鍛件與鑄件超聲檢測(cè)-在線瀏覽
2025-06-19 06:00本頁(yè)面
【正文】 參見(jiàn)６ .４ .１節(jié)４ .５ .試塊選擇 根據(jù)探頭和檢測(cè)面的情況選擇試塊。 曲面檢測(cè)面 ：采用 CSⅢ 標(biāo)準(zhǔn)試塊測(cè)定因曲率不同引起的耦合損失。2. 檢測(cè)靈敏度的調(diào)節(jié) 掃查靈敏度不低于最大檢測(cè)距離處的 Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑。 1）計(jì)算： a. 大平底或?qū)嵭膱A柱體底面，同距離 處底波與平底孔回波的分貝差為： b. 空心圓柱體，同距離處圓柱曲 底面與平底孔回波分貝差為： 2） 基準(zhǔn)靈敏度 的調(diào)節(jié)：探頭對(duì)準(zhǔn)完好區(qū)的底面，調(diào) “增益 ”使底 波 B1達(dá)到基準(zhǔn)高，然后用 “衰減器 ”增益 ΔdB。（ 2） 試塊調(diào)試法1）單直探頭檢測(cè) 當(dāng)鍛件的厚度 x＜ 3N或由于幾何形狀所限或底面粗糙時(shí)，根據(jù)檢測(cè)要求選擇相應(yīng)的平底孔試塊（ CSⅠ 、 CSⅡ ）調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度。n 注意 ：當(dāng)試塊表面形狀、粗糙度與鍛件不同時(shí)，需進(jìn)行耦合補(bǔ)償。2）雙晶直探頭檢測(cè) 根據(jù)檢測(cè)要求選擇相應(yīng)的平底孔試塊（ CSⅡ ），測(cè)試一組距離不同直徑相同的平底孔距離 —— 波幅曲線，作為檢測(cè)靈敏度。 a. 當(dāng)量計(jì)算法 、當(dāng)量 AVG曲線法：缺陷位于 x≥3N區(qū)域內(nèi)； b. 試塊比較法 ：缺陷位于 x＜ 3N區(qū)域內(nèi)。 a. 6dB法 ：掃查過(guò)程中缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)情況； b. 端點(diǎn) 6dB法 ：掃查過(guò)程中缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)情況。n 圓柱體工件的周向檢測(cè)： 外圓周向測(cè)長(zhǎng)時(shí)，缺陷的 指示長(zhǎng)度 Lf為： 內(nèi)孔周向測(cè)長(zhǎng)時(shí)，缺陷的 指示長(zhǎng)度 Lf為：（ 3） 底波高度法 ： 確定缺陷的相對(duì)大小。n 缺陷的位置和大小測(cè)定 ：當(dāng)缺陷較小時(shí)，用當(dāng)量法定量，當(dāng)缺陷較大時(shí)，用 6dB法測(cè)定其邊界與面積范圍。在邊長(zhǎng)為 50mm的立方體內(nèi)少于 5個(gè)，回波高不小于 Φ2mm的缺陷。n 分散缺陷類型 ：分散性的夾雜。n 密集缺陷劃分 ： a. 以缺陷的間距劃分：規(guī)定相鄰缺陷間的間距小于某一值。 c. 以單位面積中的缺陷回波劃分：規(guī)定在一定檢測(cè)面積內(nèi)缺
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1