小角x射線散射簡(jiǎn)介-文庫吧
2025-07-21 06:00 本頁面
【正文】 子 康普頓效應(yīng) 光電效應(yīng) X射線衍射（ XRD） 衍射角度： 4170176。 由晶格點(diǎn)陣產(chǎn)生的相干散射 小角 X射線散射（ SAXS） 散射角： 04176。 由電子密度變化引起的散射 小角 X射線散射 小角 X射線散射 (SmallAngle Xray Scattering)是一種用于納米結(jié)構(gòu)材料的可靠而且經(jīng)濟(jì)的無損分析方法。 SAXS能夠給出 1100納米范圍內(nèi)的顆粒尺度和尺度分布以及液體、粉末和塊材的形貌和取向分布等方面的信息。 SAXS的優(yōu)勢(shì)： a. 研究溶液中的微粒； b. 動(dòng)態(tài)過程研究； c. 研究高分子材料； d. 電子顯微鏡方法不能確定顆粒內(nèi)部密閉的微孔， SAXS可以； e. 小角 X射線散射可以得到樣品的統(tǒng)計(jì)平均信息； f. 小角 X射線散射可以準(zhǔn)確地確定兩相間比內(nèi)表面和顆粒體積百分?jǐn)?shù)等參數(shù) ,而 TEM方法往往很難得到這些參量的準(zhǔn)確結(jié)果 ,因?yàn)椴皇侨款w粒都可以由 TEM觀察到 ,即使在一個(gè)視場(chǎng)范圍內(nèi)也有未被顯示出的顆粒存在；
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