剪切試驗(yàn)、三軸剪切試驗(yàn);現(xiàn)場(chǎng)原位測(cè)試的方法有十字板剪切試驗(yàn)和大型直剪試驗(yàn)。?一、直接剪切試驗(yàn)(一)試驗(yàn)儀器與基本原理直剪試驗(yàn)所
2025-08-09 06:19
【總結(jié)】壓力容器強(qiáng)度、結(jié)構(gòu)與應(yīng)力分析鄭州大學(xué)化工學(xué)院:王三保電話:0371-6388730613303820225Email:壓力容器一般是由筒體(又稱殼體)、封頭(又稱端蓋)、法蘭、接管、人孔、支座、密封元件、安全附件等組成。它們
2025-04-29 05:52
【總結(jié)】?材料的固有性質(zhì)、材料的結(jié)構(gòu)與成分、材料的使用性能和材料的合成與加工構(gòu)成材料研究的四大要素。?任何一種材料的宏觀性能或行為,都是由其微觀組織結(jié)構(gòu)所決定的。第二章電子顯微分析緒論?現(xiàn)代材料科學(xué)的發(fā)展在很大程度上依賴于對(duì)材料性能和成分結(jié)構(gòu)及微觀組織關(guān)系的理解;對(duì)材料在微觀層次上的表征技術(shù),構(gòu)成了材料科學(xué)的一個(gè)重要組成部分
2025-03-22 05:59
【總結(jié)】第十四章其他顯微分析方法【教學(xué)內(nèi)容】【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】【教學(xué)難點(diǎn)】一.離子探針顯微分析
2025-05-06 06:31
【總結(jié)】其他的顯微分析方法材料測(cè)試分析技術(shù)離子探針顯微分析IMMA?離子探針顯微分析(IMMA,IonMicroprobeMassAnalysis)是一種利用質(zhì)譜儀對(duì)從固體樣品表面激發(fā)的二次離子進(jìn)行元素分析的裝置。離子探針顯微分析?離子探針顯微分析是利用離子源產(chǎn)生的一次離子加速形成能量為1~10KeV的離子束,然后
2025-05-12 07:36
【總結(jié)】材料試樣顯微組織顯示(下)BerahaBerahaCdSCdS和和PbSPbS染色腐蝕劑染色腐蝕劑鑄鐵,鋼,鐵素體及馬氏體不銹鋼1000mLH2O240gNa2S2O3·5H2O20-25g氯化鎘*30g檸檬酸CdS
2025-05-07 18:01
【總結(jié)】第七講土的抗剪強(qiáng)度和特殊性土一、內(nèi)容提要:本講主要講述①土的抗剪強(qiáng)度、土中一點(diǎn)的應(yīng)力狀態(tài)、庫(kù)侖定律、土的極限平衡條件、內(nèi)摩擦角、粘聚力直剪試驗(yàn)及其適用條件、三軸試驗(yàn)、總應(yīng)力法、有效應(yīng)力法;②軟土、黃土、膨脹土、紅粘土、鹽漬土、凍土、填土;二、重點(diǎn)、難點(diǎn):土的抗剪強(qiáng)度、土的極限平衡條件、三軸試驗(yàn);各種特殊性土的工程特性三、內(nèi)容講解:
2025-02-02 14:44
【總結(jié)】電子背散射衍射ElectronBackscatterDiffraction(EBSD)掃描電鏡的一個(gè)主要附件,可以進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析對(duì)材料進(jìn)行微觀分析,要看其形態(tài)如何,晶粒大小、析出相、是等軸的還是條狀的,等等,可以用光學(xué)顯微鏡、SEM、TEM等來(lái)觀察;要研究其微區(qū)成分,可用SEM+EDS,用EPMA,用
2024-12-07 23:44
【總結(jié)】大角度傾轉(zhuǎn)電子衍射的例子?La4Cu3MoO12晶體結(jié)構(gòu)的電子衍射測(cè)定;?重構(gòu)三種倒易點(diǎn)陣重構(gòu)得到的倒易點(diǎn)陣平面為六角形,說(shuō)明正空間的點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)可能是六角晶系,也可能是立方晶系。原因:有漏掉的衍射,110不是最短的倒易矢量。30o30oLa4Cu3MoO12{100}/{110}
2024-10-04 21:48
【總結(jié)】第7章其他顯微分析技術(shù)離子探針?lè)治鰞x(IMA)(二次離子質(zhì)譜儀(SIMS))俄歇電子能譜儀(AES)X射線光電子譜儀(XPS)掃描隧道顯微鏡(STM)原子力顯微鏡(AFM)場(chǎng)離子顯微鏡(FIM)原子探針(AP)離子探針顯微分析?離子探針儀是利用電子光學(xué)方法把惰性氣體等初級(jí)離子加速并聚焦成細(xì)
2025-01-17 16:21
【總結(jié)】1第十四章其它顯微分析方法簡(jiǎn)介?本章簡(jiǎn)要介紹幾種表面分析儀器和技術(shù):(1)離子探針?lè)治鰞x(IMA)或二次離子質(zhì)譜儀(SIMS);(2)低能電子衍射(LEED);(3)俄歇電子能譜儀(AES);(4)場(chǎng)離子顯微鏡(FIM)和原子探針(AtomProbe);(5)X射線光電子能譜儀(XPS);
2025-05-06 06:37