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2025-02-25 23:04本頁(yè)面
【正文】 的模樣 時(shí)間 15 統(tǒng)計(jì)製程控制 (SPC) 基礎(chǔ)理論 原理四： 當(dāng)收集的數(shù)據(jù)愈來(lái)愈多的時(shí)侯，將會(huì)趨向於中心 正態(tài)分佈： 對(duì)稱 單峰鐘形曲線 平均值 =中位數(shù) =眾數(shù) 16 統(tǒng)計(jì)製程控制 (SPC) 基礎(chǔ)理論 中心極限定理 (Central Limit Theorem) 17 統(tǒng)計(jì)製程控制 (SPC) 基礎(chǔ)理論 原理五： 製程的分佈圖形是可以預(yù)見的 18 製程變異分析 尺寸 人 環(huán)境 方法 設(shè)備 材料 Cause Effect Diagram﹝ 因果圖 ﹞ 變異的來(lái)源 19 原理六： 由特殊變異原因引起的變異會(huì)引致正態(tài)分佈的變形 製程變異分析 20 隨機(jī)變異原因 (Chance Cause) 特殊變異原因 (Assignable Cause) 製程變異分析 21 隨機(jī)變異原因： ? 是造成變異的一個(gè)原因，他影響被研究的製程輸出的所有單位值；但不能完全消除。在管制圖分析中，他表現(xiàn)為隨機(jī)製程變異的一部份 。 製程變異分析 22 製程變異分析 23 製程控制 24 X R UCL LCL CL UCL LCL CL 製程控制 控制圖 25 控制圖的種類和選擇 數(shù)據(jù) 計(jì)量值 計(jì)數(shù)值 缺點(diǎn) 不良品 c控制圖 u控制圖 p控制圖 np控制圖 XR 控制圖 Xs 控制圖 XR 控制圖 固定的 樣本數(shù) 可變的 樣本數(shù) 可變的 樣本數(shù) 固定的 樣本數(shù) 樣本數(shù) 2 n 7 樣本數(shù) n 6 個(gè)別值 26 控制圖的用途 控制圖 用途 代表 xR 及 xs ? 用作樣本數(shù)平均值轉(zhuǎn)變的製圖 ? 全距和標(biāo)準(zhǔn)差控制圖是控制數(shù)據(jù)的 散佈程度 樣本數(shù)的平均值 xR ? 用作個(gè)別樣據(jù)轉(zhuǎn)變的製圖 ? 全距控制圖是控制數(shù)據(jù)的散佈程度 個(gè)別數(shù)據(jù)的平均值 p ? 用作每一樣本組不良品比率的製圖 ? 樣本數(shù)可以改變 np ? 用作每一樣本組不良品數(shù)目的製圖 ? 樣本數(shù)是固定的 c ? 用作缺點(diǎn)數(shù)目的製圖，而每次查驗(yàn) 的面積是相同的 ? 樣本數(shù)是固定的 ? 用作單位缺點(diǎn)數(shù)目的製圖，而每次 查驗(yàn)的面積都可以改變的 ? 樣本數(shù)是可變的 u 缺點(diǎn)數(shù)目 每單位缺點(diǎn)數(shù)目 不良品數(shù)目 不良品的比率或 百分比 27 XR 控制圖作成步驟 選擇質(zhì)量特性 選取樣本組 (抽樣方法、 數(shù)目、次數(shù) ) 收集數(shù)據(jù) 設(shè)定全距之 控制界限 全距在統(tǒng)計(jì) 控制之內(nèi) 設(shè)定平均值 之控制界限 平均值在統(tǒng) 計(jì)控制之內(nèi) 以設(shè)定之控制 界限持續(xù)監(jiān)控 是 是 否 否 28 步驟一：選擇質(zhì)量特性 ? 選擇可量度的，具有代表製程質(zhì)量控制的特性 ? 選擇有代表性的質(zhì)量特性時(shí)，可以參考以下的指引： 優(yōu)先選取經(jīng)常出現(xiàn)次品的質(zhì)量特性；可以利用柏拉圖 分析法去決定優(yōu)先次序 識(shí)別工序的變異因素和對(duì)成品質(zhì)量的影響，繼而決定 應(yīng)用控制圖的生產(chǎn)工序。抽樣次數(shù)為何？ 根據(jù)附表，我們應(yīng)該每一班制抽取 50件。 在一個(gè) 8 小時(shí)的班制內(nèi)共有 480分鐘。 所以， 我們便要每 48分鐘抽取 5件樣本 。故理想做法為對(duì)控制界限作定期檢討。 在下列的情況重新計(jì)算控制界限 ? 使用新的工序 ? 使用新的機(jī)器 ? 使用新的物料 ? 現(xiàn)時(shí)的工序情況有改變 ? 機(jī)器操作的情況有改變 管制界限的更新 40 上控制界限 (UCLS) = B4 s 下控制界限 (LCLS) = B3 s Xs 管制圖界限的設(shè)定 樣本數(shù)目 A3 B3 2 3 4 7 8 6 5 9 10 0 0 0 0 B4 上控制界限 (UCLX) = x + A3 s 下控制界限 (LCLX) = x + A3 s 標(biāo)準(zhǔn)差： 平均值： 註： Xi 第 i個(gè)抽樣組的平均值 si 第 i個(gè)抽樣組的標(biāo)準(zhǔn)差 X 所有抽樣組平均值的平均值 s 所有樣本的平均標(biāo)準(zhǔn)差 k 樣本個(gè)數(shù) (組數(shù) ) k X = ?Xi k s = ?si 41 X R UCLX LCLX CL UCLR LCLR CL 上控制界限 (UCLX) = x + 下控制界限 (LCLX) = x 上控制界限 (UCLR) = 下控制界限 (LCLR) = 0 XR 管制圖界限的設(shè)定 42 選定使用何種『計(jì)數(shù)值』控制圖 決定樣本數(shù) (n) 樣本數(shù) (n)是 否一個(gè)常數(shù) 是不良品而 不是缺點(diǎn) 是不良品而 不是缺點(diǎn) 使用 u管制圖 使用 p管制圖 使用 c管制圖 使用 np管制圖 是
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