超聲檢測(cè)方法分類(lèi)與特點(diǎn)-在線(xiàn)瀏覽
2025-06-19 03:34本頁(yè)面
【正文】 寬角度縱波斜探頭（通常） TOFD檢測(cè)設(shè)備舉例 TOFD檢測(cè) 顯示示例 A掃描顯示 TOFD圖像 物理基礎(chǔ)－衍射 缺陷上的每一點(diǎn)形成新的子波源稱(chēng)為衍射 入射波 衍射（續(xù)） 缺陷 衍射波 衍射波 入射波 反射波 特點(diǎn)： 全方位 低能量 發(fā)射探頭 接收探頭 直通波 直通波 上端點(diǎn) 下端點(diǎn) 底面反射波 底面反射波 埋藏缺陷的檢測(cè)原理 掃查面開(kāi)口缺陷的檢測(cè)原理 發(fā)射探頭 接收探頭 缺陷下尖端 底面反射波 底面反射波 直通波中斷 無(wú)直通波 底面開(kāi)口缺陷的檢測(cè)原理 發(fā)射探頭 接收探頭 直通波 直通波 缺陷上尖端 底面反射波中斷 無(wú)底面反射波 層間缺陷的檢測(cè)原理 發(fā)射探頭 接收探頭 直通波 直通波 底面發(fā)射波 底面發(fā)射波 反射波 反射信號(hào) TOFD檢測(cè)圖像 —— 灰度圖 白 + 黑 幅度 時(shí)間 時(shí)間 將每一個(gè) A掃描信號(hào)轉(zhuǎn)化為灰度線(xiàn)， 沿探頭的運(yùn)動(dòng)方向拼接成二維灰度圖 TOFD掃查方式 非平行 掃查 平行 掃查 偏置非平行 掃查 發(fā)射探頭 接收探頭 探頭架 移動(dòng)方向 X Y+ Y－ 焊縫 發(fā)射探頭 接收探頭 探頭架 移動(dòng)方向 X Y+ Y－ 焊縫 發(fā)射探頭 接收探頭 探頭架 移動(dòng)方向 X Y+ Y－ 焊縫 表面開(kāi)口裂紋 2 1 12 X形坡口 根部未焊透 12341 2 3 4 V形坡口 根部未焊透 根部未焊透 1231 2 3 密集 氣孔 1231 2 橫向裂紋 1 2 3 4 1231 2 3 根部未焊滿(mǎn) 1231 2 3 層間未熔合 123 根部未熔合 TOFD technique Lack of root fusion defect 根部凹陷 TOFD technique Root Concavity defect 根部過(guò)厚 TOFD technique Over peration defect TOFD優(yōu)點(diǎn) 與脈沖反射法超聲檢測(cè)和射線(xiàn)檢測(cè)相比，TOFD的主要優(yōu)點(diǎn)在于： （ 1）能探測(cè)不利取向的缺陷，缺陷檢出率高； （ 2）超聲波束覆蓋區(qū)域大； （ 3）缺陷高度測(cè)量精確； （ 4）實(shí)時(shí)成像，快速分析； （ 5）非基于波幅，波幅影響??； （ 6）快速、安全、方便。 穿透法 ?穿透法是采用一發(fā)一收雙探頭分別放置在試件相對(duì)的兩端面，依據(jù)脈沖波或連續(xù)波穿透試件之后的能量變化來(lái)檢測(cè)試件缺陷的方法 圖 55 ?穿透法常采用兩個(gè)探頭，一個(gè)作發(fā)射用，一個(gè)作接收用，分別放置在試件的兩側(cè)進(jìn)行探測(cè)，圖 5－ 5a)為無(wú)缺陷時(shí)的波形，圖 5－ 5b)為有缺陷時(shí)的波形。常用于試件測(cè)厚。 ?共振法測(cè)厚的原理見(jiàn) ，目前已很少使用共振法測(cè)厚。 2022/5/30 39 A型顯示 ? 如 ， A型顯示是一種波形顯示，是將超聲信號(hào)的幅度與傳播時(shí)間的關(guān)系以直角坐標(biāo)的形式顯示出來(lái)，橫坐標(biāo)代表聲波的傳播時(shí)間，縱坐標(biāo)代表信號(hào)幅度。 ? 此時(shí)，示波管的電子束是振幅調(diào)制的。 ? 脈沖反射法的 A型顯示超聲檢測(cè)是目前用的最多的一種方法，目前特種設(shè)備行業(yè)常用的 JB/T －2022標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的就是 A型脈沖反射法超聲檢測(cè)，采用該方法時(shí)，檢測(cè)結(jié)果受檢測(cè)人員的素質(zhì)、經(jīng)驗(yàn)等人為因素影響較大。由于聲波可以穿透很多不透光的物體，故利用聲波可以獲得這些物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)聲學(xué)特性的信息，超聲成像技術(shù)將這些信息變成人眼可見(jiàn)的圖像，即可以獲得不透光物體內(nèi)部聲學(xué)特性分布的圖像。一般而言，超聲成像方法是基于 A型顯示形成的工件不同截面的圖像顯示，大都具有自動(dòng)數(shù)據(jù)采集、自動(dòng)數(shù)據(jù)處理和自動(dòng)作出評(píng)價(jià)的功能。而對(duì)應(yīng)的， A型顯示又可稱(chēng)為 A掃描顯示。其中的 B掃描廣泛用于醫(yī)療診斷，俗稱(chēng) B超。 2. P掃 描成像 3. ALOK超聲成像 4 相控 陣 和 S掃 描成像 按波型分類(lèi)的超聲檢測(cè)
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1