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正文內(nèi)容

基于虛擬儀器技術(shù)的rfid系統(tǒng)性能分析與測(cè)試-閱讀頁(yè)

2024-08-25 07:06本頁(yè)面
  

【正文】 主要問(wèn)題,提出了發(fā)展戰(zhàn)略、發(fā)展重點(diǎn)和發(fā)展措施,可以為政府決策、企業(yè)發(fā)展、科學(xué)研究等提供各方面的參考。本研究課題是在“863”先進(jìn)制造技術(shù)領(lǐng)域重大專項(xiàng)項(xiàng)目“RFID系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)研究開(kāi)發(fā)及開(kāi)放平臺(tái)建設(shè)”基礎(chǔ)上完成的。 研究現(xiàn)狀RFID系統(tǒng)測(cè)試是通過(guò)模擬各種實(shí)際應(yīng)用情景,對(duì)RFID產(chǎn)品進(jìn)行統(tǒng)一環(huán)境的測(cè)試,為相關(guān)企業(yè)提供參考依據(jù)、技術(shù)指導(dǎo)及技術(shù)服務(wù)。RFID系統(tǒng)測(cè)試涉及測(cè)試方法、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試環(huán)境以及測(cè)試設(shè)備。RFID系統(tǒng)測(cè)試主要內(nèi)容包括:標(biāo)簽與閱讀器的性能測(cè)試、空中接口一致性測(cè)試、協(xié)議一致性測(cè)試以及系統(tǒng)的電氣性能參數(shù)、物理性能參數(shù)測(cè)試等。目前的測(cè)試儀器不能完全有效地獲取RFID通信的瞬時(shí)信號(hào),只能依據(jù)相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),通過(guò)對(duì)比及分析獲得RFID系統(tǒng)部分通信瞬時(shí)信號(hào)參數(shù)以及調(diào)制方式。美國(guó)安捷倫公司提供了由89600系列矢量信號(hào)分析儀、PSA系列頻譜分析儀及相關(guān)RFID測(cè)試軟件包組成的解決方案。美國(guó)NI公司提供了基于PXI5671矢量信號(hào)發(fā)生器和PXI5660矢量信號(hào)分析儀及相關(guān)RFID測(cè)試軟件包的RFID測(cè)試方案,此外還針對(duì)EPC C1G2和180006 C標(biāo)準(zhǔn)輪詢時(shí)間短的特點(diǎn),提供了基于5640R FPGA板卡和PXI56PXI5600上下變頻模塊的RFID測(cè)試方案,可以進(jìn)行相關(guān)多域分析和標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議一致性測(cè)試,但其主要完成的是協(xié)議一致性方面的測(cè)試,對(duì)RFID系統(tǒng)其它性能測(cè)試較少[1213]。無(wú)源超高頻RFID系統(tǒng)通常采用反向散射調(diào)制方式,利用反向散射技術(shù)在標(biāo)簽與閱讀器之間建立通信。而標(biāo)簽反向散射返回信號(hào)的強(qiáng)弱由標(biāo)簽的雷達(dá)散射截面(Radar Cross Section,RCS)決定,標(biāo)簽反向散射調(diào)制信號(hào)的質(zhì)量由標(biāo)簽的反向散射調(diào)制性能決定,因此對(duì)無(wú)源超高頻RFID系統(tǒng)標(biāo)簽的RCS及反向散射調(diào)制性能進(jìn)行分析就顯得尤為重要。一些文獻(xiàn)對(duì)標(biāo)簽的RCS進(jìn)行了分析與測(cè)試,但是對(duì)標(biāo)簽雷達(dá)截面差值(Delta Radar Cross Section,△RCS)方面研究的文獻(xiàn)很少,只分析了發(fā)射功率、頻率對(duì)標(biāo)簽△RCS的影響,并沒(méi)有分析△RCS對(duì)RFID系統(tǒng)性能的影響[18,20]。文獻(xiàn)[1517]利用NI公司研發(fā)軟硬件,采用軟件無(wú)線電方式,完成了部分參數(shù)對(duì)標(biāo)簽識(shí)別距離影響的測(cè)試,并發(fā)現(xiàn)使標(biāo)簽天線獲取功率及識(shí)別距離最大的編碼參數(shù)組合。Karthaus 和Vita 等通過(guò)分析標(biāo)簽絕對(duì)反向散射功率,提出了一種等失配值的ASK調(diào)制方法,但并不能保證標(biāo)簽有效反向散射功率最優(yōu)[2123]。目前標(biāo)簽反向散射調(diào)制性能的主要分析方法是反射系數(shù)法,利用標(biāo)簽天線和芯片阻抗求出接口處反射系數(shù),通過(guò)雙線性變換轉(zhuǎn)換到Smith圖進(jìn)行調(diào)制性能分析,標(biāo)簽反向散射信號(hào)質(zhì)量則通過(guò)閱讀器接收端BER來(lái)評(píng)價(jià)[24]。無(wú)源超高頻RFID系統(tǒng)性能評(píng)估的主要參數(shù)是系統(tǒng)的識(shí)別距離和標(biāo)簽的識(shí)別率,而實(shí)際應(yīng)用中系統(tǒng)性能又要受到諸多因素的影響,如:工作頻率、發(fā)射功率、閱讀器及標(biāo)簽的擺放位置、距離、同時(shí)進(jìn)入閱讀器天線輻射場(chǎng)的標(biāo)簽數(shù)目、標(biāo)簽貼附的材料、標(biāo)簽運(yùn)動(dòng)速度、周圍環(huán)境的電磁干擾等,主要依靠實(shí)際經(jīng)驗(yàn)來(lái)確定影響RFID系統(tǒng)性能指標(biāo)的因素,并無(wú)相關(guān)的理論研究。本文的研究?jī)?nèi)容主要包括以下四個(gè)方面的工作:(1)構(gòu)建了基于虛擬儀器技術(shù)和軟件無(wú)線電技術(shù)的RFID系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái),包括RFID測(cè)試系統(tǒng)以及RFID系統(tǒng)模擬應(yīng)用環(huán)境,并通過(guò)該測(cè)試平臺(tái)對(duì)RFID系統(tǒng)的一些性能指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行了測(cè)試和分析。(3)分析了無(wú)源超高頻RFID系統(tǒng)閱讀器接收機(jī)有效吸收功率最大的最佳條件,討論了阻抗失配對(duì)標(biāo)簽反向散射鏈路調(diào)制系數(shù)的影響,導(dǎo)出閱讀器接收機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化有效吸收功率、解調(diào)輸出信號(hào)信噪比下邊界和接收端誤碼率的反向散射調(diào)制系數(shù)表示形式,并驗(yàn)證了其有效性。本文的第5章內(nèi)容都是根據(jù)作者的相關(guān)論文、專利及軟件著作權(quán)內(nèi)容整理而成。主要介紹了RFID系統(tǒng)組成、基本原理及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),從無(wú)線功率傳輸、信號(hào)調(diào)制方式、信號(hào)編碼、數(shù)據(jù)傳輸?shù)耐暾约胺琅鲎驳确矫骊U述了RFID系統(tǒng)的基本工作原理。第2章介紹了RFID系統(tǒng)性能測(cè)試原理、測(cè)試方法、測(cè)試設(shè)備和測(cè)試環(huán)境。主要介紹了虛擬儀器技術(shù)、軟件定義無(wú)線電技術(shù)以及軟件定義無(wú)線電射頻測(cè)量?jī)x器,針對(duì)RFID系統(tǒng)性能測(cè)試原理、方法和特點(diǎn),構(gòu)建了基于虛擬儀器技術(shù)和軟件無(wú)線電技術(shù)的RFID系統(tǒng)性能測(cè)試平臺(tái)。基于天線散射理論和RFID通信技術(shù),研究了標(biāo)簽通信誤碼率的△RCS表現(xiàn)形式,并對(duì)所提出的方法進(jìn)行了仿真和實(shí)驗(yàn)分析。在開(kāi)闊室內(nèi)環(huán)境下,完成了不同參數(shù)條件下的反向散射調(diào)制系數(shù)測(cè)試。本學(xué)位論文的研究工作得到何怡剛教授主持的國(guó)家高技術(shù)研究發(fā)展計(jì)劃(),國(guó)家杰出青年科學(xué)基金(50925727),國(guó)家自然科學(xué)基金(, )和湖南省科技技術(shù)項(xiàng)目(2008GK2022)等項(xiàng)目的支持。RFID測(cè)試是標(biāo)簽、閱讀器及RFID系統(tǒng)設(shè)計(jì)的關(guān)鍵步驟,是建立標(biāo)簽芯片電路、標(biāo)簽與閱讀器通信鏈路以及電路小信號(hào)等效電路模型的基礎(chǔ)。同時(shí)RFID測(cè)試技術(shù)也反映RFID技術(shù)發(fā)展水平,為RFID技術(shù)、產(chǎn)品和應(yīng)用提供參考依據(jù)、技術(shù)指導(dǎo)和技術(shù)服務(wù),可以大力推動(dòng)RFID技術(shù)、產(chǎn)業(yè)及應(yīng)用的發(fā)展,已成為RFID技術(shù)及應(yīng)用的一個(gè)不可或缺的重要環(huán)節(jié)。RFID系統(tǒng)性能測(cè)試技術(shù)是指應(yīng)用于RFID標(biāo)簽芯片、標(biāo)簽天線和閱讀器、天線的性能測(cè)試技術(shù),包括標(biāo)簽測(cè)試、閱讀器測(cè)試以及RFID系統(tǒng)測(cè)試。RFID系統(tǒng)測(cè)試主要涉及到以下幾項(xiàng)技術(shù):1.瞬時(shí)信號(hào)的提取及測(cè)試技術(shù)瞬態(tài)信號(hào)的測(cè)試主要是指瞬態(tài)信號(hào)的捕獲和分析。突發(fā)信號(hào)及信號(hào)的快變,加大了信號(hào)捕獲的難度,也凸顯了瞬態(tài)信號(hào)測(cè)試的重要性。2.RFID性能測(cè)試技術(shù)RFID系統(tǒng)功能測(cè)試主要是標(biāo)簽識(shí)別層所涉及的指令發(fā)送順序、指令集、存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)、存儲(chǔ)器讀寫(xiě)邏輯及時(shí)序、數(shù)據(jù)校驗(yàn)、標(biāo)簽內(nèi)部狀態(tài)、標(biāo)簽邏輯正確性及響應(yīng)時(shí)間等指標(biāo)的測(cè)試。RFID性能測(cè)試包括標(biāo)簽、閱讀器、及RFID系統(tǒng)性能測(cè)試三個(gè)方面。閱讀器性能測(cè)試主要有:閱讀器識(shí)別場(chǎng)覆蓋范圍、協(xié)議一致性、抗干擾性、可靠性、兼容性等。3.標(biāo)簽流水線化測(cè)試技術(shù)微電子技術(shù)的發(fā)展增大了標(biāo)簽芯片電路的復(fù)雜度,相應(yīng)也增加了標(biāo)簽的測(cè)試成本,而標(biāo)簽成本是限制RFID技術(shù)應(yīng)用推廣的主要因素,因此需要從標(biāo)簽設(shè)計(jì)、制造和測(cè)試兩方面考慮成本降低問(wèn)題。為了提高測(cè)試效率,有必要采用基于防干擾系統(tǒng)和防碰撞算法的流水線化測(cè)試技術(shù),實(shí)現(xiàn)若干獨(dú)立信號(hào)的同步傳輸及多個(gè)標(biāo)簽的同步訪問(wèn)。根據(jù)實(shí)際業(yè)務(wù)需求,RFID系統(tǒng)動(dòng)態(tài)仿真測(cè)試場(chǎng)景應(yīng)可以仿真超市、高速公路收費(fèi)、工廠等應(yīng)用場(chǎng)景,且空間電磁場(chǎng)、傳播介質(zhì)、標(biāo)簽相對(duì)運(yùn)動(dòng)速度、角度、距離等參數(shù)可調(diào),并通過(guò)統(tǒng)計(jì)方法分析影響RFID系統(tǒng)性能閱的主要因素,建立性能評(píng)估模型、評(píng)測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和評(píng)測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)。按照RFID系統(tǒng)的組成,其相應(yīng)的測(cè)試也應(yīng)包括標(biāo)簽、閱讀器、中間件和后臺(tái)網(wǎng)絡(luò)四個(gè)方面。2.RFID系統(tǒng)性能測(cè)試包括:標(biāo)簽識(shí)別距離、標(biāo)簽天線方向性、標(biāo)簽最小工作場(chǎng)強(qiáng)、標(biāo)簽返回信號(hào)強(qiáng)度、抗噪聲性能、頻帶寬度、各種環(huán)境下標(biāo)簽讀取率、標(biāo)簽讀取速度等測(cè)試;閱讀器識(shí)別速率、靈敏度、發(fā)射頻譜等測(cè)試;RFID系統(tǒng)不同參數(shù)(改變標(biāo)簽的移動(dòng)速度、貼附材料、數(shù)量、標(biāo)簽進(jìn)入閱讀器識(shí)別場(chǎng)方位、數(shù)據(jù)信息量大小以及多標(biāo)簽的空間組合方案等)設(shè)置情形下的RFID系統(tǒng)通信距離、通信速率等;RFID中間件系統(tǒng)性能測(cè)試和RFID應(yīng)用系統(tǒng)性能測(cè)試。4.RFID系統(tǒng)安全性測(cè)試包括:標(biāo)簽存儲(chǔ)器、加密機(jī)制、芯片不同信息區(qū)的安全性測(cè)試;閱讀器存儲(chǔ)器、加密機(jī)制、內(nèi)部軟件系統(tǒng)安全性測(cè)試;RFID系統(tǒng)通信鏈路標(biāo)簽訪問(wèn)控制、安全審計(jì)測(cè)試、標(biāo)簽內(nèi)容操作(如讀,寫(xiě),復(fù)制,刪除,修改等)安全性和空中接口通信協(xié)議安全測(cè)試;RFID后臺(tái)系統(tǒng)及中間件通信過(guò)程安全性測(cè)試、RFID中間件安全性測(cè)試、RFID應(yīng)用系統(tǒng)安全性測(cè)試。RFID系統(tǒng)測(cè)試還包括一些基本物理測(cè)試和有關(guān)質(zhì)量認(rèn)證方面的測(cè)試,如:電磁兼容、環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)、電氣安全參數(shù)、標(biāo)簽和閱讀器特殊技術(shù)指標(biāo)等。目前與RFID技術(shù)和產(chǎn)品應(yīng)用相關(guān)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)主要有:國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)、國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)、國(guó)際電信聯(lián)盟(ITU)、世界郵聯(lián)(UPU)。目前RFID產(chǎn)品測(cè)試遵循的標(biāo)準(zhǔn)主要有ISO18046系列和ISO18047系列標(biāo)準(zhǔn),涉及的主要內(nèi)容有:標(biāo)簽與閱讀器的性能測(cè)試、空中接口一致性測(cè)試、協(xié)議一致性測(cè)試以及系統(tǒng)的電氣性能參數(shù)、物理性能參數(shù)測(cè)試等,[27]。部分測(cè)試需要使用特殊設(shè)備,如系統(tǒng)在無(wú)干擾環(huán)境下的性能測(cè)試需要電波暗室等。3.測(cè)試及數(shù)據(jù)分析工具:標(biāo)簽測(cè)試軟件、閱讀器測(cè)試軟件、射頻設(shè)計(jì)與仿真軟件、數(shù)據(jù)分析工具等。 RFID系統(tǒng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)標(biāo)準(zhǔn)名稱ISO/IEC18046: 2006 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)識(shí)別和數(shù)據(jù)采集技術(shù) RFID設(shè)備性能測(cè)試方法ISO/IEC180461 工作草案第1部分:系統(tǒng)性能測(cè)試方法ISO/IEC180462 工作草案第2部分:閱讀器性能測(cè)試方法ISO/IEC180463 工作草案第3部分:標(biāo)簽性能測(cè)試方法ISO/IEC180472:2006國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)射頻識(shí)別設(shè)備一致性測(cè)試方法第2部分:頻率小于135kHz的空中接口通信測(cè)試方法ISO/IEC180473:2004國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)第3部分:ISO/IEC180474:2004國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)第4部分:ISO/IEC180476:2006國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)第6部分:860~960MHz的空中接口通信測(cè)試方法ISO/IEC180477:2005國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)第7部分:433MHz的空中接口通信測(cè)試方法RFID系統(tǒng)測(cè)試的電子測(cè)量?jī)x器分為模擬儀器、數(shù)字化儀器、智能儀器(專用型和臺(tái)式積木型測(cè)試系統(tǒng))和虛擬儀器。智能儀器和虛擬儀器又可以稱為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其中專用型和臺(tái)式積木型測(cè)試系統(tǒng),通常具有內(nèi)置微處理器,可以完成自動(dòng)測(cè)試工作,又具有一定的數(shù)據(jù)處理能力,設(shè)備資源復(fù)用性好,但其功能塊均以硬件(或固化的軟件)形式存在,系統(tǒng)缺乏靈活性,且設(shè)備數(shù)據(jù)接口總線傳輸速率低,測(cè)試系統(tǒng)體積大,相對(duì)成本較高;虛擬儀器是計(jì)算機(jī)技術(shù)、通信技術(shù)和測(cè)量技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物,采用模塊化方式搭建系統(tǒng),具有數(shù)據(jù)處理速度高、數(shù)據(jù)傳輸速率高、資源復(fù)用性好、可擴(kuò)展能力強(qiáng),I/O可重配置、體積小等優(yōu)點(diǎn),是測(cè)試儀器發(fā)展的重要方向。隨著RFID技術(shù)的發(fā)展,RFID系統(tǒng)標(biāo)簽與閱讀器間通信已經(jīng)達(dá)到微秒級(jí),信號(hào)發(fā)生時(shí)間極短,且信號(hào)需滿足協(xié)議規(guī)定的時(shí)序要求。傳統(tǒng)信號(hào)發(fā)生器、頻譜分析儀、示波器等設(shè)備搭建的RFID系統(tǒng)協(xié)議一致性測(cè)試系統(tǒng),可以完成RFID協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的部分參數(shù)測(cè)試,但信號(hào)發(fā)生器無(wú)法滿足協(xié)議的時(shí)序要求。基于虛擬儀器技術(shù)和軟件定義無(wú)線電的射頻測(cè)試系統(tǒng),充分發(fā)揮虛擬儀器技術(shù)強(qiáng)大的可重構(gòu)性和可擴(kuò)展性優(yōu)勢(shì),結(jié)合軟件定義無(wú)線電的可編程性和靈活性,適合于RFID系統(tǒng)的測(cè)試,可以快速應(yīng)對(duì)新的協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求,同時(shí)測(cè)試系統(tǒng)主要研發(fā)工作是信號(hào)處理軟件研究,系統(tǒng)開(kāi)發(fā)時(shí)間和成本較少。虛擬儀器核心思想是“軟件即儀器”,將許多硬件完成的信號(hào)處理工作交由軟件完成,通過(guò)硬件功能軟件化,將儀器裝入計(jì)算機(jī),以通用的計(jì)算機(jī)硬件及操作系統(tǒng)為依托,實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量?jī)x器功能。計(jì)算機(jī)是虛擬儀器的構(gòu)建依托平臺(tái),主要負(fù)責(zé)軟件資源管理和數(shù)據(jù)處理工作,并且是儀器存儲(chǔ)和顯示設(shè)備。虛擬儀器軟件包括虛擬儀器軟件體系結(jié)構(gòu)庫(kù)(VISA)、儀器驅(qū)動(dòng)程序、應(yīng)用軟件三部分。應(yīng)用軟件為操作用戶提供操作界面、數(shù)據(jù)分析與處理功能,是虛擬儀器的核心部分,通過(guò)不同的應(yīng)用軟件,虛擬儀器完成不同的測(cè)試和分析功能。LabVIEW是美國(guó)NI公司研制開(kāi)發(fā)的圖形化開(kāi)發(fā)語(yǔ)言,可以完成數(shù)據(jù)采集、控制、分析和表達(dá)等功能。LabVIEW程序采用分層結(jié)構(gòu),具有很強(qiáng)的可讀性、可編輯性、可重用性和可理解性。PXI總線是NI公司開(kāi)發(fā)的基于計(jì)算機(jī)測(cè)量和自動(dòng)化平臺(tái)的一種開(kāi)放式工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),包括通用的操作系統(tǒng)、即插即用的驅(qū)動(dòng)和網(wǎng)絡(luò)技術(shù),具有的定時(shí)、觸發(fā)和同步功能,可以滿足人們?nèi)找嬖鲩L(zhǎng)的對(duì)復(fù)雜儀器系統(tǒng)的需求。PXI總線標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備平臺(tái)利用了基于計(jì)算機(jī)平臺(tái)的性價(jià)比、體積和總線速率優(yōu)勢(shì),加上GPIB和VXI儀器規(guī)范特性,具有更快的總線傳輸速率、更小的體積以及更好的性價(jià)比,同時(shí)受益于NI軟件的靈活性和不斷更新的模塊化硬件,基于PXI總線標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試系統(tǒng)具有良好的擴(kuò)展性和靈活的軟件架構(gòu),便于系統(tǒng)集成和升級(jí)。 軟件定義無(wú)線電概述軟件定義無(wú)線電(Software Defined Radio,SDR)是Joe Mitola在1992年美國(guó)國(guó)家遠(yuǎn)程系統(tǒng)會(huì)議上提出的一種基于軟件定義無(wú)線通信協(xié)議的無(wú)線通信技術(shù),通過(guò)軟件或數(shù)字電路實(shí)現(xiàn)通信系統(tǒng)無(wú)線信號(hào)的調(diào)制與解調(diào),其核心思想是用寬帶接收機(jī)替代以往的窄帶接收機(jī),寬帶模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)和數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)盡可能靠近射頻端及天線,對(duì)整個(gè)系統(tǒng)信號(hào)進(jìn)行采樣與分析,同時(shí)系統(tǒng)盡量使用軟件替代硬件完成其功能,系統(tǒng)功能實(shí)現(xiàn)靈活多樣,擴(kuò)展性強(qiáng),目前已廣泛應(yīng)用于軍事通信、雷達(dá)以及第三代移動(dòng)通信等領(lǐng)域。基于SDR技術(shù)的射頻測(cè)量?jī)x器包括數(shù)字下變頻(DDC)、數(shù)字上變頻(DUC)和基帶處理模塊。相反,DUC是中頻發(fā)射機(jī)最后的信號(hào)處理模塊,包括數(shù)字內(nèi)插器、NCO和正交調(diào)制器,具有不同的內(nèi)插倍數(shù)和輸入數(shù)據(jù)率等指標(biāo)參數(shù)。RF前端包括天線、低噪聲放大器、功率放大器,上/下變頻器等RF模擬電路,發(fā)射時(shí)完成上變頻、濾波和功率放大等任務(wù),接收時(shí)完成濾波、放大和下變頻等功能?;鶐幚砥髦饕瓿烧{(diào)制、解調(diào)、濾波、變換等工作的數(shù)字運(yùn)算、數(shù)字變換、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及數(shù)字信號(hào)處理功能。基于SDR結(jié)構(gòu)射頻測(cè)量?jī)x器的核心功能是其強(qiáng)大的數(shù)字信號(hào)處理能力,可以完成傳統(tǒng)射頻測(cè)量?jī)x器由模擬電路部件完成的變頻、中頻放大、同相/正交(I/Q)檢波、帶通濾波、調(diào)制和解調(diào)等功能,以及數(shù)字運(yùn)算、數(shù)字變換、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)等功能。根據(jù)數(shù)字信號(hào)處理方式,SDR結(jié)構(gòu)測(cè)量?jī)x器可以分為通用處理器方式、專用硬件方式和可編程信號(hào)處理硬件方式三種。SDR結(jié)構(gòu)射頻測(cè)量?jī)x器一般要求頻段工作范圍較寬,例如1MHz6GHz,并且要求頻段特性均勻,可以滿足各種不同業(yè)務(wù)的需求。RF模擬信號(hào)的數(shù)字化采樣通常有兩種方法:一為基于奈奎斯特定理的低通采樣,通常采用RF射頻全寬開(kāi)低通采樣結(jié)構(gòu);二為帶通采樣,其中帶通采樣又有RF直接帶通采樣和中頻帶通采樣。但是天線接收信號(hào)經(jīng)濾波放大后直接由ADC進(jìn)行采樣量化處理,因此要求ADC和數(shù)
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