超聲檢測方法ppt課件-在線瀏覽
2025-06-24 13:53本頁面
【正文】 學(xué)中的基本問題 。 在探頭中 ， 最重要的是壓電晶片和阻尼塊 (吸收塊 )， 壓電晶片下面的保護膜也很重要 。 在超聲檢測中用得最廣泛的壓電材料是鋯鈦酸鉛 (PZT)， 靈敏度高 ， 成本低和工藝簡單 。 吸收塊是對壓電晶片的振動起阻尼作用 ， 目的是提高探頭分辨缺陷的能力 ， 常用環(huán)氧樹脂加鎢粉 ， 要求吸收系數(shù)要大 ， 能使聲波散射 。 通常是從工藝上采取措施 ， 提高環(huán)氧樹脂鎢粉吸收塊的聲阻抗值 、 使之接近壓電晶片 ， 是制作高分辨力探頭的關(guān)鍵 。 一般來說 ， 由于產(chǎn)生縱波最容易 ， 而且轉(zhuǎn)換效率也高 ， 因此在需要其它波型時 ， 大都考慮首先獲得縱波 ， 然后用波型轉(zhuǎn)換來得到其它波形 。 對斜探頭來說 ， 除了考慮獲得所需的波型及足夠的聲能外 ， 還應(yīng)注意不致由于斜楔的存在而使雜波增加 ， 影響缺陷波形的判別 。 斜楔的材料一般都采用有機玻璃 ， 在斜楔的某些部位增填吸收材料 ， 以便把從斜楔與工件界面反射回來的雜波盡可能吸收掉 。 雙晶斜探頭的結(jié)構(gòu) ， 透聲楔分為兩部分 ， 中間設(shè)有隔聲層 。 雙晶探頭采用收發(fā)分離的兩塊晶片 ， 消除了有機玻璃與工件界面上的反射雜波 ， 始脈沖不能進入接收放大器 ， 盲區(qū)減小 ， 可以發(fā)現(xiàn)近表面缺陷 。 在由 a， b， c、 d 點構(gòu)成菱形區(qū) ， 是檢測靈敏度較高的部位 。 多分量換觸器同時產(chǎn)生和接收 2個以上信號 ， 例如 2分量換能器可以產(chǎn)生和接收一個縱波和一個橫波分量 ， 或兩個互相垂直的橫波分量 。 多分量換能器的工作原理如圖所示 。 包括縱波 橫波 (LT)二分量 、 橫波 橫波 (TT)二分量 、 縱波 橫波 橫波 (LTT)三分量換能器 。 由于晶片之間不能共用信號線 ， 彼此之間采用了隔離層 (G)， 其中 G1為背襯 。 例如在板波探傷中 ， 為選擇合適板波 ， 采用變角度探頭 。 圖 a通過轉(zhuǎn)動上面楔塊來改變?nèi)肷浣?， 缺點是沒有吸收塊 。 圖 c缺點是在透聲楔內(nèi)聲程較大 、 衰減大 、 靈敏度下降 。 該探頭具有良好的寬頻帶特性 ， 高壓電常數(shù) ，密度小 ， 特性阻抗小 ， 加工性好 ， 性能穩(wěn)定 。 探頭的主要指標除頻率外 ， 還有檢測靈敏度和分辨力 ， 檢測靈敏度是指探頭與探傷儀配合起來 ， 在最大深度上發(fā)現(xiàn)最小缺陷的能力 、 它與探頭的換能特性有關(guān) ， 輻射效率高 、 接收靈敏度高的探頭的檢測靈敏度高 。 檢測分辨能力可分為橫向分辨率和縱向分辨率 ， 縱向分辨力是指聲波傳播方向?qū)蓚€相鄰缺陷的分辨能力 。 橫向分辨力是指傳播方向上對兩個并排缺陷的分辨能力 ， 探傷用聲束愈窄 、 頻率愈高 、 則橫向分辨力愈高 。 要探出以任何形式及任何位置上的缺陷 ， 要求探頭的聲場能夠以同樣的靈敏度覆蓋試件的最大范圍 。 高強度細聲束的探頭能探出小缺陷 ， 但是探傷的范圍非常小 ， 同時能探出的缺陷也只限于其反射面接近垂直于聲束中心軸上的缺陷 ， 用這種探頭必須用比較小的掃查間隔 。 很明顯 ， 只有犧牲檢查速度才能提高檢測靈敏度 。 直徑小于 5mm時 ， 靈敏度顯著下降 ， 這是因為近場區(qū)底波高度與換能器面積成正比 ， 而遠場區(qū)與換能器面積的平方成正比 。 選擇探頭時 ， 應(yīng)考慮不同的探傷對象 。 厚壁大件選擇頻率低 、 直徑 20mm探頭 。 大衰減材料選用頻率低 、 脈沖窄 、 直徑 20mm探頭 。 超聲波束軸線要盡可能與缺陷主要擴展方向正交，用斜角探傷時、要選擇合適的折射角。 例如，近表面缺陷，可選用分割式探頭。 為了不漏檢，散亂的缺陷要選用較低的頻率。 對微小缺陷，一般采用高頻探頭。 對橫波斜探頭來說 ， 為了使工件中的折射角度范圍能覆
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1