材料現(xiàn)代研究方法04x射線設(shè)備-文庫(kù)吧
2025-04-24 23:16 本頁(yè)面
【正文】 ） =902材料現(xiàn)代研究方法講義 三種底片裝法的特點(diǎn) 正裝法：常用于物相分析 物相分析主要用前反射的幾條強(qiáng)衍射線為依據(jù) 反裝法：常用于晶體點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)定 大角度衍射線對(duì)測(cè)量晶體點(diǎn)陣常數(shù)的誤差小 偏裝法：用于精確測(cè)量晶體點(diǎn)陣常數(shù) 可以計(jì)算由于底片的收縮造成誤差 2 s i nd ???2 c os ( ) 2 si n ( )dd? ? ? ?? ? ? ? ?c ( )d tgd ? ?????? ? ?材料現(xiàn)代研究方法講義 平板相機(jī) 勞埃法：連續(xù) X射線 單晶樣品 針孔法：?jiǎn)紊?X射線 粉末或多晶樣品 材料現(xiàn)代研究方法講義 透射法 背射法 2 Rtg
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