20xx特種設(shè)備無損檢測rtⅲ級(jí)人員試卷-在線瀏覽
2025-01-17 00:56本頁面
【正文】 在處理過程中被污染。
（ ） 20．按JB/T －2020標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，鋁制承壓設(shè)備熔化焊焊接接頭中只要存在夾銅缺陷，該焊接接頭必須評(píng)為Ⅳ級(jí)。1
A、與其他透照方式相比較，采用單壁透照靈敏度最高。
C、與其他透照方式相比較，采用單壁透照能減少由于高電壓所造成的底片對(duì)比度下降。
2．按JB/T －2020標(biāo)準(zhǔn)，下面哪些規(guī)定未涉及到檢測的技術(shù)等級(jí)（ B ） A、采用X射線透照小徑管或其他截面變化大的工件時(shí)，允許降低底片黑度值的規(guī)定。
C、采用多膠片技術(shù)，雙片疊加觀察的規(guī)定。
3．按JB/T －2020標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，在下列敘述中哪一條與公稱厚度有關(guān)（ C ） A、關(guān)于曝光量的規(guī)定。
C、X射線照相時(shí)，允許最高管電壓的規(guī)定。
4．JB/T －2020標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定：采用其他透照方式，經(jīng)合同各方同意，A級(jí)、AB級(jí)技術(shù)的Ir192源的最小透照厚度可降至10mm，Se75源的最小透照厚度可降至5mm，這一規(guī)定的主要目的是（ A ） A、現(xiàn)場大批量管子環(huán)焊縫透照，用γ射線機(jī)代替X射線機(jī)，從而大大降低現(xiàn)場工作難度。
C、可最大限度的減少散亂射線對(duì)底片的影像。
5．在下列敘述中，與JB/T －2020標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定相符合的是（ D ） A、γ射線照相，必須選用T2類以上膠片。
C、透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí)，；。
6．下面是對(duì)JB/T －2020標(biāo)準(zhǔn)選用像質(zhì)計(jì)規(guī)定的理解，不正確的是（ A ） A、對(duì)小徑管透照時(shí)，必須選用專用像質(zhì)計(jì)。
C、應(yīng)根據(jù)不同的檢測技術(shù)級(jí)別，選用不同型號(hào)的像質(zhì)計(jì)。
7．按JB/T －2020標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，觀片燈的亮度至少應(yīng)不低于（ A ）。
A、規(guī)定小徑管透照次數(shù)的主要目的是便于發(fā)現(xiàn)根部缺陷 B、規(guī)定小徑管透照次數(shù)的主要目的是盡量增加可檢出范圍 C、規(guī)定小徑管透照次數(shù)的主要目的是限制透照厚度比 D、以上均對(duì) 9．按JB/T －2020標(biāo)準(zhǔn)B級(jí)檢測技術(shù)的規(guī)定，采用源在外雙壁單影方式100%透照Φ42615mm的管子環(huán)向?qū)咏宇^時(shí)，如果焦距為500mm，按標(biāo)準(zhǔn)附錄D的圖確定的最少透照次數(shù)為（ C ）。
A、制作像質(zhì)計(jì)的材料必須與被檢工件的材料相同或相近 B、非鋼鐵金屬材料射線照相可以使用鐵像質(zhì)計(jì) C、低原子序數(shù)材料制作的像質(zhì)計(jì)可用于高原子序數(shù)材料工件的照相 D、一般情況下像質(zhì)計(jì)所用的材料與被檢工件的材料無關(guān) 三、多項(xiàng)選擇題（將所有認(rèn)為正確答案的序號(hào)填在括號(hào)內(nèi)，每題3分，共15分。
B、與焊接接頭的類別有關(guān)。
D、對(duì)環(huán)向焊接接頭，則與工件的直徑有關(guān)。
A、要求檢測方嚴(yán)格執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)條文的措施 B、企業(yè)（制造、安裝或?qū)I(yè)公司）在質(zhì)量控制方面要有相應(yīng)的程序和手續(xù) C、檢測單位應(yīng)承擔(dān)相關(guān)的責(zé)任 D、使用方（甲方）應(yīng)與檢測方的技術(shù)負(fù)責(zé)人達(dá)成一致意見 3．按JB/T －2020標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，與確定底片像質(zhì)計(jì)靈敏度無關(guān)的因素是 （ B C ）。
A、高能X射線的透照厚度范圍與檢測的技術(shù)級(jí)別有關(guān) B、對(duì)不同能量的高能X射線規(guī)定了不同透照厚度的下限值 C、當(dāng)采用大于12MeV的高能X射
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