qc七大手法培訓(xùn)資料-閱讀頁
2025-02-25 17:44本頁面
【正文】 Control Limit,LCL) (4)樣本點 (Sample Points) UCLLCLCL3/15/2023 44管制狀態(tài)：若所有樣本點均落於管制上限與管制下限之間，則 稱此製程在管制狀態(tài) 下 (under control) 。3/15/2023 45繪製管制圖之步驟： (1)選擇需要管制之品質(zhì)特性，通常我們稱為關(guān)鍵特性 (Key Characteristics,KC)。 (3)選擇合理的樣本大小。 (5)計算中心線。 (7)建立修正後之管制界限。 (9)製程能力分析。 較常使用之計量值管制圖有下列數(shù)種： (1)平均數(shù) ─全距管制圖 (XR Control Chart) (2)平均數(shù) ─標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 (XS Control Chart) (3)中位數(shù) ─全距管制圖 (XR Control Chart) (4)個別值 ─移動全距管制圖 (XRm Control Chart) (5)最大值 ─最小值管制圖 (LS Control Chart) 較常使用之計數(shù)值管制圖有下列數(shù)種： (1)不良率管制圖 (p Control Chart) (2)不良數(shù)管制圖 (np Control Chart) (3)缺點數(shù)管制圖 (c Control Chart) (4)單位缺點數(shù)管制圖 (u Control Chart)~3/15/2023 49平均數(shù) (X)全距 (R)管制圖之繪製：博士公司 9/21~9/24每日每小時抽 5pcs鐵板量測厚度，目前已得25組數(shù)據(jù)如下，繪製其平均數(shù) (X)全距 (R)管制圖3/15/2023 50(1)計算 X=(ΣXi)/K= R=(ΣR)/K=(2)平均數(shù)管制圖 中心線 (CLX)=X= 管制上限 (UCLX)=X+A2R=+= 管制下限 (LCLX)=XA2R==(3)全距管制圖 中心線 (CLR)=R= 管制上限 (UCLR)=D4R== 管制下限 (LCLR)=D3R==0 其中 A2, D3, D4請查閱管制圖管制界限因數(shù)表(4)在將 X與 R繪入管制圖中 (如次頁 )，看有無樣本點逸出管制 界限，本題為在管制狀態(tài)下之製程。(2)此種管制圖容易調(diào)查品質(zhì)變異的 非機遇原因，故易於著手品質(zhì)改 善，去除品質(zhì)變異的非機遇原因， 使製程品質(zhì)穩(wěn)定。(2)使品管工程師或工廠主管很容易瞭 解製程產(chǎn)品品質(zhì)的狀況。(1)調(diào)查製程產(chǎn)品品質(zhì)變異之非機遇原 因較困難又費時。(3)在發(fā)覺品質(zhì)非機遇變異，並著手品 質(zhì)改善前，已發(fā)生相當(dāng)多的不良品。雖然 Ca(準(zhǔn)度 )好 ,但Cp(精度 )差。B %≦∣ Ca∣ ≦ % 操作員疏忽或調(diào)整機具不當(dāng)，應(yīng)設(shè)法加強或調(diào)整。D 25%≦∣ Ca∣ ≦ 50% 應(yīng)考慮暫停生產(chǎn)，對製程與規(guī)格重新檢討。3/15/2023 59等級 Cp值 等級說明A ≦ Cp 製程能力佳，應(yīng)繼續(xù)維持。C 1≦ Cp ≦ 製程能力尚可，但必須設(shè)法尋找可改善品質(zhì)的原因，使其不致惡化。E 0≦ Cp ≦ 製程能力嚴(yán)重惡劣，應(yīng)立即停止生產(chǎn)及全面檢討所有原因。B ≦ Cpk ≦ 製程能力良好，然可設(shè)法縮小製程變異，加強改善成為 A級。D ≦ Cpk ≦ 1 製程能力不足，應(yīng)考慮暫停生產(chǎn)，檢討規(guī)格與操作標(biāo)準(zhǔn)。3/15/2023 61Cp Ca Cpk p Cpk p Cpk p Cpk p Cpk p 71860 76468 90320 113477 145939 16395 19532 29417 47383 75323 2700 3950 8357 17912 35944 318 635 1996 5869 15387 27 80 390 1641 5868 2 8 62 390 1989 0 1 8 78 598 0 0 1 13 159 0 0 0 2 38 0 0 0 0 8Cpk與 PPM3/15/2023 62蔚為風(fēng)潮的蔚為風(fēng)潮的 6σ運動：運動：Motorola所推行的 6σ，指的是 目標(biāo)值 與 規(guī)格上下界限 間的距離各為至少是製程標(biāo)準(zhǔn)差 (σ)的 6倍，換言之，上下規(guī)格界限間的距離等於 12 σ，此時 Cp=，若製程平均值剛好等於規(guī)格中心值 (Ca=0) 則 Cpk=， ppm才等於 ，也就是每百萬件中只有 ，幾乎是零缺點；就算製程平均值偏離了規(guī)格中心值 (製程中難保不會偏離 )， ppm也才只有 ，也就是每百萬件中只
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