【正文】 數(shù)據(jù) 出現(xiàn)明顯非隨機(jī)圖形：一般情況下 三分之二的點(diǎn)落在控制線的三分之一的區(qū)域內(nèi) 三分之一的點(diǎn)落在控制線的三分之二的區(qū)域內(nèi) UCLL C LR不受控制過程的極差統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 (R)上的數(shù)據(jù) 出現(xiàn)明顯非隨機(jī)圖形：一般情況下 三分之二的點(diǎn)落在控制線的三分之一的區(qū)域內(nèi) 三分之一的點(diǎn)落在控制線的三分之二的區(qū)域內(nèi) UCLL C LR不受控制過程的極差統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 （極差圖） 在發(fā)生特殊原因時(shí)，在控制圖上進(jìn)行標(biāo)注 應(yīng)用直方圖 ,因果圖等 .分析特殊原因 應(yīng)用排列圖 ,對策表等 .擬定針對措施 應(yīng)用矩陣圖 ,系統(tǒng)圖等 .落實(shí)改進(jìn)措施 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 （極差圖） 通過初次研究 把已被識別的特殊原因 ,從 R和 X中去除 重新計(jì)算新的平均極差和上下控制界限 注意 :不明原因的 “ 壞數(shù)據(jù) ” 不能輕易去除 ,否則會掩蓋某些因素 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 分析均值圖 ( X )上的數(shù)據(jù) 超出控制界限： 是特殊原因造成的。 要尋找、分析、糾正。 出現(xiàn)趨勢性傾向 : 連續(xù) 7個(gè)點(diǎn)上升或下降， 連續(xù) 7個(gè)點(diǎn)在平均值一側(cè)， 要查清原因，予以糾正。 明顯非隨機(jī)圖形： 一般情況下 ,點(diǎn)集中在中心線兩側(cè)或控制線內(nèi)側(cè) 過度調(diào)整也可能是原因之一 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 （均值圖） 在發(fā)生特殊原因時(shí)，在控制圖上進(jìn)行標(biāo)注 應(yīng)用直方圖 ,因果圖等 .分析特殊原因 應(yīng)用排列圖 ,對策表等 .擬定針對措施 應(yīng)用矩陣圖 ,系統(tǒng)圖等 .落實(shí)改進(jìn)措施 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 （均值圖） 通過初次研究 把已被識別的特殊原因 ,從 R和 X中去除 重新計(jì)算新的平均極差和上下控制界限 注意 :不明原因的 “ 壞數(shù)據(jù) ” 不能輕易去除 ,否則會掩蓋某些因素 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 子組容量沒有發(fā)生變化 ,數(shù)據(jù)都在控制界限內(nèi) 可延長控制界限 ,實(shí)施對過程進(jìn)行控制 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 如子組容量發(fā)生變化應(yīng)重新估算新的極差和控制界限 按原子組容量找出 d2 并求出標(biāo)準(zhǔn)偏差： ? =R/d2 按新的子組容量得到 d2,D3,D4,A2 重新求出： Rnew= ? * d2 計(jì)算出新的極差和均值的控制界限 UCLR = D4 * Rnew UCLX = X + A2 * Rnew UCLR = D3 * Rnew LCLX = X – A2 * Rnew n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 有關(guān) “ 控制 ” 的理念 完美無瑕的過程控制是不存在的 從來不出現(xiàn)失控點(diǎn)的控制圖是多余的 控制的目的不是強(qiáng)求完美 ,而是要求合理 . 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 解釋過程能力的前提 : 過程處于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定狀態(tài) 過程中測量值服從正態(tài)分布 測量變差相對較小 ,一般可以忽略不計(jì) 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 解釋過程能力的要求 : 工程及其他規(guī)范準(zhǔn)確地代表顧客的需求 設(shè)計(jì)目標(biāo)值位于規(guī)范中心 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 解釋過程能力的目的 : 實(shí)施的過程是否有能力滿足顧客的要求 過程是否有改進(jìn)的可能 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 、計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 ?=R/d2 ? 過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 R 平均極差 n 子組樣本容量 如果過程的極差和均值都處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ,則 可以用估計(jì)的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ? 來評價(jià)過程的能力 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d 2 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 過程能力 Z : 以標(biāo)準(zhǔn)偏差 ?為單位來描述過程均值 X與規(guī)范界限 SL的距離 單邊容差 : 雙邊容差 : Z= USLX ? 或 Z= XLSL ? Z= Z= ? ? USLX XLSL USL LSL Zmin=取 ZUSL, ZLSL的最小值 過程能力是按標(biāo)準(zhǔn)偏差 為單位來描述的過程均 值與規(guī)范界限的距離用 Z 來表示 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 過程能力指數(shù) Cpk: 在穩(wěn)定的過程中 ,定義為 :過程能力上下限 CPU,CPL中的較小值 : CPU= USLX ? CPL= XLSL ? Z= Z= ? ? USLX XLSL USL LSL Zmin=取 ZUSL, ZLSL的最小值 3 3 因此 : Cpk = Zmin 3 Zmin=4, Cpk= Zmin=3, Cpk= 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 評價(jià)過程能力 評價(jià)過程能力的前提 : 該過程已經(jīng)處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) 評價(jià)過程能力的目的 : 對過程的性能進(jìn)行可持續(xù)改進(jìn) 評價(jià)過程能力的要求 : 若評價(jià)過程的全面能力指數(shù)則 Cpk 若評價(jià)重要過程的特殊特性則 Cpk 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 評價(jià)過程能力 對未能滿足過程能力的評價(jià) 采取措施減少各種普通原因引起的變差 把過程均值調(diào)整到接近目標(biāo)值緊急措施 對產(chǎn)品進(jìn)行分揀 返工或返修缺陷 改變或放寬規(guī)范 顯然 :這是放縱缺陷 ,容忍浪費(fèi) ,不思改進(jìn) 是不應(yīng)采取的下策。 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 提高過程能力 造成過程變異是特殊原因和普通原因綜合影響的結(jié)果 特殊原因是突發(fā)的 ,顯見的 .便于采取措施的短期作用 普通原因才是頻發(fā)的隱性的難以采取措施的長期作用 因此 : 要提高過程能力 ,應(yīng)集中精力減少普通原因的作用通常 是對系統(tǒng)采取改善管理的措施 ,調(diào)整資源配置培訓(xùn)各類 人員 ,改進(jìn)工藝 ,改善測量系統(tǒng)和作業(yè)環(huán)境 ,來加以糾正 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖 采取改善管理系統(tǒng)措施后的過程 ,要重新抽取子樣 進(jìn)行計(jì)算，建立新的控制界限 ,并繪制新的控制圖 . 新控制圖應(yīng)該能體現(xiàn)出糾正措施有效 ,并得到驗(yàn)證 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 均值 極差圖 (XR)例題 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 1. 原始數(shù)據(jù)收集 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 1. 原始數(shù)據(jù)收集 確定樣本容量 子組大小 : n=5 子組頻率 : 5個(gè) /每 2小時(shí) 子 組 數(shù) : 25組 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 1. 原始數(shù)據(jù)收集 U C LXL C L8 10 12 14 8 10 12 14均值圖 XU C LRL C L8 10 12 14 8 10 12 14極差圖 R同一數(shù)據(jù)的均值圖縱坐標(biāo) 和極差圖縱坐標(biāo)縱向?qū)?yīng) 均值圖在上 , 極差圖在下 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 日期時(shí)間 8:00 10:00 12:00 14:00 8:00 10:00 12:00 14:00 8:00 10:00 12:00 14:001 2 3 4 5 Σ X X R 日期 時(shí)間 8:00 10:00 12:00 14:00 8:00 10:00 12:00 14:00 8:00 10:00 12:00 14:00 8:001 2 3 4 5 Σ X X R S P C 例題數(shù)據(jù)表 ( 5 個(gè) X 2 5 組= 1 2 5 個(gè)子樣) 確定樣本容量 n=5 原始數(shù)據(jù)收集表 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 1. 原始數(shù)據(jù)收集 X 和極差 R n Σ i=1 Xi X R = = = +.070+++= / 5 = = 日期時(shí)間 8:00 10:00 12:00 14:001 2 3 4 5 Σ X X R 2022 .統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 1. 原始數(shù)據(jù)收集 選擇控制圖刻度 均值圖 (X圖 ):最大與最小刻度值差是均 值最大與最小值差的 2倍 極差圖 (R圖 ):最小值為零與最大值的差 為最大極差值的 2倍 極差圖 (R圖 )的刻度值設(shè)置為均值圖 (X圖 ) 刻度值的 2倍 (使二圖的控制限寬度相近 ,便于觀察和分析 ) 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 1. 原始數(shù)據(jù)收集 將均值 (X)和極差值 (R)畫到控制圖上 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 2. 計(jì)算控制界限 計(jì)算過程均值 (X) k Σ i=1 X = = k 1 Xi 25 k為子組數(shù) = 25 X +++…….+ = X 統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control SPC XR 圖例題 2. 計(jì)算控制界限 平