【正文】 位職責(zé)不清 2 開(kāi)啟時(shí)間不明 3 測(cè)點(diǎn)無(wú)代表性 4 測(cè)溫儀未校驗(yàn) 抽樣原理 ? 某批產(chǎn)品 /某一過(guò)程為研究對(duì)象的全體數(shù)據(jù)總體或母體 ? 從中抽取的一部分為樣本或子樣 ? 以樣本推斷或評(píng)估母體的水平 通常實(shí)施 GB2828標(biāo)準(zhǔn) 抽樣計(jì)劃 AQL 母體 N OK 樣本 n GOOD 變差與受控 整個(gè)組織必須理解并應(yīng)用適當(dāng)?shù)慕y(tǒng)計(jì)技術(shù)的基本概念，如變差、受控（穩(wěn)定）、過(guò)程能力和過(guò)度調(diào)整。這是持續(xù)改進(jìn)的基礎(chǔ)。 ? 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) 子組大小：合理子組，容量恒定；初始應(yīng)多（ 4~5），穩(wěn)定可少（ 2~3） 子組頻率：初期應(yīng)大，穩(wěn)定可小 子組數(shù)的大?。喊?100125個(gè)單值讀數(shù)的 2025個(gè)子組 XR圖 作圖步驟 ? 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 上部為 X圖和 R圖， X和 R的值為縱坐標(biāo) 按時(shí)間先后的子組為橫坐標(biāo) 下部為數(shù)據(jù)欄，包括每一讀數(shù)的空間，讀 數(shù)的和，均值，極差，時(shí)間，識(shí)別代碼等 ? 計(jì)算每個(gè)子組的均值 X和極差 R X= (x 1+x2+...+x n )/n 式中 n為子組樣本容量 R=X 最大值 – X 最小值 XR圖 作圖步驟 ? 選擇控制圖的刻度 X圖的縱標(biāo)刻度值的最大值與最小值之差 = 2倍的 X的最大值與最小值之差（或以 X為中心上下各一 X的最大值與最小值之差） R圖的縱標(biāo)刻度值為 0至 2倍的最大極差 ? 將均值和極差畫(huà)在控制圖上，描點(diǎn)并連線 再觀察是否有異常， X和 R點(diǎn)在縱向是否對(duì)應(yīng) ? 注：因無(wú)足夠數(shù)據(jù)而在操作現(xiàn)場(chǎng)出現(xiàn)的還未計(jì)算控制限的控制圖應(yīng)標(biāo)注“初始研究” XR圖 作圖步驟 A X 圖 95 90 85 80 75 70 65 60 55 50 50 R 圖 25 00 8 10 12 2 8 10 日期 /時(shí)間 數(shù)據(jù)欄 1 65 75 75 2 70 85 80 讀 數(shù) 空 間 3 65 75 80 4 65 85 70 5 85 65 75 X 70 77 76 R 20 20 10 XR圖 作圖步驟 B 計(jì)算控制限： 先算極差圖，再算均值圖 ? 計(jì)算平均極差 R及過(guò)程均值 X 式中： k為子組的數(shù)量 R=(R1+R2+…+R k)/k X=(X1+X2+…+X K)/k ? 計(jì)算控制限 :為了顯示僅存在變差普通原因時(shí)子組的均值和極差的變化范圍 極差的上、下 控制限 均值的上、下 控制限 UCLR=D4R UCLX=X+A2R LCLR=D3R LCLX=XA2R ? 做均值和極差控制限的控制線于控制圖上 XR圖 作圖步驟 B 95 90 UCL 85 80 75 X 70 65 LCL 60 55 50 50 UCL 25 R 00 8 10 12 2 8 10 1 65 75 75 2 70 85 80 3 65 75 80 4 65 85 70 5 85 65 75 X 70 77 76 R 20 20 10 XR圖 作圖步驟 — 分析控制圖 C 過(guò)程控制解釋 目的在于識(shí)別過(guò)程的變化性或過(guò)程均值不 在恒定水平（即其中之一或兩者均不受統(tǒng) 計(jì)控制）的證據(jù)，進(jìn)而采取適當(dāng)措施 ? 分析極差圖上的點(diǎn) [均值圖上的點(diǎn)的分析同 ] 超出控制線的點(diǎn) ，可能是： *控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描錯(cuò)點(diǎn)； *零件間的變化性或分布寬度增大（即變壞） *測(cè)量系統(tǒng)變化（換人或量具） /分辨力不夠 分析控制圖 鏈： * 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均極差一側(cè) *連續(xù) 7點(diǎn)呈上升或下降 高于 R或上升的鏈可能是：分布寬度增加； 設(shè)備不正常；材料變差；測(cè)量系統(tǒng)改變 低于 R或下降的鏈可能是：分布寬度減小， 此時(shí)應(yīng)總結(jié)和推廣；也可能是測(cè)量系統(tǒng)改 變這時(shí)會(huì)掩蓋過(guò)程真實(shí)性能的變化 分析控制圖 明顯的非隨機(jī)圖形 *由特殊原因造成的圖形如：明顯的趨勢(shì)， 周期性，數(shù)據(jù)點(diǎn)在整個(gè)控制限內(nèi)，子組內(nèi) 數(shù)據(jù)間有規(guī)律關(guān)系 （如第一個(gè)讀數(shù)總是 最大） *正常時(shí)，約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，另 1/3的點(diǎn)在其外的 2/3區(qū) *過(guò)多或過(guò)少于 2/3的點(diǎn)落在 R近處，為異常 可能是控制限算錯(cuò)或點(diǎn)描錯(cuò)，或數(shù)據(jù)被編輯 或包含了多個(gè)過(guò)程流的測(cè)量值 XR控制圖異常波動(dòng)圖例 XR圖 后續(xù)步驟 ? 識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 對(duì)圖中所顯示的異常點(diǎn)應(yīng)及時(shí)標(biāo)注并分析原因（如用因果圖）采取措施以消除之 ? 重新計(jì)算控制限 失控原因消除后應(yīng)重新計(jì)算平均值和控制限，并畫(huà)下來(lái)以消除失控時(shí)期的影響，確保當(dāng)所有的點(diǎn)與新控制限比較時(shí)表現(xiàn)為受控，必要時(shí)重新識(shí)別 /糾正 /重新計(jì)算。 計(jì)數(shù)型控制圖 ? 不合格品率圖 p圖 –樣本數(shù)可不恒定 評(píng)價(jià)生產(chǎn)中不合格單件的比率 ? 不合格品數(shù)圖 np圖 –樣本數(shù)要求恒定 評(píng)價(jià)生產(chǎn)中不合格單件的數(shù)量 ? 單位產(chǎn)品不合格數(shù)圖 u圖 樣本數(shù)可不恒定 評(píng)價(jià)生產(chǎn)中單位產(chǎn)品中的平均不合格數(shù) ? 不合格數(shù)圖 c圖 樣本數(shù)要求恒定 評(píng)價(jià)生產(chǎn)中單位產(chǎn)品中的不合格總數(shù) 注：具體均值、中心線和控制線的計(jì)算公式詳見(jiàn)AIAG的 SPC參考手冊(cè) 2023年版第 2章第 c節(jié) P8898 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH