應(yīng)變測(cè)量實(shí)驗(yàn)報(bào)告-展示頁
2024-11-07 22:01本頁面
【正文】 試的儀器，簡(jiǎn)稱光彈儀。但是需要貼光柵，并且進(jìn)行條紋處理，過程較為繁瑣。優(yōu)缺點(diǎn)不僅克服了通常的全息干涉法不能直接獲取面內(nèi)位移場(chǎng)的困難，比較云紋法、散斑照相法更具有靈敏度，而且其量程也不像散斑干涉那樣受到極嚴(yán)格的限制。在斷裂力學(xué)中的應(yīng)用為裂尖位移場(chǎng)/應(yīng)變場(chǎng)的測(cè)量，塑性區(qū)的確定，斷裂力學(xué)理論的驗(yàn)證等方面。當(dāng)試件受載變形時(shí)刻制在試件表面的試件柵也隨之變形，變形后的試件柵與作為基準(zhǔn)的空間虛柵相互作用形成云紋圖。目前云紋干涉的理論與方法研究已經(jīng)基本完善，并在材料科學(xué)、無損檢測(cè)、斷裂力學(xué)、細(xì)觀力學(xué)、微電子封裝等許多領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。戴福隆利用波前理論科學(xué)解釋了云紋干涉法原理，進(jìn)一步完善了云紋干涉理論。分辨率云紋法測(cè)平面位移的分辨率為（參考柵的）一個(gè)柵距。它測(cè)量時(shí)所使用的設(shè)備簡(jiǎn)單，應(yīng)用范圍廣?？梢詰?yīng)用于靜荷與動(dòng)荷，包括測(cè)定瞬時(shí)沖擊或長(zhǎng)期蠕變等，可以用于測(cè)定較大量程的變形——彈性、塑性直至破壞的大變形，還可以用于測(cè)定裂紋附近的彈塑性變形場(chǎng)，板、殼，以及二維和三維穩(wěn)定等問題。用它來測(cè)量構(gòu)件的位移和應(yīng)變有很多優(yōu)點(diǎn)。由于人眼的分辯率或低通濾波性，白條紋中的黑線干擾被忽略了。云紋中的亮條紋是由兩個(gè)光柵的白線相交形成的（源于互不遮擋）。通過分析云紋圖案和條紋間距，可以測(cè)量物體的面內(nèi)變形和應(yīng)變以及三維形貌，這種方法成為云紋法。其主要的方法有：? 云紋及云紋干涉法 ? 光彈性法? 散斑干涉及剪切散斑干涉法 ? 數(shù)字圖象相關(guān)法? 全息/數(shù)字全息干涉法 ? 其它而光測(cè)力學(xué)的主要特點(diǎn)有以下幾點(diǎn)： ? 全場(chǎng)性 ? 非接觸性? 高精度、高分辨率? 以（數(shù)字）圖像，特別是條紋圖像為信息載體 ? 操作和信息的提取較為復(fù)雜一、幾何云紋法基本原理云紋源自法語，意思是從中國(guó)傳入的絲綢的“耀眼的光澤”或“波形圖案”。第二篇：光測(cè)應(yīng)變測(cè)量應(yīng)變測(cè)量是材料和結(jié)構(gòu)力學(xué)性能試驗(yàn)中的一項(xiàng)基本任務(wù)，是了解材料在力學(xué)載荷等因素作用下的變形、損傷和失效行為的基礎(chǔ)，對(duì)于確定結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)許用值、結(jié)構(gòu)壽命預(yù)測(cè)和評(píng)估等均有重要價(jià)值。五、實(shí)驗(yàn)結(jié)果實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖5所示：六、思考題，1/4橋接法應(yīng)用于一個(gè)應(yīng)變片，前者的橋盒上多接了一根兩個(gè)應(yīng)變片的共用線，少了一個(gè)短接插片。設(shè)置好參數(shù)，點(diǎn)擊“開始示波”，此時(shí)波形為一條直線，說明連接正常，再用手撥動(dòng)金屬長(zhǎng)片伸出桌面的那一端使它振動(dòng)，這時(shí)波形如圖5，操作界面如圖5所示；，保存數(shù)據(jù)。把橋盒連接到試驗(yàn)儀上，試驗(yàn)儀已與電腦連接。第一篇：應(yīng)變測(cè)量實(shí)驗(yàn)報(bào)告一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康膶W(xué)習(xí)應(yīng)變片粘貼、使用的基本方法學(xué)習(xí)電橋的聯(lián)線方法及電橋的測(cè)量原理和特點(diǎn)學(xué)習(xí)使用WS3811應(yīng)變儀測(cè)量應(yīng)變的基本方法二、實(shí)驗(yàn)原理利用惠斯登電橋原理進(jìn)行測(cè)量三、實(shí)驗(yàn)儀器微型計(jì)算機(jī)、WS3811數(shù)字式應(yīng)變儀、橋盒、應(yīng)變片及其附件四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容；，使測(cè)點(diǎn)表面平整、光潔，并做清潔處理；，盡量使應(yīng)變片與被測(cè)物緊密貼合，如圖1所示： ，使它自然干燥； ；，進(jìn)行測(cè)試和設(shè)置：應(yīng)變量程設(shè)置為177。40000με，濾波頻率 設(shè)置為20Hz，界面如圖3；，選擇“自動(dòng)校準(zhǔn)”，設(shè)置界面如圖4所示；。把被測(cè)金屬長(zhǎng) 片的一端用手按在桌沿，使它伸出桌面。實(shí)驗(yàn)完成。，而校準(zhǔn)的目的是使測(cè)試值更加精確，減少儀器的誤差。其中光測(cè)力學(xué)是由光學(xué)和力學(xué)的交叉、結(jié)合而形成的一門實(shí)驗(yàn)科學(xué)，它采用現(xiàn)代光學(xué)測(cè)量技術(shù)和數(shù)字圖象處理技術(shù)對(duì)力學(xué)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。在實(shí)驗(yàn)力學(xué)中，它指的是兩個(gè)空間頻率相差不大的振幅型光柵疊加在一起時(shí)所產(chǎn)生的明暗交錯(cuò)的條紋圖案。，云紋實(shí)際上是兩個(gè)光柵間的互相遮擋與透過現(xiàn)象。而暗條紋是由兩個(gè)光柵的白線與黑線相交形成的（源于互相遮擋）。 云紋示意圖適用范圍云紋法是可以測(cè)定位移場(chǎng)及應(yīng)變場(chǎng)的實(shí)驗(yàn)應(yīng)力分析方法?？捎糜诟鞣N材料，包括常用工程材料以及有特殊性能的材料，如低彈性模量的、各向異性的、復(fù)合或聚合材料等。優(yōu)缺點(diǎn)用于測(cè)量構(gòu)件的位移和應(yīng)變有很多優(yōu)點(diǎn)。云紋法的不足之處是在測(cè)量彈性范圍的微小應(yīng)變時(shí)，還缺乏足夠的靈敏度與準(zhǔn)確度，但是近年來在這方面已有不少進(jìn)展。一般為101000 微米二、云紋干涉法基本原理云紋干涉是近20年來產(chǎn)生的現(xiàn)代光測(cè)力學(xué)中的一部分。云紋干涉具有高靈敏度、大量程、極好的條紋質(zhì)量、非接觸、實(shí)時(shí)全場(chǎng)觀測(cè)等優(yōu)點(diǎn)，從其誕生之日起就受到高度重視。，并概括為：云紋干涉發(fā)的本質(zhì)在于從試件柵衍射出的翹曲波前相互干涉，產(chǎn)生代表位移等值線的干涉條紋。適用范圍云紋干涉法可以測(cè)定全場(chǎng)面內(nèi)位移。在電子器件熱，機(jī)械可靠性評(píng)價(jià)方面的應(yīng)用包括：焊球熱變形及疲勞壽命的確定，塑料封裝材料吸濕膨脹系數(shù)的測(cè)量等。此外，這一方法還可以對(duì)面內(nèi)位移進(jìn)行全場(chǎng)實(shí)時(shí)觀測(cè)，這也是其他光學(xué)干涉方法是難以實(shí)現(xiàn)的。分辨率測(cè)試分辨率都決定于光柵的空間頻率（兩入射光干涉形成的干涉條紋的空間頻率是物理光柵空間頻率的2 倍?。?，可以達(dá)到波長(zhǎng)量級(jí) 幾何云紋法與云紋干涉法的異同? 條紋形成機(jī)制不同，幾何光學(xué)干涉與物理光學(xué)干涉； ? 測(cè)試分辨率相差很大；? 測(cè)試分辨率都決定于光柵的空間頻率；? 云紋干涉法的條紋成因可借助云紋法的條紋成因理解（交叉入射光的干涉條紋可視為參考柵，但注意其頻率問題）；? 變形的正負(fù)都可用相同方法判斷（轉(zhuǎn)動(dòng)參考柵）； ? 條紋處理方法相
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