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【正文】 據(jù)線設(shè)計規(guī)范頁 數(shù)18/18文件編號WIEG024版本A/0修訂履歷版本修訂內(nèi)容日 期修/制訂者審 核批 準A/0新制訂20151021 ：本設(shè)計規(guī)范適用于鵬毅公司TypeC數(shù)據(jù)線規(guī)格書。：序號No.文件編號Doc No.文件名稱 Doc Title1GJB1217電連接器試驗方法2MILSTD202GTest method standard electronic and electrical ponent parts3GB/T 3048電線電纜電性能試驗方法4GB4098射頻電纜試驗方法5EIA364101Attenuation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems6EIA364106Standing Wave Ratio (SWR) Test Procedure for Electrical Connectors7EIA364108Impedance, Reflection Coefficient, Return Loss, and VSWR Measured in the Time and Frequency Domain Test Procedure for Electrical Connectors, Cable Assemblies or Interconnection Systems8工作電容試驗電橋法9EIA364103Propagation Delay Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems10IEC 6821基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：寒冷11GB/T 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法12IEC 6822基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：干熱13GB/T 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法14IEC 68210電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導(dǎo)則：長霉0020的15GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導(dǎo)則：長霉16ASTM G 21Standard Practice for Determining Resistance of Synthetic Polymeric Materials to Fungi17IEC 615871Mechanical structures for electronic equipment―Tests for IEC 60917 and IEC 60297―Part 1 Climatic mechanical tests and safety aspects for cabinets racks subracks and chassis18GR 487Generic Requirements for Electronic Equipment Cabinets19IEC 68230基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db及導(dǎo)則：交變濕熱（12＋12h循環(huán)）20GB/T 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db：交變濕熱試驗方法21I
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