【正文】 1 x 0 1 x x 0 1 x 定義： d=1 0 =0 1 ???? dd電子科大 CAT室 基本數(shù)學(xué)關(guān)系 利用 Roth交運(yùn)算，可以方便求出各門電路的傳遞 d矢量： 或門： 1 2 3 簡(jiǎn)化表 傳遞 d矢量 1 2 3 1 2 3 ———— ————— 1 x 1 1 1 1 無 d傳遞，不能敏化 x 1 1 d 0 d 能敏化，賦 0 0 0 0 0 d d 能敏化，賦 0 同樣可得其它門電路的傳遞 d矢量 1 2 3 1 2 3 1 2 3 ———— ———— ———— d 0 d 1 d d 1 0 d 1 d d 1 d 1 2 3 1 2 3 1 2 3 可見，用計(jì)算方法確定了各通路上 各種門電路的賦值條件及敏化的故 障傳播關(guān)系 d d?電子科大 CAT室 3. 故障初始 d 矢量 概念： 為了在故障點(diǎn)得到一個(gè) d矢量而應(yīng)加的測(cè)試矢量，就稱為初始 d矢量，即為 故障表現(xiàn) 。也就是說迫使門電路的輸出唯一地取決于一個(gè)輸入。 例：一或門 質(zhì)蘊(yùn)涵項(xiàng) 真值表 簡(jiǎn)化表 x1 x2 y 1 2 3 __________ __________ 0 0 0 1 x 1 0 1 1 x 1 1 1 0 1 0 0 0 1 1 1 x1 x2 1 2 3 y 21021112212121211)()(xxyXxXxxxxxxxxxxxxy??????????電子科大 CAT室 基本數(shù)學(xué)關(guān)系 可見： ? 簡(jiǎn)化表比真值表簡(jiǎn)單，且電路愈復(fù)雜，簡(jiǎn)化愈多； ? 簡(jiǎn)化表中每一行稱為一個(gè)矢量，表示電路的輸入 /輸出的因果關(guān)系； 用同樣方法可以求出其它基本電路的簡(jiǎn)化表： 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3 1 2 3 ————— ————— ———— 1 x 0 0 x 0 0 x 1 x 1 0 x 0 0 x 0 1 0 0 1 1 1 1 1 1 0 電子科大 CAT室 基本數(shù)學(xué)關(guān)系 組合電路簡(jiǎn)化表： 方法： 是簡(jiǎn)單門電路簡(jiǎn)化表的簡(jiǎn)單疊加。 ? 改進(jìn)的算法，如 PODEM和 FAN算法，有效地減小了返回次數(shù)，提高了效率。而且一直沿用至今。它是完備的測(cè)試算法，它可以檢測(cè)非冗余電路中所有可以檢測(cè)的故障。用人工的方法是十分困難的，甚至是不可能的，必須借助于計(jì)算機(jī)進(jìn)行測(cè)試，即利用算法進(jìn)行 計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試（ CAT） ：組合電路測(cè)試算法有： *d 算法 *擴(kuò)展 d 算法 *布爾差分法 *等效笵式法 ENF *SPOOF法 等等。 上例：同時(shí)對(duì) L6L9L12 及 L6L10L12 兩 條通路進(jìn)行敏化， 故障表現(xiàn)： 6sa0( )x2=0， x3=0； 敏化條件： L11=0，因 x3=0，所以 L7=1x2=0， x4=0； L8=0， 因 x2=0，所以 L5=1x1=0， x3=0； 多維敏化成功！ 測(cè)試： T={（ 0000）； 1} 無故障測(cè)試； T={（ 0000）； 0} 6sa0故障測(cè)試； x1 x2 x3 x4 x 6 10 9 11 8 7 0 0 0 D 12 D 5 DD電子科大 CAT室 討論 結(jié)論： 通路敏化是數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試的基礎(chǔ)，但一維敏化不是一種算法， 而多維敏化 才 是一種算法。 x1 x2 x3 x4 a b c 0 0 x 0 0 0 567x85678D電子科大 CAT室 討論 例 2： 有扇出匯聚電路 故障： hsa0 ( =1) 敏化通路（一維）： h j l x1=a=1 g=0 x2=b=1 c=0 h= =1 d=0 h j l 敏化不成功??！ 敏化通路（一維）： h k m 敏化成功！ 結(jié)論： 對(duì)有扇出匯聚電路，一維敏化可能成功，也可能不成功！ x1 x2 x3 x4 a b c d e f g h j k l m y1 y2 x 1 1 0 0 0 0 0 0 矛盾 DD DD電子科大 CAT室 討論 例 3 ： Schneider電路 故障表現(xiàn)： 6sa0 敏化通路（一維）： L6L9L12 敏化條件： 由 6sa0， 有： x2=0 ,x3=0 。但一維敏化是不是一種算法呢？先看幾個(gè)例子： 例 1： 無扇出的樹形電路 故障： a = x3 = D 通路： a b c (一維敏化） 敏化： x4 = 1 x1 = 0 或 x2 = 0 = 0 或 =0 =0 或 =0 一致性檢查通過 測(cè)試： T={00D11111； D} 無故障測(cè)試 T={00D11111； } a,b,csa1 故障測(cè)試 結(jié)論： 由于無扇出電路輸入端是獨(dú)立的，賦值自由，不相互約束。 電子科大 CAT室 通路敏化法 自從 1966年 Armstrong提出一維通路敏化法以來，數(shù)字電路測(cè)試矢量自動(dòng)生成理論的研究課題經(jīng)歷了一個(gè)從雛型到成熟、從理論到應(yīng)用、從實(shí)用到完備的發(fā)展歷程。 在同一系統(tǒng)中應(yīng)統(tǒng)一 ； – 若 ，則 。 1} 無故障 T={(11x) 。 0} 無故障； T={(01x) 。 Schneidr用例子指出單通路敏化法并不能找出所有的故障。第 2章組合電路測(cè)試與故障診斷 什么叫算法？ 第 通路敏化 ? 基本概念 什么是敏化通路？ ? 敏化通路法的實(shí)施步驟及舉例 ? 關(guān)于一維敏化與多維敏化的討論 第 d 算法 ? d 算法的基本思想 ? d算法的數(shù)學(xué)工具 ? d算法的實(shí)施步驟及舉例 第 擴(kuò)展 d 算法 ? 擴(kuò)展 d 算法的數(shù)學(xué)工具 ? 擴(kuò)展 d 算法的實(shí)施步驟及舉例 第 布爾差分法 ?布爾差分的基本概念 ?布爾差分的特性 ?求解布爾差分的方法 ?故障測(cè)試 電子科大 CAT室 第 通路敏化 . 通路敏化的基本定義 1959年提出了第一篇關(guān)于組合電路的測(cè)試報(bào)告，開始 了數(shù)字系統(tǒng)故障診斷的研究。 Eldred的基本思想，在 1966年提出了一維通 路敏化的方法，其主要思路是對(duì)多級(jí)門電路尋找一條從故障點(diǎn)到可及輸出端的敏化通路，使在可及端可以觀察到故障信號(hào)。 Roth提出了多通路敏化法的 D算法 電子科大 CAT室 第 通路敏化 . 通路敏化的基本定義 算法的定義： 一個(gè)問題 無二義性 解的 過程（時(shí)間和空間） 是利用計(jì)算機(jī)解決一切問題的基礎(chǔ)！ ?主輸入端： 一條輸入線，若不受電路其它任何一條線饋給信號(hào)，這個(gè)輸入端就稱 之為主輸入端，也稱原始輸入端； ?主輸出端： 一條通到電路外部去的信號(hào)線稱為主輸出端，也稱原始輸出端； ?通路： 在組合電路中，從一個(gè)主輸入端經(jīng)內(nèi)部信號(hào)線通到主輸出端而不含有環(huán)路 （無反饋線）的通路（定向信流圖）； ?敏化通路： 對(duì)一條通路中所有門電路的一切輸入適當(dāng)賦值（與門賦“ 1”，或門賦“ 0” ) ，使該通路上的邏輯變化能沿該通路傳輸?shù)街鬏敵龆?，這樣的通路就稱 之為敏化通路； 電子科大 CAT室 第 通路敏化 . 通路敏化的基本定義 例： ? 主輸入端 ： x1,x2,x3 ? 主輸出端 ： y ? 通路 ： a f h , b d f h , b e g h , c g h ? 敏化通路 ：敏化 a f h 通路 – 賦值： d = 1 ， g = 0 – 敏化： a f h 通路上的邏輯變化都能傳輸?shù)街鬏敵龆? y（ 故障傳播或前相跟蹤 ） ? 賦值條件檢查 ：賦值條件能否在主輸入端實(shí)現(xiàn)（ 一致性檢查或后相跟蹤 ） 由 g = 0，必須 e = 1 或 c = 1 或二者均為 1 由 d = 1，必須 b = 1 即 e = 1 綜上： e = 1 即 x2 = 1 c = x (隨意） 利用敏化通路進(jìn)行 測(cè)試 可測(cè)試 a f h 通路上的故障 T={（ 01x) 。 1} a,f,hsa1 故障測(cè)試 T={（ 11x) 。 0} a,f,hsa0 故障測(cè)試 x1 x2 x3 a b c f g h d e 電子科大 CAT室 通路敏化法 ：利用敏化通路原理 ? 故障算子 D故障表示 – D 可為 “1”，也可為 “0”。 若 ，則 ； – D 故障賦值 為了測(cè)試，在故障點(diǎn)應(yīng)將 D 賦于故障相反值： 在 D = 0 的系統(tǒng)中 對(duì)于故障 sa0 則故障賦值 對(duì)于故障 sa1 則故障賦值 ? 為了故障傳播，引入 算子 或門： 或門賦值條件 與門： 與門賦值條件 1?D0? 1?D 0?D1?D0? ?D或?D 1110?????????DDDD000?????????DDDD電子科大 CAT室 通路敏化法 ? 故障表現(xiàn) 故障賦值 ? 故障傳播（通路敏化，前相跟蹤） 敏化條件 ? 一致性檢查（后相跟蹤） 敏化條件能否在主輸入端實(shí)現(xiàn) ? 測(cè)試確定 測(cè)試函數(shù)的尋求 ： 用通路敏化法求 1_s_a_1 的測(cè)試 （ 1）故障表現(xiàn) 系統(tǒng)定義： D = 0 對(duì)于 1_s_a_1 故障 ， 則 故障表現(xiàn)為 D ； 1_s_a_0 故障， 則 故障表現(xiàn)為 ；