spc統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制培訓(xùn)課程-在線瀏覽
2025-03-24 04:48本頁(yè)面
【正文】 168。 確定能力。 監(jiān)控過(guò)程性能168。 改變過(guò)程從而更好地理解普通原因變差168。 :制程變異的原因可分為 :偶然原因和異常原因 ,控制圖主要用來(lái)控制異常 ,追查真因 ,采取行動(dòng) ,使制程恢復(fù)正常 .24 :n 可用以控制分組的計(jì)量數(shù)據(jù)n 即每次同時(shí)取到幾個(gè)數(shù)據(jù)之地方，n 數(shù)據(jù)屬于計(jì)量型，如長(zhǎng)度、重量、阻抗、零件厚度、內(nèi)外徑等等。n但是 ……該工序變差到底有多大？下一個(gè)產(chǎn)品又會(huì)怎樣呢？27結(jié)論： 少量的測(cè)量數(shù)據(jù)不能說(shuō)明過(guò)程的變 差范圍。XR控制圖之樣本 ,為了合理、經(jīng)濟(jì)及有效 ,大多取 4或 5。要使樣組內(nèi)之變異小，必須使樣本在相同條件下制造，一般情況下，包含 100或更多單值讀數(shù)的 25或更多個(gè)子組可以很好地用來(lái)檢驗(yàn)穩(wěn)定性。34n Cp=(USLLSL)/6σn USL:工程規(guī)范的上限n LSL:工程規(guī)范的下限n σ=R/d2:為過(guò)程特性標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)值，這里指過(guò)程中統(tǒng)計(jì)抽樣值的分布寬度的量度，與子組大小相關(guān)。 σS： = √ ∑(XiX)2/n1一個(gè)過(guò)程特性單值分布的標(biāo)準(zhǔn)差，與整個(gè)過(guò)程的分布寬度相關(guān)。 4. X = 製程分配之平均值 37製程能力指數(shù) (總合指數(shù) )：代號(hào) 判斷 計(jì)算公式等級(jí) 分級(jí)基準(zhǔn)PPK初期製程能力指數(shù)(初期分析用 ) 見(jiàn)公式 ABCD ≦ PPK ≦ PPK ≦ PPK PPK CPK量產(chǎn)製程能力指數(shù)(製程中如以控制圖執(zhí)行控制可代PPK) 見(jiàn)公式ABC ≦ CPK ≦ CPK CPK 38n 如果均值和極差控制圖過(guò)程波動(dòng)不存在異?，F(xiàn)象；n 初始過(guò)程能力達(dá)到預(yù)期的期望值，即 以上；n 那么均值極差控制圖中的控制線將為相同條件過(guò)程，（同過(guò)程、同特性）量產(chǎn)時(shí)的過(guò)程管控線， 即為：過(guò)程管控標(biāo)準(zhǔn)。39二、計(jì)量型控制圖n 1 均值與極差控制圖 (XR)n 2 均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 (X－ S)n 3 中位數(shù)與極差控制圖 (X R)n 4 單值與移動(dòng)極差控制圖 (XMR)~40： Xs圖n 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖與 XR圖一樣，也是從測(cè)得的過(guò)程輸出數(shù)據(jù)中發(fā)展來(lái)的；n 一般來(lái)說(shuō)，當(dāng)出現(xiàn)以下一種或多種情況時(shí)，可采用均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖：168。 有方便適用的器具使 s的計(jì)算能簡(jiǎn)單按程序算出；168。n 收集數(shù)據(jù)：如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄在單獨(dú)的數(shù)據(jù)表上，只有每組的均值和標(biāo)準(zhǔn)差出現(xiàn)在圖上。以 R值代表其變異已不夠準(zhǔn)確，故必須改用標(biāo)準(zhǔn)差 σ替代極差 R。42Xs圖示例43Xs圖公式n S= √ ∑(XiX)2/n1n UCLS=B4S n LCLS=B3Sn UCLx=X+A3Sn LCLx= XA3Sn CLS=S44 44CASE 2X－ S控制圖用的系數(shù)45二、計(jì)量型控制圖n 1 均值與極差控制圖 (XR)n 2 均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 (X－ S)n 3 中位數(shù)與極差控制圖 (XR )n 4 單值與移動(dòng)極差控制圖 (XMR)~46 (XR)n 中位數(shù)圖在應(yīng)用中的優(yōu)點(diǎn)：168。 由于描的是單值的點(diǎn)（以及中位數(shù)），可顯示過(guò)程輸出的分布寬度并且給出過(guò)程變差的趨勢(shì)；168。 一般情況下，中位數(shù)圖用在子組的樣本容量小于或等于 10的情況，樣本容量為奇數(shù)時(shí)更方便。 將每個(gè)子組的中位數(shù)和極差填入數(shù)據(jù)表~47中位數(shù)圖示例48XR圖公式n CLR= Rn UCLR=D4R n LCLR=D3Rn UCLx=X+A2Rn LCLx= XA2Rn CLx=X~~~ ~~~49樣 本大小 R 圖 用A2 D3 D4 M3A22 3 4 5 6 7 8 9 10 49CASE 3XR圖系數(shù)表~50二、計(jì)量型控制圖n 1 均值與極差控制圖 (XR)n 2 均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 (X－ S)n 3 中位數(shù)與極差控制圖 (XR )n 4 單值與移動(dòng)極差控制圖 (XMR)~51（ XMR圖）n 當(dāng)測(cè)量費(fèi)用很大時(shí)（如破壞性試驗(yàn)）或當(dāng)任何時(shí)刻點(diǎn)的輸出性質(zhì)比較一致時(shí)（如化學(xué)溶液的 PH值），可使用 XMR圖，但要注意：168。 如果過(guò)程的分布不是對(duì)稱(chēng)的，則在解釋控制圖時(shí)要十分小心；168。 由于每一子組僅有一個(gè)單值， X均值和標(biāo)準(zhǔn)差值會(huì)有較大的變異性。 在數(shù)據(jù)圖上從左到右記錄單值讀數(shù)（ X）168。52XMR圖示例53XMR圖公式n UCLMR=D4R n LCLMR=D3Rn UCLx=X+E2Rn LCLx= XE2Rn CLx=X54 54CASE 4XMR圖系數(shù)表55三、計(jì)數(shù)型控制圖n 1不良率控制圖 (P)n 2 不良數(shù)控制圖 (nP)n 3 缺點(diǎn)數(shù)控制圖 (C)n 4多單位缺點(diǎn)數(shù)控制圖 (U )561. P控制圖
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