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課程設(shè)計--滾珠直徑測試機構(gòu)-閱讀頁

2025-06-24 22:39本頁面
  

【正文】 生的測量誤差 。 如圖 52 所示,如果滾珠圓度不滿足加工要求,就會導致測量后的值產(chǎn)生偏差,對測量結(jié)果不利。 因此,為了避免由于滾珠圓度不同而產(chǎn)生對滾珠分組的影響,應(yīng)使?jié)L珠的圓度控制在 lμm 之內(nèi)。 圖 52 圓度產(chǎn)生測量誤差示意圖 被測對象表面的粗糙度對傳感器測量結(jié)果也有一定影響,被測對象光澤主要檢測理論與 應(yīng)用 課程設(shè)計(論文) 15 由折射率和表面粗糙度決定。當表面過于粗糙,粗糙度值過大,容易造成照明光點的局部丟光現(xiàn)象,破壞了原光點的均勻性,從而使輸出值不穩(wěn)定。 測量時的滾珠是經(jīng)過精加工后才進行測量,因此滾珠的表面粗糙度值較低,表面較光滑,會對滾子測量結(jié)果產(chǎn)生一定的影響,這是工件自身條件決定的,無法改變。 ( 2) 系統(tǒng)誤差是指大小和方向為確定數(shù)值或是具有確定性變化規(guī)律的誤差。該誤差可以根據(jù)實驗條件,系統(tǒng)誤差的特點,找出產(chǎn)生系統(tǒng)誤差的主要原因,采取適當?shù)拇胧┙档退挠绊?,但不能完全避免其對測量結(jié)果的影響。隨機誤差盡管有多種,但被測滾珠由于熱脹冷縮和表面粗糙度而產(chǎn)生的隨機誤差之和都遠小于滾珠的測量精度,將不會對滾珠的測量結(jié)果產(chǎn)生影響;然而,滾珠由于自 身尺寸問題,如滾珠圓度產(chǎn)生的誤差對測量結(jié)果的影響較為明顯,是產(chǎn)生誤差的主要因素。同時,通過對誤差的分析證明本設(shè)計的測量手段對滾珠的測量而言是一種合理、有效、可以信賴的測量方式。 檢測理論與 應(yīng)用 課程設(shè)計(論文) 16 通過本次設(shè)計我復習了 CAD 和 Proteus 的使用和單片編程,對自身掌握的知識進行查漏補缺,為接下來的畢業(yè)設(shè)計和工作打下良好的基礎(chǔ)。在充足的時間下,畢業(yè)設(shè)計一定要解決這些方面,做一份更加完善的課程設(shè)計。在設(shè)計思路上采用了模塊化的設(shè)計思路,便于產(chǎn)品更新?lián)Q代,使其具備了更強的適應(yīng)能力。最后,為了保證測量能夠達到預期目的,對測量過程中可能出現(xiàn)引起誤差的原因進行了分析與總結(jié),對可能產(chǎn)生的誤差值進行量化,并對會影響到測量結(jié)果的誤差提出控制手段和解決方案。 (2)通過對測量過程中可能出現(xiàn)的誤差進行分 析,計算表明主要誤差是由滾珠圓度不理想引起的。 九、 參考文獻 [1] 王江山、高玉清等 .圓錐、圓柱滾子工藝現(xiàn)狀及其分析 [J].現(xiàn)代零部件 .2021(8) [2] 馬金寧、孫秀文等 .模塊化設(shè)計帶來的新理念 [J].航空制造技術(shù) .2021(6) [3] 中原量儀廠“ J”系列分選機試制組 .“ J”系列軸承滾動體自動分選機 [J].1974( 5) 檢測理論與 應(yīng)用 課程設(shè)計(論文) 17 [4] 王連吉、鄒國華、李興林等 .非接觸式測量圓柱滾子分選機 [J].軸承 .2021( 3) [5] 尼龍 .百度百科 [EB/OL]. [6] 孫長庫、何明霞、王鵬 .激光測量技術(shù)( 2 版) [M].天津 .天津大學出版社 .2021( 7) [7] 周秀云等 .光電檢測技術(shù)及應(yīng)用 [M].北京 .電子工業(yè)出版社 .2021( 11) [8] 劉貴喜 .線陣 CCD 器件 TCD142D 的應(yīng)用 [J].國外電子元器件 .1996( 6) [9] 湯曉燕、云忠 .軸承滾珠按直徑自動分選 [J].新技術(shù)新工藝 .2021( 12) [10] [EB/OL]. [11] 張建輝、宋平崗等 .線陣 CCD技術(shù)及其在非接觸檢測中的 應(yīng)用 [J].機械與電子 .2021( 8) [12] 矩陣鍵盤 .百度百科 [EB/OL]. [13] 史良 .LCD12864 顯示模塊與微處理器的接口設(shè)計 [J].礦業(yè)安全與環(huán)保 .1999( 5) [14] 費業(yè)泰等 .誤差理論與數(shù)據(jù)處理 [M]( 6 版) .北京 .機械工業(yè)出版社 .2021( 6) [15] 胡漢才 .單片機原理及其接口技術(shù) [M]( 3 版) .北京 .清華大學出版社 .2021( 5) [16] 浦昭邦、王寶光 .測控儀器設(shè)計 [M]( 2 班) .北京 .機械工業(yè)出版社 .2021( 4) [17] 郁有文、常鍵、程繼紅等 .傳感器原理及工程應(yīng)用 [M]( 3 版) .西安 .西安電子科技大學出版社 .2021( 7) [18] 施文康、余曉芬等 .檢測技術(shù) [M]( 3 版) .北京 .機械工業(yè)出版社 .2021( 2) [19] 郁道銀、談恒英等 .工程光學基礎(chǔ)教程 [M].北京 .機械工業(yè)出版社 .2021( 4) [20]郭天祥 .51 單片機 C語言教程 .電子工業(yè)出版社 , 2021. [21]鐘富昭等 .8051 單片機典型模塊設(shè)計與應(yīng)用 [M].人民郵電出版社, 2021. [22]劉迎春 ,葉湘濱 .傳感器原理設(shè)計與應(yīng)用,國防科技出版社, [23]秦榮榮、崔可維 .機械原理 .高等教育出版社, 第一版 [24]寇尊權(quán) .機械課程設(shè)計 .機械工業(yè)出版社, 第一版 [25]陳育中 .電子設(shè)計工程, 2021 年 02期 檢測理論與 應(yīng)用 課程設(shè)計(論文) 18 附錄一 系統(tǒng)主程序流程圖: 開 始初 始 化 參 數(shù) 設(shè) 置 ?設(shè) 置 參 數(shù)數(shù) 據(jù) 采 集數(shù) 據(jù) 處 理送 入 L C D 顯 示控 制 分 選 閥 門 分 選 結(jié) 束 ?結(jié) 束NYYN 檢測理論與 應(yīng)用 課程設(shè)計(論文) 19 附錄二 數(shù)據(jù)采集子程序流程圖: 判 斷 計 數(shù) 標 志 位 ?開 始 計 數(shù)判 斷 計 數(shù) 標 志 位停 止 計 數(shù) ?關(guān) 閉 計 數(shù) 器讀 取 寄 存 器計 數(shù) 器 清 零YNYN
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