電子元器件檢驗規(guī)范標準書模板-在線瀏覽
2025-05-25 21:50本頁面
【正文】 料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受； 目檢10倍以上的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。二極管類型檢 測 方 法LED 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測量不發(fā)光；否則該二極 管不合格。其它二極管 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，讀數(shù)需小于1，而反向測量讀數(shù)需無窮大；否則該二極管不合格。備注 抽樣計劃說明：對于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣計劃時來料數(shù)量以盤為單位，樣本數(shù)也以盤為單位；從抽檢的每 盤中取3~5pcs元件進行檢測；AQL不變。（四） 插件用電解電容.1. 目的作為IQC人員檢驗插件用電解電容類物料之依據(jù)。3. 抽樣計劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。主要缺點(MA): 。檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. 極性等標記符號印刷不清，難以辨認不可接受；b. 電解電容之熱縮套管破損、脫落，不可接受；c. 本體變形，破損等不可接受；，均不可接受。(將PIN沾上現(xiàn)使 用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實際操作每LOT取5~10PCS在 小錫爐上驗 證上錫性尺寸規(guī)格檢驗MA a. 外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受。用數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測試儀量測（五） 晶體類檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗晶體類物料之依據(jù)。3. 抽樣計劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。主要缺點(MA): 。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗證上錫性電性檢驗MAa. 晶體不能起振不可接受；b. 測量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。 在正常開機后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計測量晶體，看 測量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開機或測量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。（六） 三極管檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗三極管類物料之依據(jù)。3. 抽樣計劃依MILSTD105E，LE
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